非接触电压测量装置制造方法及图纸

在非接触电压测量传感器(1)中，检测探头(11)由板簧构成，通过施加外力，以向上述板簧的张力作用的方向卷曲的方式变形。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】在非接触电压测量传感器(1)中，检测探头(11)由板簧构成，通过施加外力，以向上述板簧的张力作用的方向卷曲的方式变形。【专利说明】非接触电压测量装置
本专利技术设及电压测量装置，尤其设及W与导线不接触的方式来测量施加于所述导 线上的电压的非接触电压测量装置。
技术介绍
W往，已知具有如下非接触电压测量装置，该非接触电压测量装置W与导线接触 的方式来测量在由绝缘包覆部包覆的导线上流动的交流电压(测量对象电压）。 非接触电压测量装置通过W下方式来测量测量对象电压。首先，用于检测电压的 检测探头接近导线的绝缘包覆部。当绝缘包覆部和检测探头接近时，在检测探头和导线之 间产生禪合电容。在检测探头和导线之间产生禪合电容的状态下，若交流电在导线上流动， 则在检测探头上产生感应电压。利用该感应电压的电压值和禪合电容的静电容量值来导出 测量对象电压。 作为非接触电压测量装置的一例，专利文献1中公开了具有由柔性材料包覆的检 测探头的非接触电压检测装置。由于检测探头具有柔性，因此，用户通过将检测探头缠绕在 电线的绝缘包覆部上，能够使电线与检测探头的密接性提高，并且能够扩大两者的接触面 积。由此，检测探头与电线内的忍线之间产生的禪合电容变大，另外，能够抑制禪合电容的 变动(不规则）。因此，利用绝对值大且变动小的禪合电容，能够准确地测量测量对象电压。 现有技术文献 专利文献 专利文献1:日本公开专利公报"日本特开2012-163394号公报(2012年8月30日公 开r
技术实现思路
[000引专利技术要解决的问题 然而，在专利文献1公开的非接触电压检测装置中，用户需要进行W下方式的手动 操作，即，一边对检测探头的位置或形状进行调节，一边将检测探头缠绕在绝缘包覆的周 围。该手动操作存在耗力及耗时的问题。另外，当用户将非接触电压检测装置的电压表安装 在电缆上时，存在因与所述电缆接触而被电击的可能性。 本专利技术鉴于所述问题而提出，其目的在于，提供一种非接触电压测量装置，不需要 手动操作将检测探头缠绕在被绝缘包覆的导线上，W使在检测探头和导线之间产生的禪合 电容增大，从而能够准确地测量施加于导线的测量对象电压。[00川解决问题的手段为了解决所述问题，本专利技术的一个实施方式的非接触电压测量装置，具有在缠绕 于导线的状态下检测电压的检测探头，当使所述检测探头W不接触的方式接近所述导线W 使在所述检测探头和所述导线之间产生禪合电容时，基于在所述检测探头上产生的感应电 压，来测量施加于所述导线的测量对象电压，其中，所述检测探头在W下两种状态之间弹性 变形，即，违背作用于所述检测探头的张力向所述检测探头的长度方向延伸的第一状态和 向所述张力作用的方向卷曲的第二状态。 根据所述结构，检测探头在W下两种状态之间弹性变形，即，向张力作用的方向卷 曲的第二状态和违背所述张力来延伸的第一状态。因此，检测探头W导线的周向与张力的 作用方向平行的方式来与导线接触，在该接触状态下，在所述检测探头从第一状态弹性变 形为第二状态的情况下，通过向张力作用的方向卷曲，从而缠绕在导线的周围。 因此，为了在检测探头和导线之间产生禪合电容，而不需要将检测探头缠绕在导 线的周围的手动操作。因此，能够减少因手动操作的耗时及耗力。而且，当用户将非接触电 压检测装置安装在导线上时，不与所述导线接触，因此，不存在被电击的可能性，从而能够 安全地将非接触电压检测装置安装在导线上。 而且，通过检测探头缠绕在导线的周围，使得检测探头和导线之间产生的禪合电 容增大，因此，能够更加精确地测量施加于导线的测量对象电压。 专利技术效果 根据本专利技术，不需要手动操作将检测套头缠绕在被绝缘包覆的导线上，W使检测 探头和导线之间产生的禪合电容增大，从而能够更加高精度地测量施加于导线上的测量对 象电压。【附图说明】 图1是示意性地示出本专利技术的一个实施方式的非接触电压测量传感器的外观的俯 视图，是示出弯曲状态的检测探头的图。 图2是示意性地示出本专利技术的一个实施方式的非接触电压测量传感器的外观的立 体图。 图3是示意性地示出本专利技术的一个实施方式的非接触电压测量传感器的结构的 图，是示出具有所述传感器的电路的图。 图4是示意性地示出具有作用于面的上下方向上的张力的铜板黃的图。 图5是示出禪合电容和测量对象电压之间关系的另一图，是示出禪合电容的静电 容量值与测量对象电压的绝对值的2次微分之间的关系的图表的图。 图6是示出本专利技术的一个实施方式的非接触电压测量传感器的外观的另一俯视 图，是示出弯曲被消除的状态的检测探头的图。 图7是示出本专利技术的一个实施方式的非接触电压测量传感器的检测探头缠绕在测 量对象配线的周围的例子的图。【具体实施方式】 W下，参照图1~图7来详细说明本专利技术的实施方式。 (非接触电压测量传感器1的结构） 参照图1~图3来说明非接触电压测量传感器1(非接触电压测量装置)的结构。图1 是示意性地示出非接触电压测量传感器1的外观的俯视图。图2是示意性地示出非接触电压 测量传感器1的外观的立体图。另外，图3是示意性地示出非接触电压测量传感器1的结构的 图，并且是示出具有非接触电压测量传感器1的电路EC的图。W下，将非接触电压测量传感 器1简称为电压传感器1。 电压传感器1对流动于图3所示的测量对象配线W内的忍线（导线）的角频率ω的交 流电压化(测量对象电压），W与所述忍线不接触的方式进行测量。虽然没有图示，但测量对 象配线W被绝缘包覆，测量对象配线W的忍线的周围由绝缘性物质包覆。 如图1所示，电压传感器1具有检测探头11及电路基板15。检测探头11和电路基板 15通过连接线化电连接。检测探头11配置在基板16的背面上。另一方面，电路基板15配置在 相同基板16的表面上。基板16由柔性绝缘构件形成。 在电路基板15内形成有电路EC。连接线化及电路基板15W不裸露的方式由聚酷亚 胺的片来层压(未图示）。 如图1所示，电压传感器1的表面呈矩形。电压传感器1的表面的短边(沿图1的纵向 延伸的边）的长度为例如10mm~20mm。此外，虽然与电压传感器1的短边相比较的长边(沿图 1的横向延伸的边)的实际长度优选为比测量对象配线W的外周长，但不限于此。 如图2所示，在与电压传感器1的表面的长边垂直的截面中，检测探头11W及配置 有检测探头11的基板16的部分W凹陷的形状弯曲。在图1及图2中，检测探头11的弯曲（槽） 用附图标记C来表示。 如图3所示，电路EC包括电容器Cl及C2、检测电阻R、切换开关13 W及运算放大器14。 通过电场护罩12来覆盖检测探头11及电路EC的周围。电容器Cl及C2的静电容量值都是已知 的（分别为 47pF、470pF)。 (1.检测探头11) 检测探头11由板状的弹黃(铜板黃)形成，所述弹黃由铜制成。 如图3所示，当检测探头11与包覆测量对象配线W的忍线的绝缘性物质接触或者足 够接近时，在检测探头11与所述忍线之间产生具有未知的静电容量值的禪合电容Cl。 如图1所示，张力T向相对检测探头11的长度方向（图1中的横向）倾斜的方向（箭头 所示的方向）作用于构成检测探头11的板黃的表面上。 如图2所示，检测探头11借助板黃的张力T，具有弹性变形为向张力T作用的方向卷 曲的形状的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非接触电压测量装置，具有在缠绕于导线的状态下检测电压的检测探头，当使所述检测探头以不接触的方式接近所述导线以使在所述检测探头和所述导线之间产生耦合电容时，基于在所述检测探头上产生的感应电压，来测量施加于所述导线的测量对象电压，所述非接触电压测量装置的特征在于，所述检测探头在以下两种状态之间弹性变形，即，违背作用于所述检测探头的张力向所述检测探头的长度方向延伸的第一状态和向所述张力作用的方向卷曲的第二状态。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：荻本真央，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP