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采用超声波快捷测定单晶材料的方法技术

技术编号:13234404 阅读:46 留言:0更新日期:2016-05-14 21:56
本发明专利技术公开了一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。本发明专利技术采用超声波穿过待测产品,通过观察超声波的反射波形,即可判断材料是否为单晶材料,这样便可显著提高现场产品检测效率,是一种经济适用的检测方法。本发明专利技术简单快捷、经济适用、检测效率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测
,尤其是一种。
技术介绍
在当今军用发动机叶片及民用高端燃气轮机叶片,由于它们需要在高温高压下保持正常运行,因此通常都要求它们在铸造生产过程中形成一个单一的晶体,也就是单晶体,它没有晶界,从而避免了晶界在高温下容易软化导致材料的热强度下降,造成疲劳裂纹的产生进而大大降低其使用寿命。因此在生产线上直接铸造出来的叶片,如果铸造工艺和成分控制不严,导致产品在结晶过程中出现不合格组织,即不是一个单晶体,同时晶界又存在某些杂质元素的聚集,这样的叶片就是不合格的产品,必须快捷地将其鉴别出来。对出现严重质量问题的产品的快速便捷排查。通常鉴定叶片是否为单晶体一般都采用X射线衍射法,但这种方法所使用的设备比较昂贵,程序也比较复杂,对检测人员的专业技术要求也比较高,同时检测效率也很低,在工程化应用中受到一定的制约。
技术实现思路
本专利技术的目的是:提供一种,它能快速准确的判定材料是否为单晶材料,显著提高现场产品检测效率,且成本低廉。本专利技术是这样实现的:,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。本专利技术的原理:单晶材料的工件只由一个晶粒构成,因此超声波在其内部传播时不发生反射,但如果不是单晶,晶粒与晶粒之间就会存在晶界,晶界相对于晶粒就是一种界面,所以当超声波传播遇到晶界时就会发生一定程度的反射。超声波从工件的一侧向另一侧传播的过程中,如果内部没有界面,超声波不会在内部发生任何反射,在超声波显示屏上只会出现底面回波,假如工件内部有界面,超声波就会在这些界面上发生反射,在显示屏上,表现为在底波之前会有一些较小的杂波出现。检测时,在底波之前如果不出现任何回波,说明工件内部没界面,则该工件是单晶材料,但如果在底波之前出现回波,则工件内部有界面,说明该工件不是单晶材料。由于采用了上述技术方案,与现有技术相比,本专利技术采用超声波穿过待测产品,通过观察超声波的反射波形,即可判断材料是否为单晶材料,以检测出材料中存在的严重的晶界缺陷,这样便可显著提高现场产品检测效率,是一种经济适用的检测方法。本专利技术简单快捷、经济适用、检测效率高。【附图说明】附图1为本专利技术检测到单晶材料的超声波回波波形示意图; 附图2为本专利技术检测到非单晶材料的超声波回波波形示意图。【具体实施方式】本专利技术的实施例:,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。申请人为了验证本专利技术的技术效果,从贵州斯莱克玛公司,抽取了100片生产好的、但是未经检验的飞机发动机叶片,采用本专利技术的方法对这100个样品进行检测,并记录检测结果;之后将这100个样品采用X射线衍射法进行检测,并记录检测结果,两种方法的检测结果进行对比,对于产品是否为单晶材料的结论,其检测结论完全一致,而采用本专利技术的方案所用的时间仅为8小时,而采用现有技术的方法法检测的时间为50小时。【主权项】1.一种,其特征在于:利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。【专利摘要】本专利技术公开了一种,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。本专利技术采用超声波穿过待测产品,通过观察超声波的反射波形,即可判断材料是否为单晶材料,这样便可显著提高现场产品检测效率,是一种经济适用的检测方法。本专利技术简单快捷、经济适用、检测效率高。【IPC分类】G01N29/04【公开号】CN105548357【申请号】CN201510962768【专利技术人】孙捷, 王芹, 黄碧芳, 朱绍严, 袁春 【申请人】贵州大学【公开日】2016年5月4日【申请日】2015年12月21日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,其特征在于:利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孙捷王芹黄碧芳朱绍严袁春
申请(专利权)人:贵州大学
类型:发明
国别省市:贵州;52

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