尺寸测量治具及检验装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种尺寸测量模具，用于测量金属基的尺寸，包括：第一孔，设置在所述尺寸测量模具的上表面；第二孔，设置在所述尺寸测量模具的下表面，与所述第一孔的位置相对；其中，所述第一孔与所述第二孔连通使所述尺寸测量模具形成一个通孔，并且所述第一孔的尺寸大于所述第二孔的尺寸。相应地，本发明专利技术还提供了一种检验装置。通过本发明专利技术的技术方案，采用尺寸测量模具对金属基的各个面的尺寸进行测量，即降低了人为测量误差因素影响和工人的劳动强度，又可以通过该尺寸测量模具对金属基进行批量测量，从而提高了测量效率和金属基的品质。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及金属基领域，更具体而言，涉及一种尺寸测量治具及一种检验装置。
技术介绍
随着电路板高频高速的发展，各种金属基的混压及埋嵌技术也广泛推广。金属基的使用技术对金属基的尺寸要求严格，尺寸的上下偏差严格控制在±0.01mm～0.03mm的范围内，常规的金属基来料检验采用游标卡尺进行测量，但是采用游标卡尺测量会存在很多的缺点，如人为测量误差较大，测量效率低下，并且只能实现抽检，有品质漏失风险。因此如何减少金属基测量误差及提高测量效率及品质成为目前亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术正是基于上述问题，提出了一种新的技术方案，可以避免人为测量误差，提高测量效率及测量品质。有鉴于此，本专利技术提出了一种尺寸测量模具，用于测量金属基的尺寸，包括：第一孔，设置在所述尺寸测量模具的上表面；第二孔，设置在所述尺寸测量模具的下表面，与所述第一孔的位置相对；其中，所述第一孔与所述第二孔连通使所述尺寸测量模具形成一个通孔，并且所述第一孔的尺寸大于所述第二孔的尺寸。在该技术方案中，尺寸测量模具的上表面设计有第一孔，在与第一孔位置相对的下表面设计有第二孔，其中第一孔与第二孔连通使所述尺寸测量模具形成一个通孔，并且第一孔大于第二孔，这个尺寸测量模具是用来检测金属基的尺寸是否符合标准，如果检测的金属基符合标准，金属基会完全进入第一孔并不会进入第二孔。通过该技术方案，采用尺寸测量模具对金属基的各个面的尺寸进行测量，即降低了人为测量误差因素影响和工人的劳动强度，又可以通过该尺寸测量模具对金属基进行批量测量，从而提高了测量效率和金属基的品质。并且该尺寸测量模具结构简单，可以降低企业成本。在上述技术方案中，优选地，所述第一孔与所述第二孔的形状均为矩形。在该技术方案中，第一孔与第二孔的形状均包括但不限于矩形，该第一孔与第二孔的形状的设计与要检测的金属基的形状相互匹配。在上述技术方案中，优选地，所述通孔的剖面为阶梯状。在上述技术方案中，优选地，所述第一孔的尺寸为所述金属基的需测量面的公差上限值。在该技术方案中，将该尺寸测量模具的第一孔的尺寸设置为金属基需测量面的公差上限值，当将金属基需要检测的面投入尺寸测量模具中的第一孔时，如果金属基能够完全进入第一孔中且不掉入第二孔，说明金属基需检测的面符合标准，当金属基不能完全进入第一孔说明金属基的需检测的面过大，为不合格产品。在上述技术方案中，优选地，所述公差上限值为所述金属基的需测量面的标准值加上所述金属基的需测量面的上偏差。在该技术方案中，每个金属基的需测量的面都有一个标准值，但是不可能每个金属基需测量的面的尺寸和标准值相等，如果不与标准值相等就为不合格产品，这样不仅企业耗费的成本大，并且也很难实现，所以会对金属基的尺寸设置一个范围。其中，金属基的需测量面的标准值加上金属基的需测量面的上偏差就为金属基的公差上限值，也就是说，生产的金属基的最大尺寸不能超过公差上限值，否则为不合格产品。在上述技术方案中，优选地，所述第二孔的孔径为所述金属基需量被测面的公差下限值。在该技术方案中，将该尺寸测量模具的第二孔的尺寸设置为金属基需测量面的公差下限值，当将金属基需要检测的面投入尺寸测量模具中的第一孔时并且金属基完全进入到第一孔中时，如果该金属基不掉入第二孔，说明金属基需检测的面符合标准，当金属基掉入第二孔说明金属基的需检测的面过小，为不合格产品。在上述技术方案中，优选地，所述公差下限值为所述金属基的需测量面的标准值加上所述金属基的需测量面的下偏差。在该技术方案中，金属基不仅要小于等于公差上限值而且还要大于等于公差下限值，其中，公差下限值为金属基的需测量面的标准值加上金属基的需测量面的下偏差，只有金属基的需测量面的在公差上限值与公差下限值之间才算合格。在上述技术方案中，优选地，所述金属基为长方体或台阶体。在该技术方案中，所述金属基包括但不限于长方体或台阶体，并且该尺寸测量模具的形状可以根据金属基的形状进行调整，但采用的检测原理是相同的，都是根据公差上下限值来进行检测，这种检测方法既简单又准确，并且需要的成本又低，又可以批量的生产，减少工人劳动强度。本专利技术的另一方面提出了一种检验装置，包括上述技术方案中所述的尺寸测量模具。因此，该检验装置具有上述技术方案提供的尺寸测量模具的全部有益效果，在此不再赘述。在上述技术方案中，优选地，还包括：检测区，所述检测区内设置有至少一种所述尺寸测量模具。在该技术方案中，将检验装置内的检测区划分为三个检测区域，这三个检测区分别为长度检测区、宽度检测区和高度检测区，长度检测区内、宽度检测区内及高度检测去内分别放置有长度尺寸测量模具、宽度尺寸测量模具及高度尺寸测量模具，通过这三种尺寸测量模具依次对金属基的长、宽及高进行检验，检验其是否在规定的范围内。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1示出了根据本专利技术一实施例所述的尺寸测量治具的结构示意图；图2示出了根据本专利技术一实施例所述的尺寸测量治具测量的金属基的结构示意图；图3示出了根据本专利技术另一实施例所述的检验装置的结构示意图；图4示出了根据本专利技术另一实施例所述的检验装置的A处剖面结构示意图；图5示出了根据本专利技术另一实施例所述的检验装置的B处剖面结构示意图；图6示出了根据本专利技术另一实施例所述的检验装置的C处剖面结构示意图；图7示出了根据本专利技术一实施例所述的尺寸测量治具测量金属基的效果示意图。具体实施方式为了能够更清楚地理解本专利技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是，本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施，因此，本专利技术的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。图1示出了根据本专利技术一实施例所述的尺寸测量治具的结构示意图。如图1所示，根据本专利技术的一个实施例的尺寸测量模具，用于测量金属基的尺寸，包括：第一孔10，设置在所述尺寸测量模具2的上表面；第二孔11，设置在所述尺寸测量模具1的下表面，与所述第一孔10的位置相对；其中，所述第一孔10与所述第二孔11连通使所述尺寸测量模1具形成一个通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种尺寸测量模具，用于测量金属基的尺寸，其特征在于，包括：第一孔，设置在所述尺寸测量模具的上表面；第二孔，设置在所述尺寸测量模具的下表面，与所述第一孔的位置相对；其中，所述第一孔与所述第二孔连通使所述尺寸测量模具形成一个通孔，并且所述第一孔的尺寸大于所述第二孔的尺寸。

【技术特征摘要】
1.一种尺寸测量模具，用于测量金属基的尺寸，其特征在于，包括：
第一孔，设置在所述尺寸测量模具的上表面；
第二孔，设置在所述尺寸测量模具的下表面，与所述第一孔的位置相对；
其中，所述第一孔与所述第二孔连通使所述尺寸测量模具形成一个通孔，
并且所述第一孔的尺寸大于所述第二孔的尺寸。
2.根据权利要求1所述的尺寸测量模具，其特征在于，所述第一孔与所
述第二孔的形状均为矩形。
3.根据权利要求1所述的尺寸测量模具，其特征在于，所述通孔的剖面
为阶梯状。
4.根据权利要求1所述的尺寸测量模具，其特征在于，所述第一孔的尺
寸为所述金属基的需测量面的公差上限值。
5.根据权利要求4所述的尺寸测量模具，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李小晓，舒明，
申请(专利权)人：北大方正集团有限公司，重庆方正高密电子有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11