【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本申请涉及一种半导体器件和一种用于制造半导体器件的方法。
技术介绍
从文献US 8,427,839 B2中已知倒装芯片器件的电接触,其中基于焊接技术或粘接技术形成在倒装芯片和载体之间的机械连接以及在电接触部之间的电连接。使用导电的连接材料能够导致倒装芯片器件的短路。尤其在批量生产时低的器件次品量是降低制造成本的重要因素。
技术实现思路
目的是提出一种用于制造半导体器件的可靠的方法,其中简化并且能够可靠地实现在半导体器件的载体和主体之间的机械连接以及电连接。提出一种具有简化的接触结构和高度机械稳定性的半导体器件作为另外的目的。此外,该目的通过一种用于制造半导体器件的方法和一种根据独立权利要求所述的半导体器件来实现。其他的设计方案和改进方案是从属权利要求的主题。根据用于制造半导体器件的方法的至少一个实施方式,提供主体和载体。载体具有第一绝缘层。例如,绝缘层是氧化层、尤其二氧化硅层。例如,在载体的载体本体上构成第一绝缘层。载体具有至少一个导电的联接元件。联接元件在竖直方向上延伸穿过第一绝缘层。竖直方向理解为尤其垂直于载体的主延伸平面伸展的方向。根据所述方法的至少一个实施方式,镜层嵌入到第一绝缘层中。在载体本体的俯视图中,镜层至少局部地由第一绝缘层覆盖。尤其地,镜层完全嵌入到第一绝缘层中。换言之,镜层全面地由第一绝缘层包围。第一绝缘层能够构成为是单层的或多层的。根据所述方法的至少一个实施方式,载体的表面构成为平坦的安装面。尤其地,联接元件穿过第一绝缘层延伸至安装面。平坦的安装面尤其通过第一绝缘层的露出的表面和联接元件的露出的表面形成。尤其地,平坦的安装面沿竖直方向对 ...
【技术保护点】
一种用于制造半导体器件(100)的方法,所述方法具有下列步骤:‑A)提供载体(1),所述载体具有第一绝缘层(12)、由所述第一绝缘层至少局部地覆盖的镜层(13)和联接元件(41),其中所述载体具有露出的、平坦的安装面(11)并且所述联接元件穿过所述第一绝缘层延伸至安装面,‑B)提供主体(2),所述主体具有半导体本体(20)、第二绝缘层(22)和用于电接触所述半导体本体的接触元件(42),其中所述主体具有露出的、平坦的接触面(21)并且所述接触元件穿过所述第二绝缘层延伸至接触面,以及‑C)连接所述主体与所述载体,其中所述平坦的接触面和所述平坦的安装面汇聚以形成连接面(3),并且所述接触元件和所述联接元件彼此电连接。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.01.23 DE 102014100773.51.一种用于制造半导体器件(100)的方法,所述方法具有下列步骤:-A)提供载体(1),所述载体具有第一绝缘层(12)、由所述第一绝缘层至少局部地覆盖的镜层(13)和联接元件(41),其中所述载体具有露出的、平坦的安装面(11)并且所述联接元件穿过所述第一绝缘层延伸至安装面,-B)提供主体(2),所述主体具有半导体本体(20)、第二绝缘层(22)和用于电接触所述半导体本体的接触元件(42),其中所述主体具有露出的、平坦的接触面(21)并且所述接触元件穿过所述第二绝缘层延伸至接触面,以及-C)连接所述主体与所述载体,其中所述平坦的接触面和所述平坦的安装面汇聚以形成连接面(3),并且所述接触元件和所述联接元件彼此电连接。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述载体(1)和所述主体(2)借助于直接的粘结方法彼此连接,其中在所述载体(1)和所述主体(2)之间形成的所述连接面(3)不具有连接材料。3.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述平坦的接触面(21)构成为是连续的,在俯视图中完全覆盖所述半导体本体(20)并且具有最高10nm的粗糙度。4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述绝缘层(12,22)分别具有氧化物,所述联接元件(41)和所述接触元件(42)分别具有金属,并且所述连接面(3)局部地通过氧化物-氧化物界面、金属-金属界面和氧化物-金属界面形成。5.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述镜层(13)完全地嵌入到所述第一绝缘层(12)中。6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述镜层(13)平地并且沿横向方向构成为,使得所述镜层在
\t所述载体(1)的俯视图中侧向突出于所述主体(2)。7.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述半导体本体(20)具有有源区(202)并且将至少一个另外的接触元件(52)引入到所述主体(2)中,所述另外的接触元件从所述接触面(21)延伸穿过所述第二绝缘层(22)并且延伸穿过所述有源区。8.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中在步骤C)之后将转换层(7)施加到所述主体(2)上并且施加到所述载体(1)上,其中在俯视图中所述转换层完全地覆盖所述主体,并且在所述主体侧面至少部分地覆盖所述镜层(13)的区域(132)。9.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述半导体本体(20)逐层地施加到生长衬底(25)上并且所述生长衬底在后续的方法步骤中变薄或者被完全移除。10.一种半导体器件(100),所述半导体器件具有载体(1)、设置在所述载体上的主体(2)和通孔结构(4),其中-所述载体具有第一绝缘层(12)、由第一绝缘层至少局部地覆盖的...
【专利技术属性】
技术研发人员:西格弗里德·赫尔曼,斯特凡·伊莱克,弗兰克·辛格,
申请(专利权)人:欧司朗光电半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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