石榴石闪烁体组分制造技术

技术编号:13238200 阅读:87 留言:0更新日期:2016-05-15 00:33
本发明专利技术涉及由化学式(LuyGd3-y)(GaxAl5-x)O12:Ce表示的陶瓷或多晶石榴石组分,其中,y=1±0.5;其中,x=3±0.25;并且其中,Ce在0.01mol%到0.7mol%的范围中。闪烁体组分应用于对电离辐射的灵敏的探测,并且例如可以被用在PET成像领域中对伽马光子的探测。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于在对电离辐射的探测中使用的石榴石闪烁体组分。本专利技术尤其应用于对伽马光子的探测并且可以在PET成像的领域中使用。
技术介绍
在对电离辐射的探测中使用的闪烁体组分通过生成闪烁光的脉冲来对高能光子的接收做出响应。高能光子例如可以是X射线或伽马光子,并且所得到的光脉冲通常包括波长在红外到紫外光谱范围中的多个光学光子。闪烁光脉冲通常使用光学探测器来探测,光学探测器在其输出部生成电脉冲,所述电脉冲随后可以由电子电路进行处理。总体上,光学耦合到光学探测器的闪烁体组分可以被配置成接收来自例如PET或SPECT成像系统的成像区域的高能光子,其中光学探测器在本文中被称为电离辐射探测器。在这样的成像系统中,接收到的高能光子提供数据,以供随后重建成指示成像区域中的辐射衰减事件的图像。电离辐射探测器可以类似地用于探测穿过CT成像系统的成像区域的高能光子。用于在这样的电离辐射探测器中使用的闪烁体组分的选择受制于由要在其中使用所述探测器的成像系统所强加的各种约束。PET成像系统可以被认为对这样的闪烁体组分强加了一些最为严格的限制,这归因于需要对每个个体伽马光子的接收精确计时并且需要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种由化学式(LuyGd3‑y)(GaxAl5‑x)O12:Ce表示的陶瓷或多晶石榴石闪烁体组分;其中,y=1±0.5;其中,x=3±0.25;并且其中,Ce在0.01mol%到0.7mol%的范围中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:H·K·维乔雷克C·R·龙达J·G·博尔里坎普AM·A·范东恩S·J·M·P·斯普尔D·比特纳W·C·科尔
申请(专利权)人:皇家飞利浦有限公司
类型:发明
国别省市:荷兰;NL

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