使用在放大视场中的内插计算MRI RF线圈灵敏度制造技术

本发明专利技术提供一种具有用于采集磁共振数据(142、144、156)的射频系统(114、116、120、124、126)的磁共振成像系统(100)。射频系统包括具有多个天线元件(126)的线圈(124)。MRI系统还包括用于控制所述磁共振成像系统的处理器(133)。指令(140、170、172、174)的执行令所述处理器：使用所述多个天线元件来采集(200)来自成像区内的第一视场的校准磁共振数据(142)，通过将校准磁共振数据内插到第二视场来计算(202、300、302、304、400)经修正的磁共振数据(144)，通过对所述经修正的磁共振数据进行去卷积来计算(204、500、502、504、602)线圈灵敏度核(146)，并且通过将每个线圈灵敏度矩阵核变换到图像空间中来计算(206、604、610)线圈灵敏度(148)。第二视场包含并且大于第一视场。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及使用多个天线元件进行平行磁共振成像，具体地，其涉及用于计算针对多个天线元件的线圈灵敏度的方法和装置。
技术介绍
在平行磁共振成像中，由多个天线元件同时采集正在测量的k空间的一部分。由多个天线元件采集的数据被组合以得到完整磁共振图像。通常，灵敏表面线圈元件围绕对象放置。由多个天线元件中的每个收集的图像数据使用针对每个线圈元件的空间相关线圈灵敏度被组合在一起。通常，在校准步骤期间确定线圈灵敏度。校准多个元件的一种方式是使用正交体线圈(QBC)以及多个天线元件同时采集数据。QBC不特别灵敏；然而，它们采集具有良好空间均匀性的数据，其能够被用于构造参考图像。能够通过由参考图像分割来自线圈元件的图像来计算针对特定线圈元件的线圈灵敏度。在以下期刊论文中公开一种通过基于k空间的方法来计算线圈灵敏度的方法以将线圈灵敏度计算作为线性系统的特性向量：Uecker等人，“ESPIRiT—An Eigenvalue Approach to Autocalibrating Parallel MRI:WhereSENSE Meets GRAPPA，”Magnetic Resonance in M本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁共振成像系统(100)，其中，所述磁共振成像系统包括：‑射频系统(114、116、120、124、126)，其用于采集成像区(108)内的对象(118)的磁共振数据(142、144、156)，其中，所述射频系统包括具有能够操作用于采集所述磁共振数据的多个天线元件(126)的线圈(124)；‑存储器(136、138)，其用于存储机器可读指令(140、170、172、174)；‑处理器(133)，其用于控制所述磁共振成像系统，其中，所述指令的执行令所述处理器：‑使用所述多个天线元件中的每个来采集(200)来自所述成像区内的第一视场的校准磁共振数据(142)；‑通过将所述校准磁共振数据内插到所...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.12.10 EP 13196463.71.一种磁共振成像系统(100)，其中，所述磁共振成像系统包括：-射频系统(114、116、120、124、126)，其用于采集成像区(108)内的对象(118)的磁共振数据(142、144、156)，其中，所述射频系统包括具有能够操作用于采集所述磁共振数据的多个天线元件(126)的线圈(124)；-存储器(136、138)，其用于存储机器可读指令(140、170、172、174)；-处理器(133)，其用于控制所述磁共振成像系统，其中，所述指令的执行令所述处理器：-使用所述多个天线元件中的每个来采集(200)来自所述成像区内的第一视场的校准磁共振数据(142)；-通过将所述校准磁共振数据内插到所述成像区内的第二视场来计算(202、300、302、304、400)经修正的磁共振数据(144)，其中，所述第二视场包含并且大于所述第一视场；-通过对针对所述多个天线元件中的每个的所述经修正的磁共振数据进行去卷积来计算(204、500、502、504、602)线圈灵敏度核(146)；并且-通过将每个线圈灵敏度矩阵核变换到图像空间中来计算(206、604、610)针对所述多个天线元件中的每个的线圈灵敏度(148)。2.根据前述权利要求中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，通过以下方式来计算所述经修正的磁共振数据：-使用所述校准磁共振数据来重建(300)针对每个天线元件的第一磁共振图像(150)；-计算(302)针对每个天线元件的经修正的磁共振图像(152)，其中，每幅经修正的磁共振图像由所述第二视场来限定并且通过将所述第一磁共振图像粘贴到空值图像中来计算；并且-通过对所述经修正的磁共振图像进行傅里叶变换来计算(304)所述经修正的磁共振数据。3.根据权利要求1所述的磁共振成像系统，其中，通过将针对所述多个天线元件中的每个的所述校准磁共振数据内插(400)到傅里叶空间中的点的预定集合来计算所述经修正的磁共振数据，其中，傅里叶空间中的点的所述预定集合表示所述第二视场。4.根据权利要求3所述的磁共振成像系统，其中，针对所述天线元件中的每个的所述经修正的磁共振数据包括傅里叶空间中的点的第一集合，并且其中，傅里叶空间中的点的所述预定集合包括傅里叶空间中的点的所述第一集合。5.根据权利要求4或5所述的磁共振成像系统，其中，所述指令的执行还令所述处理器通过对单位单元进行转化来生成傅里叶空间中的点的所述预定集合。6.根据前述权利要求中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，所述射频系统还包括体线圈；其中，所述指令的执行还令所述处理器：-在所述校准磁共振数据的采集期间使用所述体线圈来采集(500)来自所述第一视场的体线圈磁共振数据(156)，并且-通过将所述体线圈磁共振数据内插到所述第二视场来计算(502)经修正的体线圈磁共振数据(158)；并且其中，将针对所述多个天线元件中的每个的所述线圈灵敏度核关于所述经修正的体线圈磁共振数据进行去卷积。7.根据权利要求1至5中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，所述指令的执行令所述处理器通过初始地将参考图像(160)设置(600)为预定值来对针对所述多个天线元件中的每个的所述线圈灵敏度核进行去卷积；其中，所述指令的执行令所述处理器进一步通过迭代地重复以下步骤来对针对所述多个天线元件中的每个的所述线圈灵敏度核去卷积：-通过将针对所述多个天线元件中的每个的所述经修正的磁共振数据
\t关于所述参考图像的傅里叶变换进行去卷积来计算(602)中间线圈灵敏度核(161)，-通过将每个中间线圈灵敏度核变换到图像空间中来计算(604)针对所述多个天线元件中的每个的中间线圈灵敏度(162)，并且-使用所述中间线圈灵敏度和所述校准磁共振数据来重新计算(606)所述参考图像；并且其中，所述迭代步骤被重复预定次数或者当参考图像已收敛到预定统计度量内时。8.根据权利要求7所述的磁共振成像系统，其中，所述参考图像的所述预定值是均匀值。9.根据前述权利要求中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，所述存储器还包含描述...

【专利技术属性】
技术研发人员：T·尼尔森，
申请(专利权)人：皇家飞利浦有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰;NL