靶准备制造技术

本发明专利技术涉及一种工件涂覆方法，包括以下步骤：给涂覆室装入待涂覆工件；关闭该涂覆室并将该涂覆室抽真空至预定的工艺过程压力；启动包括靶作为材料源的涂覆源且来自靶表面的微粒由此被朝向该基材加速，其特征是，在靶表面和基材之间一直设置屏蔽直到该靶被修整，在此期间内所述待涂覆基材至少部分接受预处理。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利说明】靶准备本专利技术涉及基材涂覆方法。本专利技术尤其涉及真空气相沉积准备方法，其中，靶被用作材料源且微粒从靶表面飞向基材并沉积在基材上。通常，此时还采用反应气体，该反应气体的原子和/或分子与所述微粒反应，从而相应的化学化合物沉积在基材上。在此情况下存在反应涂覆工艺。公开了一些这样的涂覆工艺。例如在此仅仅提到磁控溅射和电火花气化。相应的靶表面受到不同的周围环境影响。例如为了涂覆室的装卸料在许多情况下要打开室门，因而靶表面遇到正常室内气氛。有时当因反应气体而存在“靶毒化”时，靶表面也须专门接受机械处理如喷砂。所有这些都导致靶表面因不同环境影响而在涂覆过程之间是不同的。如果用这样的靶表面马上就开始涂覆，则出现不可再现的结果。因为尤其涂覆初始阶段是不可再现的，故这尤其显著影响到层膜附着性。但是，主要在耐磨保护范围内，在附着性和其它层膜性能方面的这种不可估计的差异是不容忽视的。为了应对这一点，在涂覆室关闭和排真空之后先如此开始涂覆，即借助盖子在一定时间内阻止涂覆材料降落并沉积在基材上。这样的过程被称为靶修整(Targetkondit1nierung)。在此，靶修整可能有时耗用半个小时或更长时间。图1示出在此修整过程中在含铬的靶之前点燃的等离子体的光学信号。能清楚看到，在约30分钟后所述0ES信号才稳定，这是所述修整已完成且在靶表面上不会再有明显变化的标志。为此所需的时间相应导致了涂覆时间(从涂覆设备装料算起至涂覆之后卸料为止)的延长。已经提到了对于许多应用来说需要良好的层膜附着性。为获得良好的层膜附着性，基材例如须具有干净的表面。在此，清理待涂覆基材原则上是在涂覆室外进行的。但一些基材表面准备处理步骤只在涂覆室封闭的情况下在室内真空下进行。尤其有利的是:基材表面在即将涂覆之前接受蚀刻法处理，尤其最好借助等离子体(即等离子体蚀刻法)处理。此时十分常见的是:从表面去除将近1 μm。通过这种方式，去除最近的污物颗粒，并且就某些基材材料而言，出现靠近表面的浓度稀薄化，由此一来，将在随后涂覆步骤中施加的层膜材料的附着性被显著提高。许多情况下，通过预处理且尤其通过等离子体蚀刻来活化基材表面，在这又有助于更好的附着。但此时不利的是该方法步骤也相当耗时，因而在涂覆室关闭且开始抽真空后，有时肯定要抽排1个小时，然后才能开始真正涂覆。漫长的等候时间直接影响到该方法的总持续时间，进而影响到这种层膜的制造成本。因此值得期待的是:提供耗时明显更少的方法，而产品质量且尤其是层膜在基材上的附着没有变差。本专利技术的任务基于这种期待。本专利技术人在其研发工作中出乎意料地确定:可并行进行一些方法步骤，这些方法步骤涉及涂覆室内的基材预处理和靶修整。确切说，本专利技术人可以在涂覆室被排真空至所需程度后，启动靶修整并同时开始基材预处理。虽然两个处理过程一般需要在室内点燃的等离子体，但这两个处理过程未产生不利影响。还更不可思议的是，这并非仅适用于一个基材部位，而是在涂覆室内一般被安放在回转体上的基材的整个高度范围内都适用。与此相应，图2示出在基材预处理范围内与基材位置相关地被去除的层的厚度；确切说，一个是没有同时修整靶，一个是同时修整靶。基材去除量和回转体(Karusell)被测量。如图2所示，“是否同时修整靶”对等离子体蚀刻的效率和均匀性仅有微弱影响。这样，根据本专利技术的工件涂覆方法可以包括以下步骤:-在涂覆室内装入待涂覆工件，-关闭涂覆室并将涂覆室抽真空至预定的工艺过程压力，-启动涂覆源，该涂覆源包括靶作为材料源，来自靶面的颗粒由此被朝向基材加速，其特征是，在靶表面和基材之间一直设置屏蔽，直到该靶被修整，在此期间内所述待涂覆的基材至少部分接受预处理。基材预处理可以包括蚀刻法。根据另一个实施方式，该预处理可以包括基材表面氮化，作为一个方法步骤。例如为此可在腔室中注入由氮气、氩气和氢气构成的气体混合物。靶的修整例如可结束于当由颗粒发出的光学信号基本不再变化之时。该光学信号可借助0ES测量来测得。该方法尤其适用于涂覆源如磁控溅射源。该涂覆室可以包括多个磁控溅射源，它们在彼此交叉的时间区间被依次周期性地连接至具有高功率输出的直流功率发生器，从而在时间上周期性地在靶表面上出现超过0.2A/cm2的电流密度。但在本专利技术的方法中也可采用电弧蒸发源作为涂覆源。【主权项】1.一种工件涂覆方法，其包括以下步骤: -将待涂覆工件装入涂覆室， -关闭该涂覆室并将该涂覆室抽真空至预定的工艺过程压力， -启动涂覆源，其包括靶作为材料源，由此使得来自靶表面的微粒朝向基材被加速， 其特征是， 在靶表面和基材之间一直设置屏蔽直到该靶被修整，在此期间内待涂覆的基材至少部分接受预处理。2.根据权利要求1的方法，其特征是，该基材的预处理包括蚀刻法。3.根据权利要求1至3之一的方法，其特征是，所述靶的修整结束于微粒发出的光学信号基本不再变化之时。4.根据权利要求3的方法，其特征是，该光学信号借助OES测量来测得。5.根据前述权利要求之一的方法，其特征是，该涂覆源是磁控溅射源。6.根据权利要求5的方法，其特征是，该涂覆室包括多个涂覆源，这些涂覆源在彼此交叉的时间区间内依次周期性地被连接至具有高功率输出的直流功率发生器，从而在时间上周期性地在该靶表面上出现超过0.2A/cm2的电流密度。7.根据权利要求1至4之一的方法，其特征是，该涂覆源是电弧蒸发源。8.根据前述权利要求之一的方法，其特征是，该预处理包括下列方法步骤，工件在所述方法步骤中被氮化。9.根据权利要求8的方法，其特征是，为了氮化而在该腔室中注入气体混合物，该气体混合物包含元素氮、氩和氢。【专利摘要】本专利技术涉及一种工件涂覆方法，包括以下步骤：给涂覆室装入待涂覆工件；关闭该涂覆室并将该涂覆室抽真空至预定的工艺过程压力；启动包括靶作为材料源的涂覆源且来自靶表面的微粒由此被朝向该基材加速，其特征是，在靶表面和基材之间一直设置屏蔽直到该靶被修整，在此期间内所述待涂覆基材至少部分接受预处理。【IPC分类】C23C14/35, H01J37/34, H01L21/02, C23C14/02, C23C14/32【公开号】CN105392912【申请号】CN201480038031【专利技术人】徳尼斯·库拉珀夫, 西格弗里德·克拉斯尼策尔 【申请人】欧瑞康表面处理解决方案股份公司特鲁巴赫【公开日】2016年3月9日【申请日】2014年6月30日【公告号】CA2916773A1, DE102013011072A1, EP3017081A1, US20160186310, WO2015000578A1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种工件涂覆方法，其包括以下步骤：‑将待涂覆工件装入涂覆室，‑关闭该涂覆室并将该涂覆室抽真空至预定的工艺过程压力，‑启动涂覆源，其包括靶作为材料源，由此使得来自靶表面的微粒朝向基材被加速，其特征是，在靶表面和基材之间一直设置屏蔽直到该靶被修整，在此期间内待涂覆的基材至少部分接受预处理。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：徳尼斯·库拉珀夫，西格弗里德·克拉斯尼策尔，
申请(专利权)人：欧瑞康表面处理解决方案股份公司特鲁巴赫，
类型：发明
国别省市：瑞士;CH