【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种三维扫描仪校正方法，包含下列步骤：使一三维扫描仪的一结构光模块投射一结构光线于一校正平面；设定一基准面，该基准面与该校正平面平行，该结构光模块与该基准面之间具有一夹角；改变该三维扫描仪与该校正平面的相对距离，并使该三维扫描仪的一图像撷取模块分别撷取该三维扫描仪与该校正平面的相对距离为一第一距离及一第二距离时该结构光线投射于该校正平面上的一第一图像及一第二图像；执行一图像处理程序分别分析该第一图像及该第二图像，以分别计算该结构光线于该第一图像的一第一估测线段方程式及该结构光线于该第二图像的一第二估测线段方程式；以及根据该第一距离、该第二距离、该第一估测线段方程式及该第二估测线段方程式计算该结构光模块与该基准面的该夹角。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：邱威尧，张俊隆，吕尚杰，江博通，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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