一种基于磁场强度的室内定位方法技术

本发明专利技术涉及一种基于磁场强度的室内定位方法，包括以下步骤：S1.收集室内环境每个采样点在x轴、y轴、z轴方向的磁场强度，并分别计算其在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差，所有采样点的磁场强度均值和标准差形成静态场强数据库；S2.计算检测点在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差；S3.基于检测点的均值和标准差，在静态场强数据库中查找与其匹配的采样点，从而实现定位。

【技术实现步骤摘要】


本专利技术涉及室内定位领域，更具体地，涉及一种基于磁场强度的室内定位方法。

技术介绍

现今，定位服务已成为大众生活中一项必不可少的基础性服务。定位服务的质量将直接影响人们的日常生活水平。定位技术可根据定位范围分为室内定位和室外定位两大类。目前，室外定位技术主要利用卫星进行定位，精度(5米)范围已足够日常生活所需。现在室外定位服务领域已被Google、百度等巨头公司占领。而室内定位技术却因定位精度不足、部署成本较高、布局难道较高等原因，暂时未得到普及。当前，室内定位以wifi定位技术最为广泛，最为流行，同时，利用蓝牙、LED灯、红外光、超声波等媒介进行定位的技术也能获得较好的定位效果。但是，由于定位精度、部署成本等问题，这些定位技术都未能形成普及。
如今，智能手机已经得到大众的认可，并成为人们日常生活中必不可少的一部分。而智能手机中内嵌的许多硬件设施却未能发挥出其应有的功效。例如，在室内定位服务中，智能手机中内嵌的电子罗盘可用来进行手机用户运动特征的捕捉；磁场探测器可运用到地磁匹配定位中。

技术实现思路

本专利技术为解决以上现有技术的缺陷，提供了一种基于磁场强度的室内定位方法，该方法利用磁场匹配来实现室内定位。
为实现以上专利技术目的，采用的技术方案是：
一种基于磁场强度的室内定位方法，包括以下步骤：
S1.收集室内环境每个采样点在x轴、y轴、z轴方向的磁场强度，并分别计算其在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差，所有采样点的磁场强度均值和标准差形成静态场强数据库；
>S2.计算检测点在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差；
S3.基于检测点的均值和标准差，在静态场强数据库中查找与其匹配的采样点，从而实现定位。
优选地，所述步骤S1计算采样点磁场强度的均值和标准差的具体过程如下：
(1)磁场强度均值的求解
M x ‾ = Mx 1 + Mx 2 + Mx 3 + ... ... + Mx n n ; ]]> M y ‾ = My 1 + My 2 + My 3 + ... ... + My n n ; ]]> M z ‾ = Mz 1 + Mz 2 + Mz 3 + ... ... + Mz n n ; ]]>Mx1,Mx2,Mx3,......,Mxn表示采样点在x轴方向的磁场强度；
My1,My2,My3,......,Myn表示采样点在y轴方向的磁场强度；
Mz1,Mz2,Mz3,......,Mzn表示采样点在z轴方向的磁场强度；
分别表示采样点在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值；
(2)磁场强度标准差的求解
σ M x = ( Mx 1 - M x ‾ ) 2 + ( Mx 2 - M x ‾ ) 2 + ( Mx 3 - M x ‾ ) 2 + ...... 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于磁场强度的室内定位方法，其特征在于：包括以下步骤：S1.收集室内环境每个采样点在x轴、y轴、z轴方向的磁场强度，并分别计算其在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差，所有采样点的磁场强度均值和标准差形成静态场强数据库；S2.计算检测点在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差；S3.基于检测点的均值和标准差，在静态场强数据库中查找与其匹配的采样点，从而实现定位。

【技术特征摘要】
1.一种基于磁场强度的室内定位方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1.收集室内环境每个采样点在x轴、y轴、z轴方向的磁场强度，并分别计
算其在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差，所有采样点的磁场强度
均值和标准差形成静态场强数据库；
S2.计算检测点在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值和标准差；
S3.基于检测点的均值和标准差，在静态场强数据库中查找与其匹配的采样
点，从而实现定位。
2.根据权利要求1所述的基于磁场强度的室内定位方法，其特征在于：所述
步骤S1计算采样点磁场强度的均值和标准差的具体过程如下：
(1)磁场强度均值的求解
M x ‾ = Mx 1 + Mx 2 + Mx 3 + ... ... + Mx n n ; ]]> M y ‾ = My 1 + My 2 + My 3 + ... ... + My n n ; ]]> M z ‾ = Mz 1 + Mz 2 + Mz 3 + ... ... + Mz n n ; ]]>Mx1,Mx2,Mx3,......,Mxn表示采样点在x轴方向的磁场强度；
My1,My2,My3,......,Myn表示采样点在y轴方向的磁场强度；
Mz1,Mz2,Mz3,......,Mzn表示采样点在z轴方向的磁场强度；
分别表示采样点在x轴、y轴、z轴方向磁场强度的均值；
(2)磁场强度标准差的求解
σ M x = ( Mx 1 - M x ‾ ) 2 + ( Mx 2 - M x ‾ ) 2 + ( Mx 3 - M x ‾ ) 2 + ...... + ( Mx n - M x ‾ ) 2 n ; ]]> σ M y = ( My 1 - M y ‾ ) 2 + ( My 2 - M y ‾ ) 2 + ( My 3 - M y ‾ ) 2 + ...... + ( My n ...

【专利技术属性】
技术研发人员：程良伦，韦宝刚，谢雪健，张旭辉，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：广东;44