安检设备和射线探测方法技术

本发明专利技术提出一种安检设备和射线探测方法，涉及安检领域。其中，本发明专利技术的安检设备包括射线发射装置和射线探测器；其中，射线探测器包括：前散射探测器，位于待测物体相对于射线发射装置的对侧；射线探测器还包括：背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间；和/或透射探测器，位于待测物体相对于射线发射装置的对侧。这样的安检设备具有前散射探测器，配合背散射探测器一起使用能够减少探测死角，优化对射线源对侧内部信息的探测；配合透射探测器一起使用，能够实现同时对高密度和低密度物质的探测，从而优化了对待测物体的探测效果，提高了探测的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及安检领域，特别是一种。
技术介绍
随着科学技术的发展，目前安全检查设备被广泛应用于机场、海关、地铁等部门。针对公路安检方面，利用X射线透射设备扫描物品比较多见，X射线源出射的X射线通过准直器形成扫描扇面，探测器接收到照射被检物品的X射线，通过处理，得到被检物品的内部信息。这种安检方式使用广泛，结构简单，易操作，但是由于利用的是X射线透射原理成像，很难检测的出密度较低的物质，比如炸药，毒品等。而X射线背散射技术能够很好的检查出低密度的物质，现有X射线背散射检查设备的飞轮绕射线源靶心旋转，形成笔行束，笔行束落在被检查物体上，形成飞点。背散射探测器收集任一时刻的X射线背散射射线，经处理，得到物质信息，连续扫描后，就能处理并得到整个被检物品的内部信息，尤其是可以突出显示炸药、毒品等原子数序较低的物质信息。该专利技术方便实用，但是，由于该装置的成像原理是吸收背散射的X射线后成像，因此，对于隐藏在保密物质后的炸药、毒品检测效果不佳，炸药被放置于一钢板之后，背散射X射线被钢板阻断，不能到达背散射探测器；对金属武器的显示效果也不佳。同时，这种单侧的背散射成像结果对于观察被检物品对侧的内部信息效果较差，若要有效观察被检物品两侧，需要进行两趟检测，比较繁琐。
技术实现思路
本专利技术的一个目的在于提供一种更加可靠的安检设备。根据本专利技术的一个方面，提出一种安检设备，包括:射线发射装置；射线探测器；其中，射线探测器包括:前散射探测器，位于待测物体相对于射线发射装置的对侧；射线探测器还包括:背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间；和/或透射探测器，位于待测物体相对于射线发射装置的对侧。可选地，射线发射装置用于发射出扇形射线束和飞点射线束。可选地，射线发射装置包括:射线源，位于射线发射装置的中央；空间调制器，位于射线源与背散射探测器之间，包括固定屏蔽板，和位于待测物体与固定屏蔽板之间的旋转屏蔽体。可选地，旋转屏蔽体上包括一个以上缝隙和一个以上通孔。可选地，透射探测器包括多个探测器模块，根据每个探测器模块在透射探测器的位置的不同，每个探测器模块的安放角度与射线入射方向相适应。可选地，探测器模块的安放角度与射线入射方向相适应包括:探测器模块的探测面垂直于射线入射方向。可选地，透射探测器包括多个由预定个探测器模块平行排列组成的探测器单元；根据每个探测器模块在透射探测器的位置的不同，每个探测器模块的安放角度与射线入射方向相适应为:根据每个探测器单元在透射探测器的位置的不同，每个探测器单元的探测面方向与射线入射方向相适应。可选地，透射探测器为平板形或向待测物体对侧凸起的弧面形。可选地，还包括运输工具，用于承载和移动射线发射装置和射线探测器。可选地，还包括悬臂，悬臂的一端连接透射探测器和前散射探测器，另一端与运输工具连接；运输工具内部承载射线发射装置，且运输工具侧面连接背散射探测器。可选地，悬臂包括折叠机构和旋转机构，用于折叠和旋转悬臂。可选地，还包括处理器，用于接收来自前散射探测器、背散射探测器和透射探测器的探测信号，分析待测物体。可选地，还包括控制器，用于控制悬臂的折叠和旋转。这样的安检设备具有前散射探测器，配合背散射探测器一起使用能够减少探测死角，优化对射线源对侧内部信息的探测；配合透射探测器一起使用，能够实现同时对高密度和低密度物质的探测；将前散射探测器、背散射探测器以及透射探测器一同使用，能够在减少探测死角的同时，实现同时对高密度和低密度物质的探测，进一步优化了对待测物体的探测效果，提高了探测的准确度。根据本专利技术的另一个方面，提出一种射线探测方法，包括:利用射线发射器向待测物体发射扇形射线束和飞点射线束；通过探测器获取探测数据，包括:通过前散射探测器获取探测待测物体的前散射数据；还包括:通过透射探测器获取探测待测物体的透射数据；和/或，通过背散射探测器获取探测待测物体的背散射数据；根据前散射数据，以及背散射数据和/或透射数据获取探测信息。可选地，利用射线发射器向待测物体发射扇形射线束和飞点射线束为:利用交替发射扇形射线束和飞点射线束的射线发射器，向待测物体发射射线。可选地，还包括:根据探测信息显示探测图像；可选地，还包括:根据所述探测信息标注待测物体中的违禁物体或告警。通过这样的方法，获取前散射数据配合背散射数据，能够减少探测死角，优化对射线源对侧内部信息的探测；获取前散射数据配合透射探测器一起使用，能够实现同时对高密度和低密度物质的探测；将前散射数据、背散射数据和透射数据综合考虑，能够在减少探测死角的同时，实现同时对高密度和低密度物质的探测。通过这样的方式，优化了对待测物体的探测效果，提高了探测的准确度。【附图说明】此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1为本专利技术的安检设备的一个实施例的示意图。图2为本专利技术的安检设备中射线发射装置的一个实施例的示意图。图3a为本专利技术的透射探测器的一个实施例的示意图。图3b为本专利技术的透射探测器的另一个实施例的示意图。图3c为本专利技术的透射探测器的又一个实施例的示意图。图3d为本专利技术的透射探测器的再一个实施例的示意图。图4为本专利技术的安检设备的另一个实施例的示意图。图5为本专利技术的安检设备的又一个实施例的示意图。图6为本专利技术的射线探测方法的一个实施例的流程图。【具体实施方式】下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。本专利技术的安检设备的一个实施例的示意图如图1所示。其中，1为射线发射装置，向待测物体5发出射线6。安检设备的射线探测器包括前散射探测器4，位于待测物体5相对于射线发射装置1的对侧，能够获取前散射数据。射线探测器还可以包括透射探测器4，位于待测物体相对于射线发射装置的对侧，能够获取透射数据。射线探测器还可以包括背散射探测器2，位于待测物体5与射线发射装置1之间，能够获取背散射数据。这样的安检设备具有前散射探测器，配合背散射探测器一起使用能够减少探测死角，优化对射线源对侧内部信息的探测；配合透射探测器一起使用，能够实现同时对高密度和低密度物质的探测；将前散射探测器、背散射探测器以及透射探测器一同使用，能够在减少探测死角的同时，实现同时对高密度和低密度物质的探测，进一步优化了对待测物体的探测效果，提高了探测的准确度。在一个实施例中，射线发射装置能够发出扇形射线束和飞点射线束。扇形射线束穿过待测物体到达透射探测器，以便透射探测器获取透射数据。飞点射线束经待测物体散射后到达前散射探测器、背散射探测器，以便获取前散射数据、背散射数据。这样的安检设备能够发出两种射线束，分别供获取透射探测器和散射探测器获取透射数据和散射数据，提高了检测速度，优化了探测效果。本专利技术安检设备的射线发射装置的示意图如图2所示。其中，11为射线源，位于射线发射装置的中央，向待测物体方向发射射线。射线发射装置还包括空间调制器，位于射线源与背散射探测器之间，能够调整射线源11发射出的射线，从而控制射线发射装置发射出的射线。在一个实施例中，空间调制器包括固定屏蔽板12和旋转屏蔽体13。其中，固定屏蔽板12使射线源11产生的射线以预定角度朝预定方向发射，预定角度可以为120度；旋转屏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种安检设备，其特征在于，包括：射线发射装置；射线探测器；其中，所述射线探测器包括：前散射探测器，位于所述待测物体相对于所述射线发射装置的对侧；所述射线探测器还包括：背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间；和/或透射探测器，位于所述待测物体相对于所述射线发射装置的对侧。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：崔锦，林东，胡斌，谭贤顺，王虹，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11