当前位置: 首页 > 专利查询>北京大学专利>正文

一种MEMS器件的气密性封装方法技术

技术编号:1323137 阅读:352 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种可广泛应用的MEMS器件的气密性封装方法,该方法是一种基于中间层的键合技术,配合涂敷金属等气密性材料来实现气密性封装。所用的中间层材料是光刻胶等具有黏附性的有机物质,在低温低压的情况下就能实现较大的键合强度,并且产生的内应力极小。同时,这种键合方式对上下表面要求也不高,即使表面不是十分平整,也可以成功键合,涂覆上气密性材料后漏气率小于1×10↑[-8]cm↑[3]/s,完全符合实际应用的要求。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种MEMS器件的气密性封装方法,包括如下步骤:(1)在基片A上加工出凹槽作为装放MEMS器件的容腔;(2)在基片B的一面涂上具有黏附性的有机物质作为下一步键合的中间层;(3)将基片B涂有黏附性有机物质的一面向下覆盖于凹槽上,通过中间层将基片A和基片B键合在一起;(4)对基片B从背面进行加工,使之在凹槽上形成合适的顶盖图形,并去除未被顶盖覆盖的中间层部分;(5)涂覆一层气密性材料覆盖住中间层的裸露部分。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈兢吴烨娴赵刚
申请(专利权)人:北京大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1