测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备技术方案

本申请涉及测量闪烁体灵敏度的方法、系统及设备，属于测量技术领域。该方法包括：将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。本公开采用相机批量测试多个闪烁体单元，能够提高生产效率和控制产品质量，且具备通用性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量技术，具体而言，涉及测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备。
技术介绍
在目前的辐射检查领域，辐射检查系统的核心组成部分是其探测器阵列，直接决定着整个系统的性能指标。一般一个辐射检查系统需要几百到几万个探测单元(在辐射成像中，则表现为像素)，每个探测单元的灵敏面的尺寸从1mm到几十mm不等。目前闪烁探测器是该领域的主流探测器，闪烁探测器中包括多个闪烁体单元。为方便生产，通常将多个闪烁体单元固定组成一排或几排进行生产和安装。需要根据闪烁单元的大小和数量定制特制的测量装置。随着对性能指标提升的不断要求，探测器的像素尺寸逐渐减小，随之探测器通道的数量不断增加。同时，每探测通道间的灵敏度的不一致性越来越大，需要找到新的更有效、更快速的测量方法以适应该变化带来的挑战。因此，需要一种新的测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备。在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本申请公开一种测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备，能够提升生产效率和控制产品质量。本公开的其他特性和优点将通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量闪烁体灵敏度的方法，其特征在于，包括：将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李树伟，李元景，赵自然，张清军，赵博震，朱维彬，王均效，孙立风，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11