本发明专利技术提供一种按压检测装置，其具有被加压构件和压电构件，所述被加压构件具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力，所述压电构件与上述被加压构件相向配置，且包含高分子压电材料，所述高分子压电材料的在25℃下通过位移法测得的压电常数d14为1pm/V以上，上述被加压构件的截面惯性矩Ib和杨氏模量Eb的积IEb，与上述压电构件的截面惯性矩Ia和杨氏模量Ea的积IEa之比IEb/IEa在102～1010的范围内。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术设及按压检测装置及触控面板。
技术介绍
作为压电材料，W往多使用作为陶瓷材料的PZT(PBZr〇3-化Ti〇3系固溶体），但 由于PZT含有铅，所W逐渐使用了环境负担小、而且富有柔软性的高分子压电材料。目前已知的高分子压电材料主要可大致分为W下两类。旨P，W尼龙11、聚氣乙締、 聚氯乙締、聚脈等为代表的极化型高分子、W及W聚偏二氣乙締（P型）（PVD巧和偏二氣乙 締一S氣乙締共聚物（P(VDF-化FE))(75/25)等为代表的强介电性高分子运两类。 近年来，除了上述的高分子压电材料W外，还着眼于使用多肤、聚乳酸等具有光学 活性的高分子。已知聚乳酸系高分子仅通过机械性的拉伸操作即呈现压电性。 在具有光学活性的高分子中，认为聚乳酸运样的高分子结晶的压电性是由存在于 螺旋轴方向的C= 0键的永久偶极所产生的。尤其是，对于聚乳酸而言，侧链相对于主链的 体积分率小、每单位体积的永久偶极的比例大，即使在具有螺旋手性化elical chirality) 的高分子中，也可W说是理想的高分子。 已知仅通过拉伸处理而呈现压电性的聚乳酸不需要进行极化处理，压电模量历经 数年而不易减少。 作为使用了聚乳酸系高分子作为高分子压电材料的装置，例如，提出了具有由聚 乳酸制作的压电片材的触控面板（例如，参照国际公开第2010/143528号小册子、国际公开 第2011/125408号小册子、国际公开第2012/049969号小册子、及国际公开第2011/138903 号小册子）。
技术实现思路
[000引专利技术所要解决的课题 本专利技术的目的在于提供使用了高分子压电材料的检测灵敏度高的按压检测装置 及触控面板。 用于解决课题的手段 为了达成上述目的，提供W下的专利技术。 < 1 >一种按压检测装置，其具有： 被加压构件，所述被加压构件具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被 施加压力，和 压电构件，所述压电构件与上述被加压构件相向配置，且包含高分子压电材料，所 述高分子压电材料的在25°c下通过位移法测得的压电常数di4为Ipm/VW上， 上述被加压构件的截面惯性矩kross-sectional secondary moment)扣和杨氏 模量化的积lEb、与上述压电构件的截面惯性矩la和杨氏模量Ea的积lEa之比lEb/IEa 在1〇2~1〇1°的范围内。[001引 <2>如<1>所述的按压检测装置，其中，上述比166/163在104~109的范围 内。 <3>如< 1 >或<2>所述的按压检测装置，其中，上述比lEb/IEa在1〇5~1〇8 的范围内。 < 4 >如< 1 >~< 3 >中任一项所述的按压检测装置，其还具有： 相对于从上述接触面施加的压力而支承上述被加压构件的支承机构，和 相对于从上述接触面经由上述被加压构件所施加的压力而支承上述压电构件的 支承机构。 < 5 >如< 1 >~< 4 >中任一项所述的按压检测装置，其中，从上述接触面施加 压力的方向、与上述高分子压电材料的分子取向方向交叉。[002引 < 6 >如< 1 >~< 5 >中任一项所述的按压检测装置，其中，上述被加压构件的 厚度在0. 2mm~20mm的范围内。[002引 < 7 >如< 1 >~< 6 >中任一项所述的按压检测装置，其中，上述被加压构件的 杨氏模量化为IGPa~200GPa。 < 8 >如< 1 >~< 7 >中任一项所述的按压检测装置，其中，在上述压电构件的 与上述被加压构件侧相反的一侧，还具有杨氏模量为0.IGPaW下的缓和部。[002引 < 9 >如< 1 >~< 8 >中任一项所述的按压检测装置，其中，上述高分子压电材 料包含重均分子量为5万~100万的具有光学活性的螺旋手性高分子，利用DSC法得到的 结晶度为20%~80%，并且利用微波透过型分子取向计测定的将基准厚度设定为50ym时 的标准化分子取向MORc和上述结晶度的积为40~700。 < 10 >如< 1 >~< 9 >中任一项所述的按压检测装置，上述高分子压电材料的 相对于可见光的内部雾度为10%W下。 < 11 >如< 9 >或< 10 >所述的按压检测装置，其中，上述MORc为3. 5~15. 0。[002引 < 12 >如< 9 >~< 11 >中任一项所述的按压检测装置，其中，上述螺旋手性高 分子为具有包含下述式（1)表示的重复单元的主链的聚乳酸系高分子。 < 13 >如< 9 >~< 12 >中任一项所述的按压检测装置，其中，上述螺旋手性高 分子的光学纯度为95. 00%eeW上。 < 14 >如< 9 >~< 13 >中任一项所述的按压检测装置，其中，上述高分子压电 材料中的上述螺旋手性高分子的含量为80质量％W上。 < 15 >如< 9 >~< 14 >中任一项所述的按压检测装置，其中，上述高分子压电 材料还含有重均分子量为200~60000的稳定剂，所述稳定剂具有选自碳二亚胺基、环氧基 及异氯酸醋基中的1种W上的官能团，相对于上述螺旋手性高分子100质量份，W0. 01质 量份~10质量份包含上述稳定剂。[003引 < 16 >如< 15 >所述的按压检测装置，其中，作为上述稳定剂，包含在1分子内 具有1个选自碳二亚胺基、环氧基及异氯酸醋基中的官能团的稳定剂。 <17>-种触控面板，其具有<1>~<16>中任一项所述的按压检测装置和 显示装置。[00对专利技术的效果 通过本专利技术，可提供使用了高分子压电材料的检测灵敏度高的按压检测装置及触 控面板。【附图说明】为示意性地表示本实施方式设及的按压检测装置的一例的厚度方向的截 面的剖视图。为示意性地表示图1所示的按压检测装置的与接触面相反的一侧的俯视 图。为示意性地表示实施例中在产生电荷密度的测定中所使用的电路结构的 图。【具体实施方式】 <按压检测装置> 本专利技术的一个实施方式设及的按压检测装置具有：被加压构件，所述被加压构件 具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力；压电构件，所述压电构件与上 述被加压构件相向配置，且包含高分子压电材料。上述被加压构件的截面惯性矩Ib和杨氏 模量化的积lEb、与上述压电构件的截面惯性矩la和杨氏模量Ea的积lEa之比lEb/IEa 在1〇2~1〇1°的范围内。 本专利技术的专利技术人们发现，通过使被加压构件的截面惯性矩Ib和杨氏模量化的积 lEb、与压电构件的截面惯性矩la和杨氏模量Ea的积lEa之比lEb/IEa在优选102~101° 的范围，从而每单位晓曲量产生的电荷密度高本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种按压检测装置，其具有：被加压构件，所述被加压构件具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力，和压电构件，所述压电构件与所述被加压构件相向配置，且包含高分子压电材料，所述高分子压电材料的在25℃下通过位移法测得的压电常数d14为1pm/V以上，所述被加压构件的截面惯性矩Ib和杨氏模量Eb的积IEb、与所述压电构件的截面惯性矩Ia和杨氏模量Ea的积IEa之比IEb/IEa在102～1010的范围内。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：吉田光伸，谷本一洋，西川茂雄，
申请(专利权)人：三井化学株式会社，株式会社村田制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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