光扫描型观察装置制造方法及图纸

技术编号:13635735 阅读:40 留言:0更新日期:2016-09-02 22:41
提供能够提高图像质量的光扫描型观察装置。本发明专利技术的光扫描型观察装置(10)具有:发光时刻控制部(32);光纤(11);驱动部(21);光检测部(35);偏移处理部(70),其根据在发光时刻控制部停止了光源的发光时从光检测部输出的电信号,校正偏移值;以及信号处理部(37),其根据通过偏移处理部进行偏移值的校正后的电信号,生成图像信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本申请主张基于2014年1月24日在日本申请的日本特愿2014-11413的优先权,在此为了参考并入该在先申请的全部公开内容。本专利技术涉及通过光纤的振动而对对象物进行光扫描的光扫描型观察装置
技术介绍
以往,公知有如下的医疗用探针,其用于利用从光源照射的多种波长的脉冲光来观察对象物,该医疗用探针具有:导光单元,其对从光源入射的脉冲光进行引导而使该脉冲光向对象物射出;以及光延迟单元,其对由所射出的脉冲光照明的对象物的反射脉冲光赋予按照每个波长而不同的规定的延迟时间,将赋予了延迟时间的脉冲光输出到规定的光检测单元(例如专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2010-42128号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题一般而言,从光检测单元输出的电信号的、由于暗电流而引起的偏移值(黑电平)有时根据温度等使用环境而变动(通常为漂移),如果偏移值变动,则图像质量可能会恶化。但是,在专利文献1所记载的技术中,没有采取对策来抑制由于这样的偏移值的变动而引起的图像质量的恶化。因此,着眼于这点而完成的本专利技术的目的在于,提供一种能够提高图像质量的光扫描型观察装置。用于解决课题的手段达到上述目的的光扫描型观察装置的专利技术是将来自光源的光扫描到对象物上来
取得该对象物的图像的光扫描型观察装置,其具有:发光时刻控制部,其控制所述光源的发光时刻;光纤,其引导来自所述光源的光,将该光从以能够摆动的方式被支承的前端部朝向对象物射出;驱动部,其对所述光纤的所述前端部进行振动驱动;光检测部,其检测从所述对象物得到的光,并转换为电信号;偏移处理部,其根据在所述发光时刻控制部停止了所述光源的发光时从所述光检测部输出的所述电信号,校正偏移值;以及信号处理部,其根据通过所述偏移处理部进行所述偏移值的校正后的所述电信号,生成图像信号。所述驱动部可以使所述光纤的所述前端部呈螺旋状地摆动。所述驱动部可以使所述光纤的所述前端部呈利萨如状地摆动。优选为,在通过所述图像信号而生成的图像的外周侧区域内或显示期间外,所述发光时刻控制部停止所述光源的发光,然后,所述偏移处理部校正所述偏移值。优选为,还具有偏移处理判断部,所述偏移处理判断部根据在所述发光时刻控制部停止了所述光源的发光时从所述光检测部输出的所述电信号,判断能否校正偏移值,在所述偏移处理判断部判断为能够实施所述偏移值的校正的情况下,所述偏移处理判断部校正所述偏移值。专利技术的效果根据本专利技术,可提供一种能够提高图像质量的光扫描型观察装置。附图说明图1是示出作为第1实施方式的光扫描型观察装置的一例的光扫描型内窥镜装置的概略结构的框图。图2是概略地示出图1的镜体的概观图。图3是图2的镜体的前端部的剖视图。图4是示出图3的驱动部和照明用光纤的摆动部的图,图4的(a)是侧视图,图4的(b)是图4的(a)的A-A线剖视图。图5是用于说明发光时刻与偏移值的校正时刻之间的关系的一例的图。图6是用于说明扫描轨迹与偏移值的校正时刻之间的关系的第1例的图。图7是用于说明扫描轨迹与偏移值的校正时刻之间的关系的第2例的图。图8是用于说明扫描轨迹与偏移值的校正时刻之间的关系的第3例的图。图9是用于说明扫描轨迹与偏移值的校正时刻之间的关系的第4例的图。图10是示出作为第2实施方式的光扫描型观察装置的一例的光扫描型内窥镜装置的概略结构的框图。图11是示出图10的偏移处理判断部的处理的流程图。图12是用于说明图4的驱动部的变形例的图,图12的(a)是镜体的前端部的剖视图,图12的(b)是放大示出图12的(a)的驱动部的立体图,图12的(c)是包含图12的(b)的偏转磁场产生用线圈和永久磁铁的部分的基于与光纤的轴垂直的面的剖视图。具体实施方式以下,参照附图来说明本专利技术的实施方式。(第1实施方式)参照图1~图9,说明本专利技术的第1实施方式。图1是示出作为第1实施方式的光扫描型观察装置的一例的光扫描型内窥镜装置的概略结构的框图。在图1中,光扫描型内窥镜装置10具有镜体20、控制装置主体30和显示器40。首先,对控制装置主体30的结构进行说明。控制装置主体30具有对光扫描型内窥镜装置10的整体进行控制的控制部31、时钟发生部71、发光时刻控制部32、激光器33R、33G、33B、耦合器34、驱动控制部38、光检测器35(光检测部)、偏移处理部70、ADC(模拟-数字转换器)36和信号处理部37。在可由控制部31读写的存储器(未图示)中,预先设定了进行从光检测器35输出的电信号的、由于暗电流而造成的偏移值(黑电平)的校正(之后也称作“偏移校正”。)的时刻。如之后详细叙述那样,偏移校正时刻可以设置在扫描期间内(即图像的显示期间内),也可以设置在扫描期间外(即图像的显示期间外)。发光时刻控制部32根据来自控制部31的控制信号,对分别射出红(R)、绿(G)和蓝(B)的激光的激光器33R、33G、33B的发光时刻进行控制。发光时刻被设定
为,在除偏移校正时刻以外的扫描期间内,各个颜色的光依次按照恒定的时间间隔(发光周期TE)进行发光,并且在偏移校正时刻,在规定时间TC的范围内停止所有颜色的发光。另外,在扫描期间外,基本上停止所有颜色的发光。激光器33R、33G、33B构成选择性地射出多个不同颜色(在本实施方式中为R、G和B这3个颜色)的光的光源。这里,“选择性地射出多个不同颜色的光”是指,在由发光时刻控制部32选择的时刻射出由发光时刻控制部32选择的任意一个颜色的光。作为激光器33R、33G、33B,例如可以使用DPSS激光器(半导体激励固体激光器)或激光二极管。另外,在本说明中,“发光周期TE”不是指构成光源的激光器33R、33G、33B各自的发光周期,而是指从光源依次射出的光的发光周期。从激光器33R、33G、33B射出的激光经过由耦合器34同轴地合成的光路,作为照明光入射到作为单模光纤的照明用光纤11(光纤)。耦合器34例如使用分色棱镜等构成。激光器33R、33G、33B和耦合器34也可以收纳在利用信号线而与控制装置主体30连接的、独立于控制装置主体30的壳体中。从耦合器34入射到照明用光纤11的光被引导至镜体20的前端部,并朝向对象物100进行照射。此时,控制装置主体30的驱动控制部38通过对镜体20的驱动部21进行振动驱动,对照明用光纤11的前端部进行振动驱动。由此,从照明用光纤11射出的照明光在对象物100的观察表面上例如呈螺旋状进行二维扫描。通过照明光的照射而从对象物100得到的反射光或散射光等光在由多模光纤构成的检测用光纤束12的前端被接收,穿过镜体20内并被引导至控制装置主体30。另外,在本说明中,“扫描期间”是指从照明用光纤11射出的照明光在对象物100的观察表面上进行二维扫描的期间。光检测器35按照光源的每个发光周期TE检测通过R、G或B中的任意一个颜色的光的照射而从对象物100经由检测用光纤束12得到的光,输出波段限制为该颜色的模拟信号(电信号)。偏移处理部70根据在发光时刻控制部32停止了光源的发光时由于暗电流而从光检测器35输出的电信号,校正偏移值(黑电平)。更具体而言,偏移处理部70在被发光时刻控制部32通知成为了偏移校正时刻的消息时,进行偏移值的校正。由于是
偏移校正时刻而本文档来自技高网
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光扫描型观察装置

【技术保护点】
一种光扫描型观察装置,其将来自光源的光扫描到对象物上来取得该对象物的图像,其中,所述光扫描型观察装置具有:发光时刻控制部,其控制所述光源的发光时刻;光纤,其引导来自所述光源的光,将该光从以能够摆动的方式被支承的前端部朝向对象物射出;驱动部,其对所述光纤的所述前端部进行振动驱动;光检测部,其检测从所述对象物得到的光,并转换为电信号;偏移处理部,其根据在所述发光时刻控制部停止了所述光源的发光时从所述光检测部输出的所述电信号,校正偏移值;以及信号处理部,其根据通过所述偏移处理部进行所述偏移值的校正后的所述电信号,生成图像信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.01.24 JP 2014-0114131.一种光扫描型观察装置,其将来自光源的光扫描到对象物上来取得该对象物的图像,其中,所述光扫描型观察装置具有:发光时刻控制部,其控制所述光源的发光时刻;光纤,其引导来自所述光源的光,将该光从以能够摆动的方式被支承的前端部朝向对象物射出;驱动部,其对所述光纤的所述前端部进行振动驱动;光检测部,其检测从所述对象物得到的光,并转换为电信号;偏移处理部,其根据在所述发光时刻控制部停止了所述光源的发光时从所述光检测部输出的所述电信号,校正偏移值;以及信号处理部,其根据通过所述偏移处理部进行所述偏移值的校正后的所述电信号,生成图像信号。2.根据权利要求1所述的光扫描型观察装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:森健藤沼贤
申请(专利权)人:奥林巴斯株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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