闪烁体的空间增益分布的确定制造技术

一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法，其不需要利用初级辐射来照射闪烁体。所述方法包括利用次级辐射照射闪烁体，以为所述次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像。所述空间次级增益分布图像与针对初极辐射的空间初级增益分布的图像相对应。在本发明专利技术的一个实施例中，即，在初级辐射是X射线辐射的X射线成像设备中，本发明专利技术提供X射线探测器的精确校准而不需要利用X射线辐射来照射X射线探测器。而是，利用UV辐射作为次级辐射的照射提供了可用于校准的所期望的空间次级增益分布图像。

【技术实现步骤摘要】
本申请是2008年4月9日提交的申请号为200880011645.8、名称为“闪烁体的空间增益分布的确定”的分案申请。
本专利技术涉及辐射探测器的领域，更具体而言，涉及包括闪烁体的辐射探测器。
技术介绍
EP0642264公开了一种图像探测设备，其具有用于探测X射线图像的半导体图像探测阵列，其中，基本上减轻了由于体模图像(phantomimage)导致的扰动。根据这一参考，由于辐射传感器元件的半导体材料中的电荷捕获而导致的延迟的电荷转移引起了这种扰动。根据参考的探测设备包括图像探测阵列，其包含：辐射敏感元件，其将入射辐射转换为电荷；以及读出线，其将电荷转移至读出电路，将所述读出电路布置为将所转移的电荷转换成初级电子图像信号。探测设备还包括校正电路以形成图像校正信号，所述信号用于通过去除由于来自初级电子图像信号的延迟的电荷转移导致的伪影而将初级电子图像信号转换成校正后的图像信号。可以将图像校正信号组合为图像的指数性延迟信号的叠加，在探测到当前所探测的图像之前探测到所述图像。随后从图像校正信号和包含伪影的图像信号中组合成校正后的图像信号。
技术实现思路
本专利技术的一个目的在于提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息。本专利技术的优势在于提供与针对初级辐射的与闪烁体的空间增益分布有关的该信息，而不需要对所述闪烁体施加初级辐射。另外，实现一种用于提供与闪烁体的空间增益分布有关的信息而不需要向所述闪烁体施加初级辐射的方法或辐射探测器设备将会是有利的。为了更好地解决这一问题，在本专利技术的第一方面中，提出了一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法。根据本专利技术的第一方面的方法包括如下步骤：利用次级辐射来照射闪烁体，以生成针对次级辐射的闪烁体的空间次级增益分布的图像，其中，所述空间次级增益分布图像对应于针对初级辐射的闪烁体的空间初级增益分布的图像。在本说明书和权利要求中，将“针对次级辐射的闪烁体的空间次级增益分布的图像”一词简写为“空间次级增益分布图像”。同样，将“针对初级辐射的闪烁体的空间初级增益分布的图像”一词简写为“空间初级增益分布图像”。根据本专利技术的第二方面，提出了一种辐射探测器设备，其包括用于接收初级辐射并且响应所述初级辐射产生经转换的初级辐射的闪烁体。所述辐射探测器设备还包括次级辐射源，其用于向闪烁体施加次级辐射以针对次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像，其中，空间次级增益分布图像与针对初级辐射的闪烁体的空间初级增益分布图像相对应。根据本专利技术的一个实施例，提出了一种方法，其还包括从闪烁体读取空间次级增益分布图像的步骤。根据本专利技术的另一实施例，提供相应的辐射探测器，所述辐射探测器包括用于从闪烁体读取次级空间增益分布图像的读出单元。根据本专利技术的另一实施例，提出了一种方法，其还包括通过相同的光探测器从闪烁体读取空间次级增益分布图像，所述相同的光探测器用于响应入射初级辐射来读取由闪烁体生成的转换后的初级辐射。该实施例的优势在于不需要用于读取空间次级增益分布图像的额外的光探测器。该实施例的另一优势在于从闪烁体开始，空间次级增益分布图像的光的光路径与转换后的初级辐射的光路径相同。根据本专利技术的另一实施例，提出了相应的辐射探测器设备，所述辐射探测器设备还包括光探测器，所述光探测器用于读取由闪烁体响应于入射的初级辐射生成的转换后的初级辐射，其中，还提供光探测器用于读取来自闪烁体的空间次级增益分布图像。根据本专利技术的另一实施例，提出了一种方法，所述方法包括如下步骤：在参考闪烁体状态下利用次级辐射来照射闪烁体，以生成次级增益分布的参考图像。这里，参考闪烁体状态可能为均匀增益分布的状态。另外，参考闪烁体状态可以为满足某一条件的增益分布状态，例如，其增益对比低于预定水平。此后，在实际闪烁体状态下利用次级辐射来照射闪烁体，以生成次级增益分布的实际图像。接着，根据参考空间次级增益分布图像以及实际空间次级增益分布图像生成空间次级增益分布的真正的实际图像。该实施例所具有的优势为通过利用参考空间次级增益分布图像和实际空间次级增益分布图像的两级校准将去除非均匀次级辐射的影响。根据本专利技术的另一实施例，提出了相应的辐射探测器设备，所述辐射探测器设备包括：控制单元，其用于控制次级辐射源以在参考闪烁体状态下利用次级辐射来照射闪烁体，以生成次级增益分布的参考图像；存储设备，其用于存储空间次级增益分布参考图像；以及控制次级辐射源，以在实际闪烁体状态下利用次级辐射来照射闪烁体，以生成次级增益分布的实际图像。该实施例的辐射探测器设备还包括处理单元，用于根据参考空间次级增益分布图像和实际空间次级增益分布图像生成空间次级增益分布的真正的实际图像。根据本专利技术的另一实施例，提出了一种方法，根据所述方法将初级辐射照射到闪烁体的第一表面部分上，以及将次级辐射照射闪烁体的第二表面部分上，所述闪烁体的第二表面部分与闪烁体的第一表面部分不同。该实施例所具有的优势为针对初级辐射的光路径与针对次级辐射的光路径完全分开。这使得能够使用在针对次级辐射的光路径中对初级辐射非透明的材料。根据本专利技术的另一实施例，闪烁体的第一表面部分可与闪烁体的第二表面部分相对。就利用初级辐射的光照而言，这允许均匀的闪烁体的光照。辐射探测器设备的相应的实施例包括针对初级辐射的第一辐射路径和针对次级辐射的第二辐射路径，其中，所述第一辐射路径和所述第二辐射路径分别终止于闪烁体的不同表面部分。根据本专利技术的另一实施例，提出了一种方法，其中将初级辐射和次级辐射照射到闪烁体的共同表面部分上。这所具有的优势为可以在不适于初级辐射和次级辐射的贯穿照射的衬底上提供闪烁体。辐射探测器设备的相应的实施例包括针对初级辐射的第一辐射路径和针对次级辐射的第二辐射路径，其中，所述第一辐射路径和所述第二辐射路径均终止于闪烁体的相同表面部分。根据本专利技术的另一实施例，初级辐射为X射线辐射，次级辐射为非X射线辐射，例如紫外(UV)辐射。该实施例具有的优势为可以获得与针对X射线辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息而不使用X射线辐射，即没有人员和/或患者暴露于X射线辐射。根据本专利技术的另一实施例，提出了一种成像方法，包括以下步骤：1、提供具有光探测器和闪烁体的辐射探测器设备，所述闪烁体响应于入射到闪烁体上的初级辐射生成转换后的初级辐射，并且所述光探测器探测所述...

【技术保护点】
一种提供与针对初级辐射(6)的闪烁体(12)的空间增益分布有关的信息的方法，所述方法包括以下步骤：利用次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，以生成针对所述次级辐射(22)的所述闪烁体(12)的空间次级增益分布的图像，其中，所述空间次级增益分布图像对应于针对所述初级辐射(6)的所述闪烁体(12)的所述空间初级增益分布的图像，并且其中，所述次级辐射为紫外辐射并且所述初级辐射(6)为X射线辐射，其中，利用次级辐射照射所述闪烁体(12)的步骤包括：在明亮发光事件之前在参考闪烁体状态下利用所述次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，以生成次级增益分布的参考图像，所述明亮发光事件是由于对所述闪烁体(12)中的电荷载体的捕获而导致的；在获取实际初级辐射图像之前并且在所述明亮发光事件之后在实际闪烁体状态下利用所述次级辐射照射所述闪烁体(12)，以生成次级增益分布的实际图像；并且根据所述次级增益分布的参考图像和所述次级增益分布的实际图像生成空间次级增益分布的真正实际图像，其中，所述次级辐射(22)通过光电二极管(16)之间的空间(28)。

【技术特征摘要】
2007.04.12 EP 07106048.71.一种提供与针对初级辐射(6)的闪烁体(12)的空间增益分布有
关的信息的方法，所述方法包括以下步骤：
利用次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，以生成针对所述次级辐射
(22)的所述闪烁体(12)的空间次级增益分布的图像，其中，所述空间
次级增益分布图像对应于针对所述初级辐射(6)的所述闪烁体(12)的所
述空间初级增益分布的图像，并且其中，所述次级辐射为紫外辐射并且所
述初级辐射(6)为X射线辐射，
其中，利用次级辐射照射所述闪烁体(12)的步骤包括：
在明亮发光事件之前在参考闪烁体状态下利用所述次级辐射(22)照
射所述闪烁体(12)，以生成次级增益分布的参考图像，所述明亮发光事件
是由于对所述闪烁体(12)中的电荷载体的捕获而导致的；
在获取实际初级辐射图像之前并且在所述明亮发光事件之后在实际闪
烁体状态下利用所述次级辐射照射所述闪烁体(12)，以生成次级增益分
布的实际图像；并且
根据所述次级增益分布的参考图像和所述次级增益分布的实际图像生
成空间次级增益分布的真正实际图像，
其中，所述次级辐射(22)通过光电二极管(16)之间的空间(28)。
2.根据权利要求1所述的方法，还包括以下步骤：
由光探测器(14)从所述闪烁体(12)读取所述空间次级增益分布图
像，提供所述光探测器以读取由所述闪烁体(12)响应于入射初级辐射(6)
而生成的转换后的初级辐射(18)。
3.根据权利要求1所述的方法，其中
所述闪烁体(12)具有第一表面部分(24)和与所述第一表面部分相
对的第二表面部分(26)；
将所述初级辐射(6)照射到所述闪烁体的所述第一表面部分(24)；
以及
将所述次级辐射(22)照射到所述闪烁体的所述第二表面部分(26)。
4.根据权利要求1所述的方法，其中
将所述初级辐射(6)和所述次级辐射(22)照射到所述闪烁体(12)
的公共表面部分(324)上。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述初级辐射(6)为X射线
辐射。
6.一种成像方法，包括：
提供具有光探测器(14)和闪烁体(12)的辐射探测器设备(10)，所
述闪烁体响应于入射到所述闪烁体(12)上的初级辐射(6)生成转换后的
初级辐射(18)，并且所述光探测器(14)探测所述转换后的初级辐射(18)；
利用所述探测器的所述闪烁体(12)执行根据权利要求1所述的方法，
由此生成所述闪烁体(12)的所述空间次级增益分布图像；
通过接收初级辐射(6)利用所述辐射探测器设备(10)获取初级辐射
图像；
生成响应于所述空间次级增益分布图像的校正后的初级辐射图像，
其中，所述刺激辐射(22)通过光电二极管(16)之间的空间(28)。
7.一种提供与针对初级辐射(6)的闪烁体(12)的空间增益分布有
关的信息的装置，所述装置包括：
用于利用次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，以生成针对所述次级
辐射(22)的所述闪烁体(12)的空间次级增益分布的图像的模块，其中，
所述空间次级增益分布图像对应于针对所述初级辐射(6)的所述闪烁体
(12)的所述空间初级增益分布的图像，并且其中，所述次级辐射为紫外
辐射并且所述初级辐射(6)为X射线辐射，
其中，用于利用次级辐射照射所述闪烁体(12)...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·M·斯诺尔仁，H·施泰因豪泽，N·J·努尔德霍尔克，M·西蒙，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰;NL