一种快速判断废品率的作图方法技术

本发明专利技术公开了一种快速判断废品率的作图方法，一种基于LabVIEW的正态分布曲线与公差带图二维多线段组合显示的作图方法，正态分布曲线表达式为 y = 1 σ 2 π e - 1 2 ( x - μ σ ) 2 - - - ( 1 ) , ]]>μ、σ是正态分布曲线的两个重要参数，μ影响曲线的位置，表示尺寸分散中心的位置。σ确定曲线的形状，表示尺寸分散范围大小。正态分布曲线的分布范围为μ±3σ。μ±3σ的大小代表了某一种加工方法在规定的条件下所能达到的加工精度。所以在一般情况下，应使公差带的宽度T和σ之间具有下列关系:6σ≤T，如果尺寸分散带大于零件的公差带T，则将有废品产生。本发明专利技术技术效果是：效率高、成本低，界面友好，可视化、操作方便，可扩展为两个二维多线段图形的组合显示，通过可视化的作图快速提高判断废品率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的是一种两个二维多线段图形的组合显示的作图方法，具体是一种正态分布曲线与公差带图的组合二维多线段显示的作图方法。
技术介绍
当一批工件总数极多，加工中的误差是由许多相互独立的随机因素引起的，而且这些误差因素中又没有任何优势的倾向，其分布是服从正态分布的。通过理论正态分布曲线与公差带图可以快速估算合格品率和废品率等信息，为零件加工质量判识提供可靠的依据。而目前没有一种作图方法能使正态分布曲线与公差带图快速二维组合显示。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种快速判断废品率的作图方法，一种基于LabVIEW的正态分布曲线与公差带图二维显示的作图方法，可以快速估算合格品率和废品率等信息的可视化评定，两个二维多线段图形的组合显示，该作图方法界面友好，可视化、易扩展、效率高。为了达到上述目的，本专利技术通过以下技术方案实现的：一种快速判断废品率的作图方法，其特征在于方法步骤如下步骤一：把正态分布曲线与公差带图分成7条线段，线段0-线段6，由正态分布曲线0，公差带上偏差线段1、下偏差线段2、公差带高度上线段3和公差带高度下线段4组成，线段5、线段6对应的是两端点μ±3σ虚线段；每条线段由(Xi,Yi)组成，每个Xi，Yi分别由一维数组组成，由于有n个，加上正态分布曲线的两端点μ±3σ，共n+2个数，数组大小全部设为n+2。此处假设100个尺寸数据，公差带高度可为任意值常数k，此处假定k为0.01；步骤二：正态分布曲线0：X0i由采集的100个数据按由小到大顺序导入，再加上2个μ±3σ组成；Y0i通过公式节点由导入的X0i，通过公式(1) y = 1 σ 2 π e - 1 2 ( x - μ σ ) 2 - - - ( 1 ) ]]>计算出Y0i公差带上偏差线段1：X1i由102个上偏差值组成；Y1i由1个高度值0.01和101个0组成；公差带下偏差线段2：X2i由102个下偏差值组成；Y2i由1个高度值0.01和101个0组成；公差带高度上线段3：X3i由101个下偏差值与1个上偏差值组成；Y3i由102个高度值0.01组成；公差带高度下线段4：X4i由101个下偏差值与1个上偏差值组成；Y4i由102个0组成；正态分布曲线μ-3σ线段5：X5i由102个μ-3σ组成；Y5i由1个μ-3σ通过公式(1)计算出Y值和101个0组成；正态分布曲线μ+3σ线段6：X6i由102个μ+3σ组成；Y6i由1个μ-3σ(μ±3σ的Y值相同)通过公式(1)计算出Y值和101个0组成；步骤三：通过LabVIEW中创建数组、数组插入、初始化数组、公式节点函数，把X0i至X6i组成新的数组Xi，Y0i至Y6i组成新的数组Yi，再通过创建XY图函数，可准确显示分布曲线与公差带二维图；步骤四：可视化显示合格品率和废品率，并快速判断是可修复废品率还是不可修复废品率。本专利技术技术效果是：效率高、成本低，界面友好，可视化、操作方便，可扩展为两个二维多线段图形的组合显示，通过可视化的作图快速提高判断废品率。附图说明图1为本专利技术的分布曲线与公差带线段组合图。图2为本专利技术的分布曲线与公差带二维图前面板图。图3为本专利技术的分布曲线与公差带二维图框图程序图。图4为本专利技术的废品率显示图。具体实施方式本专利技术通过以下技术方案实现的：一种快速判断废品率的作图方法，其特征在于方法步骤如下：步骤一：把正态分布曲线与公差带图分成7条线段，线段0-线段6，如图1所示，由正态分布曲线0，公差带上偏差线段1、下偏差线段2、公差带高度上线段3和公差带高度下线段4组成，线段5、线段6对应的是两端点μ±3σ虚线段；每条线段由(Xi,Yi)组成，每个Xi，Yi分别由一维数组组成，由于有n个，加上正态分布曲线的两端点μ±3σ，共n+2个数，数组大小全部设为n+2。此处假设100个尺寸数据，公差带高度可为任意值常数k，此处假定k为0.01；步骤二：正态分布曲线0：X0i由采集的100个数据按由小到大顺序导入，再加上2个μ±3σ组成；Y0i通过公式节点由导入的X0i，通过公式(1) y = 1 σ 2 π e - 1 2 ( x - μ σ ) 2 - - - ( 1 ) ]]>(μ为随机变量总体的算术平均值，n为工件数)。为随机变量的标准差。μ、σ是正态分布曲线的两个重要参数，μ影响曲线的位置，表示尺寸分散中心的位置。σ确定曲线的形状，表示尺寸分散范围大小。正态分布曲线的分布范围为μ±3σ。μ±3σ的大小代表了某一种加工方法在规定的条件下所能达到的加工精度。所以在一般情况下，应使公差带的宽度T和σ之间具有下列关系:6σ≤T，如果尺寸分散带大于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快速判断废品率的作图方法，其特征在于方法，步骤如下：步骤一：把正态分布曲线与公差带图分成7条线段，线段0‑线段6，由正态分布曲线0，公差带上偏差线段1、下偏差线段2、公差带高度上线段3和公差带高度下线段4组成，线段5、线段6对应的是两端点μ±3σ虚线段；每条线段由(Xi,Yi)组成，每个Xi，Yi分别由一维数组组成，由于有n个，加上正态分布曲线的两端点μ±3σ，共n+2个数，数组大小全部设为n+2。此处假设100个尺寸数据，公差带高度可为任意值常数k，此处假定k为0.01；步骤二：正态分布曲线0：X0i由采集的100个数据按由小到大顺序导入，再加上2个μ±3σ组成；Y0i通过公式节点由导入的X0i，通过公式(1)y=1σ2πe-12(x-μσ)2---(1)]]>计算出Y0i公差带上偏差线段1：X1i由102个上偏差值组成；Y1i由1个高度值0.01和101个0组成；公差带下偏差线段2：X2i由102个下偏差值组成；Y2i由1个高度值0.01和101个0组成；公差带高度上线段3：X3i由101个下偏差值与1个上偏差值组成；Y3i由102个高度值0.01组成；公差带高度下线段4：X4i由101个下偏差值与1个上偏差值组成；Y4i由102个0组成；正态分布曲线μ‑3σ线段5：X5i由102个μ‑3σ组成；Y5i由1个μ‑3σ通过公式(1)计算出Y值和101个0组成；正态分布曲线μ+3σ线段6：X6i由102个μ+3σ组成；Y6i由1个μ‑3σ(μ±3σ的Y值相同)通过公式(1)计算出Y值和101个0组成；步骤三：通过LabVIEW中创建数组、数组插入、初始化数组、公式节点函数，把X0i至X6i组成新的数组Xi，Y0i至Y6i组成新的数组Yi，再通过创建XY图函数，可准确显示分布曲线与公差带二维图；步骤四：可视化显示合格品率和废品率，并快速判断是可修复废品率还是不可修复废品率。...

【技术特征摘要】
1.一种快速判断废品率的作图方法，其特征在于方法，步骤如下：
步骤一：把正态分布曲线与公差带图分成7条线段，线段0-线段
6，由正态分布曲线0，公差带上偏差线段1、下偏差线段2、公差带高
度上线段3和公差带高度下线段4组成，线段5、线段6对应的是两端
点μ±3σ虚线段；每条线段由(Xi,Yi)组成，每个Xi，Yi分别由一维
数组组成，由于有n个，加上正态分布曲线的两端点μ±3σ，共n+2
个数，数组大小全部设为n+2。此处假设100个尺寸数据，公差带高
度可为任意值常数k，此处假定k为0.01；
步骤二：正态分布曲线0：X0i由采集的100个数据按由小到大顺
序导入，再加上2个μ±3σ组成；Y0i通过公式节点由导入的X0i，通
过公式(1)
y = 1 σ 2 π e - 1 2 ( x - μ ...

【专利技术属性】
技术研发人员：万文，路冬，宋文庆，高延峰，
申请(专利权)人：南昌航空大学，
类型：发明
国别省市：江西;36