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一种基于中心频移的谐波参数估计算法制造技术

技术编号:13290909 阅读:57 留言:0更新日期:2016-07-09 09:23
本发明专利技术公开了一种基于中心频移的谐波参数估计算法,包括以下步骤:首先对谐波信号进行离散采样,然后对离散信号加汉宁窗截断数据并进行FFT计算;分析由FFT计算得到的谐波频谱,搜寻基波谱线并判断其位置是否位于量化频点的二分之一处。若是,则直接进行后续步骤;若不是,则根据距离差D对整体信号进行中心频移。在频移后的频谱中搜寻各次谐波谱峰的位置khm,依据各次谐波谱线位于量化频点二分之一处的条件,和同时考虑其对应的偏移因数Eh,对信号的幅值、频率和相角进行估算。本发明专利技术具有分析精度高,实时性高,抗干扰性强等特点,适用于电力系统中的谐波检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电力系统谐波信号检测
,尤其涉及一种基于中心频移的谐波参数估计算法
技术介绍
随着非线性设备使用量的增加,由其引起的谐波污染问题也越来越严重。这些问题不仅威胁到电力系统的安全运行,也缩短了电力系统中设备的使用寿命,所以高精度的谐波分析一直是人们研究的热点。快速傅里叶变化(fastFouriertransform,FFT)是一种应用极为广泛的信号处理方法。在长期的实际应用和理论分析中发现,由FFT计算得到的频谱在估算谐波参数时,会产生极大的误差。减小这种误差使用最为广泛的校正方法是插值法,即寻找频率归一后最接近主瓣峰值的两条谱线,并根据它们的窗谱函数的比值建立一个以频率参数为变量的方程,然后求解校正频率,同时估算出幅值和相角。为了提高插值法的精确度,会选用旁瓣性能更好的窗函数,比如Rife-Vincent窗、Nuttall窗和自卷积窗;或者是参考更多谱线信息。这些改进算法在提高精确度的同时会出现以下问题:(1)算法复杂;无论是改用更高性能的窗函数,还是增加参考谱线的个数,都会加大算法的复杂程度,使得谐波计算时间变长,影响算法的实时性。(2)抗干扰性弱;在实际环境中,以上的改进算法会使算法中受干扰的因素更多,难以保证谐波检测在干扰环境中的可靠性。所以现有的谐波检测环境更需要一种计算简便、抗干扰性强的谐波计算方法。
技术实现思路
针对现有的谐波分析算法过程复杂和抗干扰性弱的缺点,本专利技术提出了一种基于中心频移的谐波参数估计算法。本专利技术提出的算法与传统的加窗插值算法相比,省去了拟合插值的过程,同时利用中心频移的方法提高了算法的抗干扰性,更适用于电力系统中的谐波检测。本专利技术所采用的技术方案是:一种基于中心频移的谐波参数估计算法,包括以下步骤:步骤1:待测谐波信号s(t)进行采样得到离散信号s(n),然后对离散信号s(n)加汉宁窗函数,即sw(n)=s(n)·w(n),最后sw(n)进行FFT计算得到频谱Sw(k);步骤2:搜寻基波谱线,判断其位置是否位于量化频点的二分之一;若是,则直接进行后续步骤;若不是,则根据距离差D对整体信号进行时域频移,得到sD(n),然后经过FFT计算得到新的频谱SD(k);步骤3:搜寻各次谐波谱峰的位置khm,然后依据各次谐波谱线位于量化频点二分之一处的条件,和同时考虑其对应的偏移因数Eh,对信号的幅值、频率和相角进行估算。计算基波谱线与量化频点二分之一处距离D的公式为:D=12-|Sw(k1m+r)||Sw(k1m+r)|+|Sw(k1m)|]]>其中,|Sw()|为信号谱线的幅值;k1m为基波谱峰对应的位置;当|Sw(k1m+1)|>|Sw(k1m-1)|时,r=1;当|Sw(k1m+1)|<|Sw(k1m-1)|时,r=-1。上式中的谱线幅值易于得到,用来估算谐波谱线位置简单可靠。所述的判断基波谱线位置是否位于量化频点的二分之一处的方法是:比较距离D与阈值ε的大小,当D>ε时,可认为基波谱线不位于量化频点的二分之一处,否则条件成立;阈值ε大小可视实际精度要求而定,通过阈值判断频移是否,可以减轻算法的运算量。所述各次谐波对应的偏移因素Eh是:Eh=12-|SD(khm+l)||SD(khm)|+|SD(khm+l)|]]>其中,|SD()|为频移后信号谱线的幅值;khm为第h次谐波谱峰对应的位置;当|SD(khm+1)|>|SD(khm-1)|时,l=1;当|SD(khm+1)|<|SD(khm-1)|时,l=-1;估算谐波参数时考虑到偏移因素,可协助校正各次谐波的谱线位置,增加算法的估算精度。所述信号的幅值估算公式为:Ah=2·[|SD(khm)|+|SD(khm+l)|]|W(-12l+l·Eh)|+|W(12l+l·Eh)|]]>其中,|W()|为窗函数频域幅值表达式,|SD()|为频移后信号谱线的幅值;Eh为各次谐波对应的偏移因素;khm为第h次谐波谱峰对应的位置;当|SD(khm+1)|>|SD(khm-1)|时,l=1;当|SD(khm+1)|<|SD(khm-1)|时,l=-1。所述信号的频率估算公式为:fh=(khm+l2-l·Eh-r·D)·Δf]]>其中,fs为信号采样频率,N为采样个数,Eh为各次谐波对应的偏移因素。所述信号的相角估算公式为:其中,|SD()|为频移后信号谱线的幅值;Eh为各次谐波对应的偏移因素;khm为第h次谐波谱峰对应的位置。本专利技术一种基于中心频移的谐波参数估计算法,有益效果如下:1)、实时性高:本专利技术提出的算法与传统加窗插值的算法相比,省去了拟合插值的步骤,缩短了运算时间,提高了算法在实际应用中的实时性。2)、抗干扰性强:本方专利技术加入了中心频移的步骤,该步骤可保证双谱线幅值近乎相等,不会存在次谱线幅值过弱造成精度受环境干扰影响较大的情况。3)、精度高:本专利技术在估算谐波参数的过程中加入了偏移因素的概念,用偏移因素来修正谐波谱线的位置,可以抑制在频移过程中算法受到的影响,从来提高参数估算的精确度。4)、易于嵌入式系统的运用:本专利技术算法步骤简便,易于编程与应用于嵌入式系统中。附图说明图1为本专利技术算法的流程图。图2为本专利技术信号中心频移示意图。图3为本专利技术白噪声下频率相对误差对比图。图4为本专利技术白噪声下幅值相对误差对比图。图5为本专利技术白噪声下相角相对误差对比图。具体实施方式一种基于中心频移的谐波参数估计算法,包括以下步骤:步骤1:待测谐波信号s(t)进行采样得到离散信号s(n),然后对离散信号s(n)加汉宁窗函数,即sw(n)=s(n)·w(n),最后sw(n)进行FFT计算得到频谱Sw(k);步骤2:搜寻基波谱线,判断其位置是否位于量化频点的二分之一;若是,则直接进行后续步骤;若不是,则根据距离差D对整体信号进行时域频移,得到sD(n),然后经过FFT计算得到新的频谱SD(k);步骤3:搜寻各次谐波谱峰的位置khm,然后依据各次谐波谱线位于量化频点二分之一处的条件,和同时考虑其对应的偏移因数Eh,对信号的幅值、频率和相角进行估算。计算基波谱线与量化频点二分之一处距离D的公式为:D=12-|Sw(k1m+r)||Sw(k1m+r)|+|Sw(k1m)|]]>其中,|Sw()|为信号谱线的幅值;k1m为基波谱峰对应的位置;当|Sw(k1m+1)|>|S本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于中心频移的谐波参数估计算法,其特征在于包括以下步骤:步骤1:待测谐波信号s(t)进行采样得到离散信号s(n),然后对离散信号s(n)加汉宁窗函数,即sw(n)=s(n)·w(n),最后sw(n)进行FFT计算得到频谱Sw(k);步骤2:搜寻基波谱线,判断其位置是否位于量化频点的二分之一;若是,则直接进行后续步骤;若不是,则根据距离差D对整体信号进行时域频移,得到sD(n),然后经过FFT计算得到新的频谱SD(k);步骤3:搜寻各次谐波谱峰的位置khm,然后依据各次谐波谱线位于量化频点二分之一处的条件,和同时考虑其对应的偏移因数Eh,对信号的幅值、频率和相角进行估算。

【技术特征摘要】
1.一种基于中心频移的谐波参数估计算法,其特征在于包括以下步骤:
步骤1:待测谐波信号s(t)进行采样得到离散信号s(n),然后对离散信号s(n)加汉宁
窗函数,即sw(n)=s(n)·w(n),最后sw(n)进行FFT计算得到频谱Sw(k);
步骤2:搜寻基波谱线,判断其位置是否位于量化频点的二分之一;若是,则直接进
行后续步骤;若不是,则根据距离差D对整体信号进行时域频移,得到sD(n),然后经过
FFT计算得到新的频谱SD(k);
步骤3:搜寻各次谐波谱峰的位置khm,然后依据各次谐波谱线位于量化频点二分之一
处的条件,和同时考虑其对应的偏移因数Eh,对信号的幅值、频率和相角进行估算。
2.根据权利要求1所述一种基于中心频移的谐波参数估计算法,其特征在于,计算基波
谱线与量化频点二分之一处距离D的公式为:
D=12-|Sw(k1m+r)||Sw(k1m+r)|+|Sw(k1m)|]]>其中,|Sw()|为信号谱线的幅值;k1m为基波谱峰对应的位置;当|Sw(k1m+1)|>|Sw(k1m-1)|时,
r=1;当|Sw(k1m+1)|<|Sw(k1m-1)|时,r=-1。上式中的谱线幅值易于得到,用来估算谐波谱线
位置简单可靠。
3.根据权利要求1所述的基于中心频移的谐波参数估计算法,其特征在于,所述的判断
基波谱线位置是否位于量化频点的二分之一处的方法是:比较距离D与阈值ε的大小,当
D>ε时,可认为基波谱线不位于量化频点的二分之一处,否则条件成立;阈值ε大小可视
实际精度要求而定,通过阈值判断频移是否,可以减轻算法的运算量。
4.根据权利要求1所述的基于中心频移的谐波参数估计算法,其特征在于,所述各次谐...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐艳春刘宇龙李振华李振兴
申请(专利权)人:三峡大学
类型:发明
国别省市:湖北;42

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