可侦测基板完整性的卡匣结构和侦测基板完整性的方法技术

本发明专利技术提供了一种可侦测基板完整性的卡匣结构和侦测基板完整性的方法。所述可侦测基板完整性的卡匣结构包括外框、支撑部件、侦测单元和信号处理单元，所述支撑部件间隔设置于所述外框上以限定用于承载基板的容置空间，所述侦测单元设置于至少部分支撑部件上并产生表示基板完整性的感应信号，所述信号处理单元与所述侦测单元连接并对所述感应信号进行处理，以实现对卡匣结构中基板的完整性的检测，可有效避免不完整的基板进入下一工序对生产效率和生产安全性造成威胁。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，特别涉及一种可侦测基板完整性的卡匣结构和侦测基板完整性的方法。
技术介绍
显示面板在生产过程中，由于工序复杂、步骤繁多，作为衬底的玻璃基板需要多次往返于各个相对独立的生产设备之间。实际生产中通常使用可承载多个基板的卡匣(Cassette)作为存储和搬送基板的承载装置。图1为现有技术中一种卡匣的结构示意图，图2为图1所示卡闸承载基板的主视图，如图1和图2所示，卡匣结构的外框10内部相对的两侧面上各设置有多个间隔排列的支撑部件11，这些支撑部件11按层排列以限定若干容置空间11’，从而容纳并支撑基板20。通常使用机械手对基板20进行取放操作，具体地，机械手可伸入支撑部件11之间的容置空间11’内以实现对基板20的取放操作。正常情况下，机械手运行至支撑部件11之间的预定位置，对基板20进行取放操作。但在实际生产过程中，可能存在机械手位置偏移等情况下，这样基板20就会撞击卡闸从而出现基板破裂的情况。或者，机械手在取拿基板之前，基板就已经由于运输或工艺过程中受到破坏性外力作用而发生基板破裂。当基板在卡闸中出现损坏，且工艺机台无法识别其是否破裂时，破裂基板进入工艺腔室后，将产生工艺风险如碎片，这将会耗费极大的时间、人力去清洁碎片，影响生产效率。然而，目前的卡闸并不能侦测其所承载的基板是否存在破裂(即是否完整)，因此亟需提供一种能够侦测基板完整性的卡匣结构以及侦测基板完整性的方法，以解决上述技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种卡匣和卡匣的检测方法，能有效的检测出基板是否完整，避免不完整的基板进入下一工序对生产效率和生产安全性造成威胁。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种可侦测基板完整性的卡匣结构，包括外框、支撑部件和侦测单元和信号处理单元，所述支撑部件间隔设置于所述外框上以限定用于承载基板的容置空间，所述侦测单元设置于至少部分支撑部件上并产生表示基板完整性的感应信号，所述信号处理单元与所述侦测单元连接并对所述感应信号进行处理，以实现对卡匣结构中基板的完整性的检测。可选的，在所述的卡匣结构中，所述侦测单元为压力侦测单元，所述压力侦测单元设置于所述支撑部件承载基板的表面上；当所述支撑部件上承载的基板完整时，所述支撑部件上的压力侦测单元所受压力值在预设数值范围内；当所述支撑部件上承载的基板不完整时，所述支撑部件上的压力侦测单元所受压力值超出预设数值范围。可选的，在所述的卡匣结构中，所述侦测单元为光学侦测单元，所述光学侦测单元包括光发射部件和光接收部件，所述光发射部件用于向所述光接收部件发射检测光线，同一光学侦测单元的光发射部件和光接收部件设置于相邻的两个支撑部件上并位于同一容置空间相对的两个侧面上；当所述支撑部件上承载的基板完整时，该基板对应的光发射部件发射的检测光线的光强与光接收部件接收到的检测光线的光强的差值小于等于一预定阈值；当所述支撑部件上承载的基板不完整时，该基板对应的光发射部件发射的检测光线的光强与光接收部件接收到的检测光线的光强的差值大于一预定阈值。可选的，在所述的卡匣结构中，，所述侦测单元包括压力侦测单元和光学侦测单元；所述压力侦测单元设置于所述支撑部件承载基板的表面上；当所述支撑部件上承载的基板完整时，所述支撑部件上的压力侦测单元所受压力值在预设数值范围内；当所述支撑部件上承载的基板不完整时，所述支撑部件上的压力侦测单元所受压力值超出预设数值范围；所述光学侦 测单元包括光发射部件和光接收部件，所述光发射部件用于向所述光接收部件发射检测光线，同一光学侦测单元的光发射部件和光接收部件设置于相邻的两个支撑部件上并位于同一容置空间相对的两个侧面上；当所述支撑部件上承载的基板完整时，该基板对应的光发射部件发射的检测光线的光强与光接收部件接收到的检测光线的光强的差值小于等于一预定阈值；当所述支撑部件上承载的基板不完整时，该基板对应的光发射部件发射的检测光线的光强与光接收部件接收到的检测光线的光强的差值大于一预定阈值。可选的，在所述的卡匣结构中，所述压力侦测单元为电磁继电器或压力传感器，每个所述支撑部件上均设置有若干个压力侦测单元。可选的，在所述的卡匣结构中，所述检测光线为红外线、激光或者紫外线，每个所述支撑部件上均设置有若干个光发射部件和若干个光接收部件。可选的，在所述的卡匣结构中，所述卡匣结构还包括显示单元和报警单元，所述显示单元和报警单元均与所述信号处理单元电性连接，所述显示单元用于显示基板的完整性信息，所述报警单元用于在所述基板不完整时报警。根据本专利技术的另一面，还提供一种侦测基板完整性的方法，包括：设置于支撑部件上的侦测单元产生表示基板完整性的感应信号；信号处理单元接收所述感应信号并对所述感应信号进行处理，以判断卡匣结构中基板的完整性。与现有技术相比，本专利技术通过在卡闸支撑单元上设置侦测元件，利用侦测元件判断卡闸内承载的基板是否完整无损，比如是否存在破片(破碎缺角)或裂纹的情况，通过处理模块对上述感应信号进行处理，从而实现对卡匣中的基板的完整性的检测，可有效避免不完整的基板进入下一工序对生产效率和生产安全性造成威胁。附图说明图1为现有技术中一种卡匣的结构示意图；图2为图1所示卡闸承载基板的主视图；图3为本专利技术实施例一提供的第一种卡匣结构的示意图；图4为图3所示卡闸承载基板的主视图；图5为本专利技术实施例一提供的第二种卡匣结构的示意图；图6为本专利技术实施例一提供的第三种卡匣结构的示意图；图7为本专利技术实施例一提供的第四种卡匣结构的示意图；图8为本专利技术实施例一提供的第五种卡匣结构的示意图；图9为本专利技术实施例一提供的第六种卡匣结构的示意图；图10为本专利技术实施例一提供的第七种卡匣结构的示意图；图11为本专利技术实施例一提供的第八种卡匣结构的示意图；图12为本专利技术实施例二提供的卡匣结构的示意图；图13为图12所示卡闸承载基板的主视图；图14为本专利技术实施例三提供的卡闸承载基板的主视图；图1～2中：10-外框；11-支撑部件；11’-容置空间；20-基板；图3～14中：101-上横杆；102-下横杆；103a-第一竖杆；103b-第二竖杆；104-挡杆；105-隔栅；106-轨道；106’-定位孔；110-支撑部件；110’-容置空间；120-压力侦测单元；130-光学侦测单元；131-光发射部件；132-光接收部件；200-基板。具体实施方式如
技术介绍
所述，现有技术中的卡闸并不能侦测其所承载的基板是否完整，而不完整的基板如果进入下一工序，对生产效率和生产安全性都会造成威胁。申请人长期研究发现，比较常见的基板不完整的情况包括破片(基板破碎缺角)以及基板出现裂纹等。在此基础上，申请人提供一种能够侦测基板完整性的卡匣结构以及侦测基板完整性方法，所述可侦测基板完整性的卡匣结构包括外框、支撑部件、侦测单元和信号处理单元，所述支撑部件间隔设置于所述外框上以限定若干个用于承载基板的容置空间，所述侦测单元设置于至少部分支撑部件上并产生表示基板完整性的感应信号，所述信号处理单元与所述侦测单元连接并对所述感应信号进行处理， 以实现对卡匣结构中基板的完整性的检测。本专利技术通过在卡闸支撑单元上设置侦测元件，利用侦测元件判断卡闸内承载的基板是否完整无损，比如是否存在破碎缺角或裂纹的情况，通过处理模块对上述感应信号进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可侦测基板完整性的卡匣结构，包括外框和支撑部件，所述支撑部件间隔设置于所述外框上以限定用于承载基板的容置空间，其特征在于，所述卡匣结构还包括侦测单元和信号处理单元，所述侦测单元设置于至少部分支撑部件上并产生表示基板完整性的感应信号，所述信号处理单元与所述侦测单元连接并对所述感应信号进行处理，以实现对卡匣结构中基板的完整性的检测。

【技术特征摘要】
1.一种可侦测基板完整性的卡匣结构，包括外框和支撑部件，所述支撑部件间隔设置于所述外框上以限定用于承载基板的容置空间，其特征在于，所述卡匣结构还包括侦测单元和信号处理单元，所述侦测单元设置于至少部分支撑部件上并产生表示基板完整性的感应信号，所述信号处理单元与所述侦测单元连接并对所述感应信号进行处理，以实现对卡匣结构中基板的完整性的检测。2.如权利要求1所述的卡匣结构，其特征在于，所述侦测单元为压力侦测单元，所述压力侦测单元设置于所述支撑部件承载基板的表面上；当所述支撑部件上承载的基板完整时，所述支撑部件上的压力侦测单元所受压力值在预设数值范围内；当所述支撑部件上承载的基板不完整时，所述支撑部件上的压力侦测单元所受压力值超出预设数值范围。3.如权利要求1所述的卡匣结构，其特征在于，所述侦测单元为光学侦测单元，所述光学侦测单元包括光发射部件和光接收部件，所述光发射部件用于向所述光接收部件发射检测光线，同一光学侦测单元的光发射部件和光接收部件设置于相邻的两个支撑部件上并位于同一容置空间相对的两个侧面上；当所述支撑部件上承载的基板完整时，该基板对应的光发射部件发射的检测光线的光强与光接收部件接收到的检测光线的光强的差值小于等于一预定阈值；当所述支撑部件上承载的基板不完整时，该基板对应的光发射部件发射的检测光线的光强与光接收部件接收到的检测光线的光强的差值大于一预定阈值。4.如权利要求1所述的卡匣结构，其特征在于，所述侦测单元包括压力侦测单元和光学侦测单元；所述压力侦测单元设置于所述支撑部件承载基板的表面上；当所述支撑部件上承载的基板完整时，所述支撑部件上的压力侦测单元所受压力值...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭朋利，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32