一种用于在电子束上开展剂量计性能研究的恒温模体装置制造方法及图纸

技术编号:13348548 阅读:84 留言:0更新日期:2016-07-15 02:15
本发明专利技术属于辐射剂量技术领域,公开了一种用于在电子束上开展剂量计剂量学性能研究的恒温模体装置。该装置适用的电子束能量范围为10MeV以上;该装置包括辐照模体、水循环系统及温度控制系统,其中水循环系统分别与辐照模体及温度控制系统连接。该装置可在电子直线加速器引出的电子束流上开展剂量计剂量学性能研究尤其是温度响应研究,以对吸收剂量等剂量学参数进行修正。

【技术实现步骤摘要】
一种用于在电子束上开展剂量计性能研究的恒温模体装置
本专利技术属于辐射剂量
,具体涉及一种用于在电子束上开展剂量计剂量学性能研究的恒温模体装置。
技术介绍
随着辐射加工技术的发展,越来越多的60Coγ辐照装置、电子加速器被建立起来,如何准确、可靠地测量被照产品中所受的吸收剂量,监测和控制辐照装置的工艺参数,提高辐照质量已成为计量监督部门和辐照单位共同关注的问题。目前用于60Coγ射线、电子束中剂量监督测量的剂量计有如液体化学剂量计、辐射变色薄膜剂量计、CTA薄膜剂量计、丙氨酸剂量计等,这些不同种类剂量计辐照时剂量响应可能会受到辐照温度的影响。因此,在研究剂量计剂量学性能时,有必要研究其辐照温度响应,确定剂量计响应随温度的变化趋势。当研究发现该剂量计辐照温度响应系数不可忽略时,有必要对辐照温度进行监测以便对吸收剂量测量结果进行修正。考虑到钴源相对于电子束辐照装置的稳定性,对于低量程(≤104Gy)的剂量计如液体化学剂量计、丙氨酸剂量计等辐照温度响应实验一般在60Coγ射线辐照下进行。而对于高量程(104-106Gy)的剂量计,在做温度响应实验时,由于辐照剂量相当高,如果钴源辐照位本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于在电子束上开展剂量计剂量学性能研究的恒温模体装置,其特征在于,该装置适用的电子束能量范围为10MeV以上;该装置包括辐照模体、水循环系统及温度控制系统,其中水循环系统分别与辐照模体及温度控制系统连接;所述辐照模体主要包括中间部分的辐照模体主体及位于两侧的进水管、出水管;所述辐照模体主体为空心长方体形状,主要由密封焊接在一起上面板、下面板和中间框体组成,其中上面板或下面板均可作为辐照面,中间框体的一侧内部焊接有用于放置剂量计容纳柱的剂量计套管及用于放置温度计的温度计套管,剂量计容纳柱用于放置剂量计;该剂量计套管和温度计套管形状和结构一致,壁厚为0.8~1.2mm,内径为10~12mm,轴向长...

【技术特征摘要】
1.用于在电子束上开展剂量计剂量学性能研究的恒温模体装置,其特征在于,该装置适用的电子束能量范围为10MeV以上;该装置包括辐照模体、水循环系统及温度控制系统,其中水循环系统分别与辐照模体及温度控制系统连接;所述辐照模体主要包括中间部分的辐照模体主体及位于两侧的进水管、出水管;所述辐照模体主体为空心长方体形状,主要由密封焊接在一起上面板、下面板和中间框体组成,其中上面板或下面板均可作为辐照面,中间框体的一侧内部焊接有用于放置剂量计容纳柱的剂量计套管及用于放置温度计的温度计套管,剂量计容纳柱用于放置剂量计;该剂量计套管和温度计套管形状和结构一致,壁厚为0.8~1.2mm,内径为10~12mm,轴向长度为辐照模体上面板长度的1/3~1/2,并且下端密封,上端开口且与中间框体密封焊接在一起;所述温度计套管的数量为1个以上,用于监测温度分布情况;所述剂量计套管的数量为1个或多个,其径向中心距离辐照面的距离及辐照面的厚度要满足该种电子束能量下辐照模体内剂量计的吸收剂量与辐照面外表面的吸收剂量一致;所述进水管、出水管分别焊接在中间框体的两侧,并且进水管和出水管上分别设置有进水孔和出水孔;所述水循环系统包括水循环进水管、水循环出水管及循环水泵,其中水循环进水管和水循环出水管的一端分别与辐照模体进水管的进水孔及辐照模体出水管的...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈义珍陈克胜张卫东李明叶宏生林敏徐利军夏文
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:北京;11

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