【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检查对象物的尺寸精度的检查系统。
技术介绍
公知如下一种检查系统:使支承有检查规的移动体向加工孔移动,将检查规插入到加工孔,由此检查加工孔的尺寸精度,其中,基于加工孔的容许尺寸来决定检查规的尺寸(参照JP2002-195803A和JP2012-103081A)。另外,公知如下一种检查系统:使圆筒形的制品通过具有规定尺寸的孔来检查该制品的外径尺寸精度(参照JP2008-058069A)。这样,通过使对象物与检查规相互嵌合来检查对象物的尺寸精度是公知的。然而,根据前述的公知技术,需要将对象物相对于检查规正确地对位。若对位不充分,则检查规与对象物相互干扰而无法嵌合,其结果,有时无关对象物的尺寸精度地判定为对象物是次品。因而,寻求一种能够更正确地检查对象物的尺寸精度的检查系统。
技术实现思路
根据本申请的第一专利技术,提供一种检查系统,检查具备加工部的对象物中的上述加工部的尺寸精度,上述加工部从一方的端面向相反侧的端面具有一样的截面,该检查系统具备:检查规,其具有与上述加工部的截面形状互补的截面形状;机器人,其使上述加工部与上述检查规相对于彼此 ...
【技术保护点】
一种检查系统,检查具备加工部的对象物中的上述加工部的尺寸精度,上述加工部从一方的端面向相反侧的端面具有一样的截面,该检查系统具备:检查规,其具有与上述加工部的截面形状互补的截面形状;机器人,其使上述加工部与上述检查规相对于彼此相对移动;力觉传感器,其检测作用于上述对象物与上述检查规之间的力;以及控制装置,其对上述机器人进行控制以使上述检查规与上述加工部相互嵌合,其中,上述检查规具有第一检查部和第二检查部,该第一检查部具有与上述加工部的截面形状相同的截面形状,该第一检查部的尺寸被决定为比上述加工部的最小容许尺寸小,该第二检查部具有与上述加工部的截面形状相同的截面形状,该第二检 ...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:上田哲士,小田胜,
申请(专利权)人:发那科株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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