【技术实现步骤摘要】
201610388352
【技术保护点】
一种表面等离子体增强量子阱红外探测器,所述探测器包括外延片,以及顺次制作在所述外延片一侧上的底部接触层、多量子阱层和顶部接触层,其中,所述顶部接触层上具有刻蚀的光栅结构;所述顶部接触层之上设置有绝缘保护层;在所述绝缘保护层上,设置有向下刻蚀出的电极窗口,所述电极窗口开设至下部的顶部接触层的上下表面之间;以及在所述电极窗口处沉积有金属电极层,所述金属电极层与所述顶部接触层以及所述光栅接触。
【技术特征摘要】
1.一种表面等离子体增强量子阱红外探测器,所述探测器包括外延片,以及顺次制作在所述外延片一侧上的底部接触层、多量子阱层和顶部接触层,其中,所述顶部接触层上具有刻蚀的光栅结构;所述顶部接触层之上设置有绝缘保护层;在所述绝缘保护层上,设置有向下刻蚀出的电极窗口,所述电极窗口开设至下部的顶部接触层的上下表面之间;以及在所述电极窗口处沉积有金属电极层,所述金属电极层与所述顶部接触层以及所述光栅接触。2.根据权利要求1所述的表面等离子体增强量子阱红外探测器,其特征在于,所述顶部接触层为GaAs顶部接触层。3.根据权利要求1所述的表面等离子体增强量子阱红外探测器,其特征在于,所述外延片的另一侧制作有UBM层,所述UBM层上沉积有铟柱,并且所述探测器经过封装形成单管。4.根据权利要求1所述的表面等离子体增强量子阱红外探测器,其特征在于,所述金属电极层的金属是金、银、铂金或铝。5.根据权利要求1-4任一项所述的表面等离子体增强量子阱红外探测器,其特征在于,所述光栅之间的周期为3.2μm...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈良惠,廖垠鑫,宋国峰,徐云,
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。