用于分析物检测增强的等离子纳米空穴测定传感器及制造和使用所述传感器的方法技术

本公开提供了，除其他事项外，用于感测分析物的纳米传感器。在一些实施方案中，所述纳米传感器包括(a)基片；(b)信号放大层，其包括：(i)位于所述基片上的基本上连续的金属底板，(ii)从金属底板伸出、或从所述基片穿过底板中的孔伸出的一个或多个立柱，和(iii)位于立柱顶部的金属盘，其中所述盘的边缘的至少一个部分从所述金属底板分隔开；和(c)与分析物特异性地结合的捕捉剂，其中所述捕捉剂连接于信号放大层的表面；其中，当分析物与捕捉剂结合时，所述纳米传感器放大来自分析物的光信号。还提供了用于制造纳米传感器的方法以及使用纳米传感器的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
用于感测分析物的纳米传感器，其包括：(a)基片；(b)信号放大层，其包括：(i)位于所述基片上的基本上连续的金属底板；(ii)一个或多个立柱，所述立柱从所述金属底板伸出，或从所述基片穿过所述底板中的孔伸出；和(iii)位于所述立柱顶部的金属盘，其中所述盘的边缘的至少一个部分与所述金属底板分隔开；以及(c)特异性结合分析物的捕捉剂，其中该捕捉剂连接于信号放大层的表面；其中当分析物与捕捉剂结合时，该纳米传感器放大来自分析物的光信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：S·Y·周，H·陈，
申请(专利权)人：普林斯顿大学理事会，
类型：发明
国别省市：美国;US