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自生自储油气层孔隙度测量方法技术

技术编号:13841256 阅读:49 留言:0更新日期:2016-10-16 11:47
本发明专利技术涉及一种自生自储油气层孔隙度测量方法,属于页岩储层勘探的技术领域。本发明专利技术所述的测量方法包括以下步骤:利用ΔlgR法确定有机碳含量TOC;根据有机碳含量TOC确定有机质体积Vk;利用XRD、TOC实测以及物性实验确定有机质测井响应特征;建立测井资料有机质校正方法,确定有机质校正后的测井曲线;采取多元回归方法或者中子‑密度的方法确定孔隙度。本发明专利技术以岩石物理实验为基础可以准确评估岩石中有机质的测井响应值,并通过岩石体积物理模型去除有机质对测井曲线的影响,确定了岩石有机质校正的普适性关系,因而本发明专利技术的测量方法具有良好的通用性,能够更全面的反映页岩层段岩石测井响应特征,具有精度高、通用性好的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及页岩储层勘探的
,更具体地说,本专利技术涉及一种自生自储油气层孔隙度测量方法
技术介绍
在现有技术中,油气储层孔隙度定量评价方法是根据威力(Wyllie)公式或者测井曲线多元拟合建立起来的。威力公式为: φ = Log m a - L o g Log m a - Log f - - - ( 1 ) ]]>式中,φ-孔隙度,小数;Logma、Logf-分别为岩石骨架声波、密度或中子值,地层流体声波、密度或中子值;单位分别为us/m,g/cm3,%;Log-目的层声波、密度或中子测井值,单位分别为us/m,g/cm3,%。多元拟合的方法是在选择2条或以上测井曲线作为变量建立一个多元方程,公式为:φ=a×Log1+b×Log2+...+n×Logn(2)式中,φ-孔隙度,小数;Log1、Log2、Logn-分别为岩石某测井值;a、b、c-系数,无量纲。在常规砂岩储层中,声波测井、密度测井、中子孔隙度测井(Log)主要反映地层孔隙度的变化,此时储层孔隙度可以利用上述两类公式精确计算出来。但是,在自生自储、有机质含量高的页岩储层中,有机质与孔隙对测井曲线的影响相同,测井曲线的异常是孔隙度与有机质共同作用的结果。受有机质的影响,通过常规的方法往往会过高计算地层真实的孔隙度,很难满足当前勘探开发的需求,因此准确的获得测井曲线孔隙度异常值,是解决页岩气储层孔隙度定量评价方法之一。有机质含量越高对孔隙度计算精度的影响越大,所以去除有机质的影响建立高精度模型显得尤为重要。目前,为建立精确的孔隙度模型是将有机质含量较多地方实测的孔隙度数据删除,或者根据有机质含量的不同进行分级,进而采用不同的拟合方法。尽管此方法可以在一定程度上满足实际研究的需求,但是并没有给出彻底解决有机质的影响的普适性方法,这样就不利于高精度孔隙度模型的建立。
技术实现思路
为了解决现有技术中的上述技术问题,本专利技术的目的在于提供一种自生自储油气层孔隙度测量方法。为了实现上述专利技术目的,本专利技术采用了以下技术方案:一种自生自储油气层孔隙度测量方法,其特征在于包括以下步骤:1)通过岩石热解实验测量镜质体反射率Ro,确定非烃源岩的位置,得到非烃源岩岩石的电阻率Rt基线和声波时差基线△t基线;2)利用△lgR方法确定岩石中有机碳含量TOC:ΔlgR=lg(Rt/Rt基线)+0.02×(Δt-Δt基线) (1) T O C = Δ lg R × 10 - 0.168 × R O + 2.297 - - - ( 2 ) ]]>式中Rt为岩石电阻率,Rt基线为非烃源岩泥岩段电阻率,△t为岩石声波时差值,△t基线为非烃源岩泥岩段声波时差值,Ro为镜质体反射率;3)根据式3,求出岩石中有机质的体积百分比,式3中:TOC,有机碳含量;ρb,地层的体积密度;ρk,有机质的密度;γ是转换因子,根据不同的成岩作用阶段、不同的干酪根类型取不同的值;4)选择两组XRD测试中矿物成分相同、孔隙度相等,但是TOC测试数据不同的岩芯数据;假定岩芯由有机质与非有机质两部分组成,假设岩芯中去除有机质后的测井值为lognk,体积为Vnk,有机质的测井值为logk,体积为Vk,那么存在有机质的测井值即为:log=logk×Vk+lognk×Vnk (4)其中:Vnk+Vk=1 (5)式中:log为岩石测井响应值,logk为有机质的测井响应特征值,lognk为非有机质的测井响应特征值;5)根据步骤4)可以得到有机质的测井响应特征值为: log k = l o g - log n k × V n k V k - - - ( 6 ) ]]>6)通过公式(6)确定有机质的测井响应特征值,再根据岩石体积物理模型对测井曲线进行校正: log c = l o g - log k × V k 1 - V k - - - ( 7 ) ]]>logc为校正后的测井曲线,其中Vk由公式(3)得到;7)利用有机质校正后的测井曲线采用多元回归或者中子-密度的方法建立页岩储层的孔隙度定量关系式: φ = Log m a - Log C Log m a - Log f - - - ( 8 ) ]]>φ=a×Δtc+b本文档来自技高网
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自生自储油气层孔隙度测量方法

【技术保护点】
一种自生自储油气层孔隙度测量方法,其特征在于:所述测量方法包括通过有机质含量对测井曲线进行校正的步骤。

【技术特征摘要】
1.一种自生自储油气层孔隙度测量方法,其特征在于:所述测量方法包括通过有机质含量对测井曲线进行校正的步骤。2.根据权利要求1所述的自生自储油气层孔隙度测量方法,其特征在于:所述测量方法包括以下步骤:根据有机碳含量TOC确定有机质体积Vk;利用XRD、TOC实测以及物性实验确定有机质测井响应特征;确定有机质校正后的测井曲线;采取多元回归方法或者中子-密度的方法确定孔隙度。3.根据权利要求2所述的自生自储油气层孔隙度测量方法,其特征在于:利用ΔlgR法确定有机碳含量TOC。4.根据权利要求2所述的自生自储油气层孔隙度测量方法,其特征在于:利用确定有机质体积Vk,式中:TOC,有机碳含量;ρh,地层的体积密度;ρk,有机质的密度;γ是转换因子。5.根据权利要求1所述的自生自储油气层孔隙度测量方法,其特征在于:所述测量方法包括以下步骤:1)通过岩石热解实验测量镜质体反射率Ro,确定非烃源岩的位置,得到非烃源岩岩石的电阻率Rt基线和声波时差基线△t基线;2)利用△lgR方法确定岩石中有机碳含量TOC:Δlg R=lg(Rt/Rt基线)+0.02×(Δt-Δt基线) (1) TOC = ΔlgR ∝ 10 - 0.168 × R O + 2.297 - - - ( 2 ) ]]>式中Rt为岩石电阻率,Rt基线为非烃源岩泥岩段电阻率,△t为岩石声波时差值,△t基线为非烃源岩泥岩段声波时差值,Ro为镜质体反射率;3)根据式3,求出岩石中有机质的体积百分比,式3中:TOC,有机碳含量;ρb,地层的体积密度;ρk,有机质的密度;γ是转换因子,根据不同的成岩作用阶段、不同的干酪根类型取不同的值;4)选择两组XRD测试中矿物成分相同、孔隙度相等,但是TOC测试数据不同的岩芯数据;假定岩芯由有机质与非有机质两部分组成,假设岩芯中去除有机质后的测井值为lognk,体积为Vnk,有机质的测井值为logk,体积为Vk,那么存在有机质的岩石测井值即为:log=logk×Vk+lognk×Vnk (4)其中:Vnk+Vk=1 (5)式中:log为岩石测井响应值,logk为有机质的测井响应特征值,lognk为非有机质的测井响应特征值;5)根据步骤4)可以得到有机质的测井响应特征值为: log k = l o g - log ...

【专利技术属性】
技术研发人员:于红岩王震亮程昊
申请(专利权)人:西北大学
类型:发明
国别省市:陕西;61

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