刀路轨迹还原显示方法、系统及雕刻机技术方案

本发明专利技术提供了一种刀路轨迹还原显示方法，包括：获取待雕刻文件中刀路的路径点的横坐标、纵坐标和立坐标；确定加工区域平面大小，根据所述横坐标和纵坐标确定刀路轨迹点的像素点位置；确定所述加工区域的厚度，根据所述立坐标确定刀路轨迹的色彩灰度值；确定所述色彩灰度值与所述像素点位置的对应关系，逐点绘制刀路轨迹。在刀路轨迹的还原显示过程中，不必进行三维的重建，也就不必进行平面重建和渲染等操作，显示方法更简单，处理里程更快，对处理设备的性能要求也降低，同时，通过色彩灰度值的形式将刀路轨迹显示出来，依然能够清晰的了解刀路轨迹的具体情况，显示效果更好，在处理设备的性能较低的情况下仍然可以还原显示出刀路轨迹。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术设及雕刻机
，尤其设及刀路轨迹还原显示方法、系统及雕刻机。
技术介绍
雕刻机可W根据一待雕刻图案在待加工材料上雕刻出相应的图案，在加工文件仿 真过程中，可通过刀路显示功能观察控制器能否正确识别加工文件中的指令信息，在加工 过程中，可通过刀路显示功能对加工过程进行追踪观测。 在雕刻行业，浮雕加工文件由浮雕灰度图通过相关软件转换而成。目前支持刀路 绘制功能的雕锐控制系统大多采用Ξ维显示技术对刀路进行绘制，因此运就对相关配套硬 件提出较高的要求。另外如果仅通过简单的Ξ维线条绘制方式，而不进行浮雕平面重构W 及擅染等措施，那么刀路绘制的效果就很不理想，但如果采用上述运些措施，将会增加处理 器运算负担，很难保证加工过程中刀路绘制的实时性。基于上述原因，在低端雕锐控制系统 中，由于受处理器的限制，使得上述的刀路绘制功能难W实施或达不到预期效果。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种刀路轨迹还原显示方法，在占用计算资源少的情况下 仍然能够还原刀路轨迹。 本申请提供的技术方案如下： -种刀路轨迹还原显示方法，包括： 获取待雕刻文件中刀路的路径点的横坐标、纵坐标和立坐标；[000引确定加工区域平面大小，根据所述横坐标和纵坐标确定刀路轨迹点的像素点位 置； 确定所述加工区域的厚度，根据所述立坐标确定刀路轨迹的色彩灰度值； 确定所述色彩灰度值与所述像素点位置的对应关系，逐点绘制刀路轨迹。[00川优选地，还包括：预先设定所述加工区域的平面大小。 优选地，还包括；预先设定所述加工区域的厚度。[001引优选地，还包括； 预先设定所述加工区域距离刀头最近的平面对应灰度值为基准灰度值。 优选地，根据所述横坐标和纵坐标确定刀路轨迹点的像素点位置具体为： 按照待雕刻文件的横坐标的最大值和纵坐标的最大值确定待雕刻文件的平面大 小； 确定所述待雕刻文件的平面大小与所述加工区域的平面大小之间的比例关系； 依据所述比例关系与所述横坐标的乘积确定所述加工区域的像素点位置的横坐 标； 依据所述比例关系与所述纵坐标的乘积确定所述加工区域的像素点位置的纵坐 标。 优选地，确定所述加工区域的厚度，根据所述立坐标确定刀路轨迹的色彩灰度值 具体为： 确定色彩灰度值的取值范围为0至基准灰度值q; 所述刀路轨迹的色彩灰度值P为：其中Z为所述立坐标的数值，h为所述加工区域的厚度。 本申请还提供了一种刀路轨迹还原显示系统，包括： 坐标获取模块，用于获取待雕刻文件中刀路的路径点的横坐标、纵坐标和立坐标； 像素点位置确定模块，用于确定加工区域平面大小，根据所述横坐标和纵坐标确 定刀路轨迹点的像素点位置； 灰度值确定模块，用于确定所述加工区域的厚度，根据所述立坐标确定刀路轨迹 的色彩灰度值； 刀路轨迹绘制模块，用于确定色彩灰度值与像素点位置的对应关系，逐点绘制刀 路轨迹。 优选地，还包括： 加工区域设置模块，用于预先设定所述加工区域的平面大小； 所述加工区域设置模块还用于预先设定所述加工区域的厚度。 优选地，还包括： 基准灰度值设定模块，用于预先设定所述加工区域距离刀头最近的平面对应灰度 值为基准灰度值。 本申请还提供了一种雕刻机，包括上面所述的刀路轨迹还原显示系统。 本专利技术的有益效果是:在本申请中，在刀路轨迹的还原显示过程中，不必进行Ξ维 的重建，也就不必进行平面重建和擅染等操作，显示方法更简单，处理里程更快，对处理设 备的性能要求也降低，同时，通过色彩灰度值的形式将刀路轨迹显示出来，依然能够清晰的 了解刀路轨迹的具体情况，显示效果更好，在处理设备的性能较低的情况下仍然可W还原 显示出刀路轨迹。【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术【具体实施方式】的技术方案，下面将对【具体实施方式】描述 中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施 方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可W根据运些附图 获得其他的附图。 图1为本专利技术提供的一种刀路轨迹还原显示方法的流程示意图； 图2为本专利技术提供的另一种刀路轨迹还原显示方法的流程示意图； 图3为本专利技术提供的另一种刀路轨迹还原显示方法的流程示意图； 图4为本专利技术提供的另一种刀路轨迹还原显示方法的流程示意图； 图5为本专利技术提供的一种刀路轨迹还原显示系统的示意图。【具体实施方式】 下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施 例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术 人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。 在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语"中也'、"上"、"下"、"左"、"右"、"竖直"、 "水平"、"内"、"外"等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了 便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、 W特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语"第一"、"第二"、 "第Ξ"仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。 在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语"安装"、"相 连"、"连接"应做广义理解，例如，可W是固定连接，也可W是可拆卸连接，或一体地连接;可 W是机械连接，也可W是电连接;可W是直接相连，也可W通过中间媒介间接相连，可W是 两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可W具体情况理解上述术语在本 专利技术中的具体含义。[004引本申请实施例提供了一种刀路轨迹绘制方法，如图1所示，包括： 步骤101，获取待雕刻文件中刀路的路径点的横坐标、纵坐标和立坐标。 在使用雕刻机进行雕刻加工时，需要根据待雕刻文件的具体形式来作业，待雕刻 文件实质上包含有雕刻图案中每个点的横坐标、纵坐标和立坐标。待雕刻文件一般是一幅 灰度图，在加工过程中，直接通过该灰度图不能直接完成雕刻，必须将该灰度图转换为刀路 轨迹，依据该刀路轨迹才能实现雕刻。通过横坐标和纵坐标确定点在平面上位置，通过立坐 标确定该点在空间上的位置。 步骤102,确定加工区域平面大小，根据所述横坐标和纵坐标确定刀路轨迹上的点 的像素点位置。 雕刻作业都是在一加工区域上进行的，加工区域实质上是一块待雕刻材料，或者 是一块待雕刻材料上的一部分，加工区域的平面大小可W预先设定，根据已经获取得到的 横坐标和纵坐标数值，确定刀路轨迹上的点的像素点位置，此时确定的像素点位置是平面 上的位置。加工区域的平面大小可W预先设定。 步骤103,确定所述加工区域的厚度，根据所述立坐标确定相对应的的色彩灰度 值； 本申请实施例中，色彩灰度值的大小是依据加工区域的厚度结合立坐标得到的。 色彩灰度值是与每一个像素点对应的，不同位置的像素点对应的色彩灰度值可能不同，也 可能相同。 步骤104,确定所述色彩灰度值与所述像素点位置的对应关系，逐点绘制刀路轨 迹。 在确定了像素点位置和色彩灰度值后，通过两者的对应关系，逐点绘制刀路轨迹。 像素点位置是根据横坐标和纵坐标的数值确定的，在刀路轨迹中，不同点的横坐标、纵坐 标、立坐标都是不同的，即像素点位置也是独立且不同的，像素点位置和色彩灰度值具有一 一对应的关系本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种刀路轨迹还原显示方法，其特征在于，包括：获取待雕刻文件中刀路的路径点的横坐标、纵坐标和立坐标；确定加工区域平面大小，根据所述横坐标和纵坐标确定刀路轨迹点的像素点位置；确定所述加工区域的厚度，根据所述立坐标确定刀路轨迹的色彩灰度值；确定所述色彩灰度值与所述像素点位置的对应关系，逐点绘制刀路轨迹。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘云涛，方丽颖，汪杰，
申请(专利权)人：刘云涛，
类型：发明
国别省市：江西;36