VCXO晶体电性能测试机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种VCXO晶体电性能测试机构，包括测试座、负载板卡和转换板、高度调节块、测试盖板；负载卡上表面设置有VCXO转换板，VCXO转换板上表面设置有测试座，所述VCXO晶体设置在测试座上表面；所述VCXO转换板为双层PCB板，VCXO转换板上表面设置有6个插孔；所述测试座设置导向孔，导向孔有与插孔位置相对应；所述VCXO晶体设置有引脚；所述引脚位置与插孔位置相对应；所述6个引脚通过导向孔插入所述6个插孔内。本实用新型专利技术VCXO晶体电性能测试机构，结构简单，操作方便，制造成本低，便于安装和拆卸，维修方便，提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种压控晶体振荡器测试装置，具体的说，是涉及一种VCXO晶体电性能测试机构。
技术介绍
原有的Vcxo电性能测试装置，其VCXO测试装置有6个引脚输出，定义为：1#脚为Vco供电，2#脚为使能端控制，3#脚为GND，4#脚为Out，5#脚为GND，6#脚为Vcc，原有的通用VCXO晶体使能端是2#引脚，和测试电路正好对应测试。现在有客户需要使能端是5#引脚的VCXO晶体，用原有VCXO测试装置测试时，5#脚为GND，能端电压接地，表现为无输出，且测试不同引脚压控端的VCXO晶体时，需更换测试电路，且操作过程复杂，严重影响机台效率。
技术实现思路
针对上述现有技术中的不足，本技术提供一种结构合理、检测精度高、操作方便的VCXO晶体电性能测试机构。本技术所采取的技术方案是：一种VCXO晶体电性能测试机构，包括测试座、负载板卡和VCXO转换板、高度调节块、测试盖板；负载卡上表面设置有VCXO转换板，VCXO转换板上表面设置有测试座，所述VCXO晶<br>体设置在测试座本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种VCXO晶体电性能测试机构，其特征在于：包括测试座（5）、负载板卡（3）和VCXO转换板（4）、高度调节块（7）、测试盖板（8）；负载卡（3）上表面设置有VCXO转换板（4），VCXO转换板（4）上表面设置有测试座（5），所述VCXO晶体（6）设置在测试座（5）上表面；所述VCXO转换板（4）为双层PCB板，VCXO转换板（4）上表面设置有6个插孔；所述测试座设置导向孔，导向孔有与插孔位置相对应；所述VCXO晶体设置有引脚；所述引脚位置与插孔位置相对应；所述6个引脚通过导向孔插入所述6个插孔内；所述插孔包括左侧插孔和右侧插孔；所述左侧插孔分别为第十一插孔（11）、第十二插孔（12）和第十三...

【技术特征摘要】
1.一种VCXO晶体电性能测试机构，其特征在于：包括测试座（5）、负载板卡（3）和VCXO转
换板（4）、高度调节块（7）、测试盖板（8）；
负载卡（3）上表面设置有VCXO转换板（4），VCXO转换板（4）上表面设置有测试座（5），所
述VCXO晶体（6）设置在测试座（5）上表面；
所述VCXO转换板（4）为双层PCB板，VCXO转换板（4）上表面设置有6个插孔；
所述测试座设置导向孔，导向孔有与插孔位置相对应；
所述VCXO晶体设置有引脚；所述引脚位置与插孔位置相对应；所述6个引脚通过导向孔
插入所述6个插孔内；
所述插孔包括左侧插孔和右侧插孔；
所述左侧插孔分别为第十一插孔（11）、第十二插孔（12）和第十三插孔（13）；所述右侧
插孔分别为第十四插孔（14）、第十五插孔（15）和第十六插孔（16）；
所述第十一插孔内设置有第十一引脚；所述第十二插孔内设置有第十二引脚；所述第
十三插孔内设置有第十三引脚；所述第十四插孔内设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝建军，李永斌，何庆利，
申请(专利权)人：唐山国芯晶源电子有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13