【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请要求2014年1月30日提交的德国专利申请DE 10 2014 201 622.3的优先权。通过引用将所述DE申请的内容并入本申请文本中。
本专利技术涉及一种制造尤其是微光刻投射曝光设备的反射镜元件的方法。
技术介绍
微光刻技术用于制造微结构化部件,例如集成电路或LCD。微光刻工艺在具有照明装置和投射镜头的所谓投射曝光设备中进行。利用照明装置照明的掩模(掩模母版)的图像在该情况中利用投射镜头投射至基板(例如硅晶片)上,其涂覆有光敏层(光刻胶),并布置在投射镜头的像平面中,从而将掩模结构转印至基板的光敏涂层。在设计用于EUV范围(即,在例如约13nm或约7nm的波长)的投射镜头中,由于缺少可用的合适透光折射材料,将反射镜用作成像过程的光学部件。在设计用于在EUV范围操作的微光刻投射曝光设备的照明装置中,特别地,使用场分面反射镜和光瞳分面反射镜形式的分面反射镜作为聚焦部件从例如DE 10 2008 009 600 A1已知。这种分面反射镜由多种单独反射镜或反射镜分面构成,所述单独反射镜或反射镜分面中的每一个可设计为通过弯曲轴承而可倾斜,用于调节目的或用于实现特定照明角分布。这些反射镜分面可进而包含多个微反射镜。而且,为了调节限定的照明设定(即,照明装置的光瞳平面中的强度分布),在设计用于以在VUV范围的波长操作的微光刻投射曝光设备的照明装置中使用包含多种相互独立可调的反射镜元件的反射镜布置也是已知的,例如从WO 2005/026843 A2已知。实际上出现的问题是,在制造这种反射镜布置(例如,设计用于以EUV
操作的照明 ...
【技术保护点】
一种制造反射镜元件的方法,其中,所述方法包含以下步骤:a)提供基板(101,102,103,104,201,202,301,302,401,402,501,502,801,901,951,961);以及b)在所述基板上形成层堆叠(111,112,113,114,211,212,311,312,411,412,511,512),其中,该层堆叠具有至少一个反射层系;c)其中,所述层堆叠(111,112,113,114,211,212,311,312,411,412,511,512)形成为使得所述反射镜元件的预定操作温度想要的设定点曲率通过所述层堆叠施加的弯曲力产生,其中,在形成所述层堆叠之前,所述基板具有的曲率偏离所述反射镜元件的该设定点曲率,以及其中,由所述层堆叠施加的弯曲力至少部分通过进行改变所述层堆叠的层张力的后处理来产生。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.01.30 DE 102014201622.31.一种制造反射镜元件的方法,其中,所述方法包含以下步骤:a)提供基板(101,102,103,104,201,202,301,302,401,402,501,502,801,901,951,961);以及b)在所述基板上形成层堆叠(111,112,113,114,211,212,311,312,411,412,511,512),其中,该层堆叠具有至少一个反射层系;c)其中,所述层堆叠(111,112,113,114,211,212,311,312,411,412,511,512)形成为使得所述反射镜元件的预定操作温度想要的设定点曲率通过所述层堆叠施加的弯曲力产生,其中,在形成所述层堆叠之前,所述基板具有的曲率偏离所述反射镜元件的该设定点曲率,以及其中,由所述层堆叠施加的弯曲力至少部分通过进行改变所述层堆叠的层张力的后处理来产生。2.根据权利要求1的方法,其特征在于,由所述层堆叠(111,112,113,114,211,212,311,312,411,412,511,512)施加的弯曲力,尤其是改变所述层堆叠的层张力的后处理带来曲率的不可逆变化。3.根据权利要求1或2的方法,其特征在于,该后处理包含热后处理,所述热后处理尤其通过加热辐射、激光辐射或退火导致。4.根据权利要求1至3中任一项的方法,其特征在于,该后处理包含离子辐射或电子辐射。5.根据上述权利要求中任一项的方法,其特征在于,该后处理局部限制于所述层堆叠的一个或多个部分。6.根据上述权利要求中任一项的方法,其特征在于,在形成所述层堆叠之前(111,112,113,114,211,212,311,312,411,412,511,512),所述基板(101,102,103,104,201,202,301,302,401,402,501,502)为平面的或具有凸曲率。7.根据上述权利要求中任一项的方法,其特征在于,所述基板具有局部变化刚度,其选择为使得所述反射镜元件的预定操作温度想要的设定点曲率在形成所述层堆叠之后获得。8.一种制造反射镜元件的方法,其中,所述方法包含以下步骤:提供基板(101,102,103,104,201,202,301,302,401,402,501,502,801,901,951,961);以及在所述基板上形成层堆叠(111,112,113,114,211,212,311,312,411,412,511,512),其中,该层堆叠具有至少一个反射层系;其中,在形成所述层堆叠之前,所述基板经受影响刚度的处理,其中,所述刚度在该处理期间设置为使得所述反射镜元件的预定操作温度想要的设定点曲率在形成所述层堆叠之后获得。9.根据权利要求8的方法,其特征在于设置所述基板的局部变化刚度,所述刚度与由所述层堆叠施加的弯曲力一起导致所述反射镜元件的期望表面几何形状。10.根据权利要求7至9中任一项的方法,其特征在于,所述刚度至少部分由所述基板的变化的厚度分布导致。11.根据权利要求7至10中任一项的方法,其特征在于,所述基板由第一材料制造,其中,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:H恩基希,P休伯,S斯特罗贝尔,
申请(专利权)人:卡尔蔡司SMT有限责任公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。