【技术实现步骤摘要】
检查装置及检查装置的控制方法
本专利技术涉及使用在物体上投影有图案图像的状态下拍摄的图像对该物体进行检查的检查装置。
技术介绍
以往,研究使用图像测量物体的三维形状的方法。例如,称为主动三角测量法或主动立体法的方法是在通过投影仪在物体上投影有图案图像(条纹图案或点图案等)的状态下进行拍摄,通过分析根据物体表面的凹凸产生的图案或亮度的变化,获取物体的三维信息的技术。作为主动三角测量法的例子,已经将相移法、空间编码法等实用化。在这些方法中,有时会产生在物体反射的光使存在于周围的其他的物体的测量精度降低这样的现象。参照图12说明该现象。图12示出了使用了拍摄装置200与投影仪201的测量系统。从投影仪201将具有规定的图案的光201L投影在物体202上,通过拍摄装置200拍摄映摄在物体202表面上的投影图案。此时,由物体202的表面凹凸导致的投影图案的变形以通过拍摄装置200拍摄的图像的亮度变化的方式呈现。因此,根据图像的亮度变化,能够确定投影仪201和物体202表面上的点及拍摄装置200的位置关系,并且能够推断物体202表面的高度(三维位置)。但是,如图12所示,若物体202的附近存在较高的物体203,则投影仪201的光201L在物体203的侧面发生镜面反射或漫反射,有时会出现该反射光203L照射在物体202的表面的情况。这样一来,在从物体202的表面到达拍摄装置200的光中,不仅包括投影仪201的光201L的反射光(一次反射光)201R,而且还包括来自物体203的光203L的反射光(二次反射光)203R ...
【技术保护点】
一种检查装置,其特征在于,具有:拍摄装置,投影装置,在所述拍摄装置的视野内投影图案图像,信息处理装置,使用在从所述投影装置投影了图案图像的状态下通过所述拍摄装置拍摄的图像,进行包括在所述拍摄装置的视野内的一个以上的物体的检查,以及控制装置,控制所述拍摄装置及所述投影装置;在所述拍摄装置的视野内,在因其他的物体的反射面反射的光会导致发生二次反射的二次反射物体存在的情况下,所述控制装置变更从所述投影装置投影的图案图像的投影范围以使光不会到达所述反射面,在投影了变更投影范围后的图案图像的状态下进行通过所述拍摄装置拍摄所述二次反射物体的控制。
【技术特征摘要】
2015.01.13 JP 2015-0042531.一种检查装置,其特征在于,具有:
拍摄装置,
投影装置,在所述拍摄装置的视野内投影图案图像,
信息处理装置,使用在从所述投影装置投影了图案图像的状态下通过所述拍摄装置拍摄的图像,进行包括在所述拍摄装置的视野内的一个以上的物体的检查,以及
控制装置,控制所述拍摄装置及所述投影装置;
在所述拍摄装置的视野内,在因其他的物体的反射面反射的光会导致发生二次反射的二次反射物体存在的情况下,
所述控制装置变更所述拍摄装置的视野内的所述二次反射物体的位置以使所述二次反射物体到达所述拍摄装置的视野内的中心位置后,将从所述投影装置投影的图案图像的投影范围变更为该视野的中心的规定范围以使光不会到达所述反射面,在投影了变更投影范围后的图案图像的状态下进行通过所述拍摄装置拍摄所述二次反射物体的控制。
2.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,还具有:
存储装置,存储检查程序,所述检查程序包括用于从成为检查的对象的多个物体内确定二次反射物体的信息;
所述控制装置根据所述检查程序,判断在所述拍摄装置的视野内是否存在二次反射物体。
3.如权利要求2所述的检查装置,其特征在于,
所述检查程序包括拍摄二次反射物体时的拍摄条件的信息,
所述控制装置根据所述拍摄条件的信息,变更在拍摄所述二次反射物体时投影的图案图像的投影范围。
4.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置,其特征在于,还具有:
图案图像存储部,预先存储投影范围互不相同的多个图案图像的数据;
在所述拍摄装置的视野内存在所述二次反射物体的情况下,所述控制装置从存储于所述图案图像存储部的所述多个图案图像中,选择虽然将所述二次反射物体包括在投影范围内但是并未将所述反射面包括在投影范围内的图案图像,将从所述投影装置投影的图案图像变更为选择的所述图案图像。
5.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置,其特征在于,
在所述拍摄装置的视野内存在所述二次反射物体的情况下,
所述控制装置根据所述二次反射物体或所述反射面的位置及尺寸的信息,生成虽然将所述二次反射物体包括在投影范围内但是并未将所述反射面包括在投影范围内的图案图像,将从所述投影装置投影的图案图像变更为生成的所述图案图像。
6.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置,其特征在于,
在所述拍摄装置的视野内存在所述二次反射物体的情况下,从所述投影装置投影的图案图像的投影范围是在所述拍摄装置的视野内不存在...
【专利技术属性】
技术研发人员:藤井心平,西贵行,川岛优人,
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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