一种多天线移动终端的上行性能测试系统及方法技术方案

技术编号:13301120 阅读:63 留言:0更新日期:2016-07-09 18:37
本发明专利技术提供了一种多天线移动终端上行发射性能的测试系统及方法,主要包括:多天线待测终端,用于产生并发送L路信号;信号分组单元,用于对L路信号进行处理,形成K条多径信号,并将所述K条多径信号分为N组多径信号后输出;探测天线分配单元,用于根据全消声暗室中的探测天线数量及位置信息,将N组多径信号分配给相应的探测天线;测试单元,用于将N组多径信号通过探测天线发送给基站模拟器,并通过基站模拟器对接收到的信号进行处理并测量,得到所述多天线待测终端的上行发射性能。本发明专利技术能在真实环境下对多天线终端进行上行发射性能的测试。

【技术实现步骤摘要】
201610051997

【技术保护点】
一种多天线移动终端的上行性能测试系统,其特征在于,包括:多天线待测终端,用于产生并发送L路信号,其中,L为所述多天线待测终端的天线数;信号分组单元,用于对所述L路信号进行处理,形成K条多径信号,并将所述K条多径信号分为N组多径信号后输出;探测天线分配单元,用于根据全消声暗室中的探测天线数量及位置信息,将所述N组多径信号分配给相应的探测天线;测试单元,用于将所述N组多径信号通过探测天线发送给基站模拟器,并通过所述基站模拟器对接收到的信号进行处理并测量,得到所述多天线待测终端的上行发射性能。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王强张康乐张建华田磊董悦齐航刘萌萌徐超刘健
申请(专利权)人:北京邮电大学
类型:发明
国别省市:北京;11

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