核电站主泵密封室的检修方法技术

本发明专利技术公开了一种核电站主泵密封室的检修方法，用于核电站主泵的一号密封室，包括以下步骤：A.尺寸测量；和/或，B.缺陷检查；步骤A包括：A1、将所述一号密封室筒体中部的内周表面作为第一基准面；A2、在所述第一基准面的基础上约定生成第二基准面，所述第一基准面和所述第二基准面的同轴度形位公差在0.1mm以内；A3、在所述第二基准面的基础上约定生成第三基准面，所述第三基准面和所述第二基准面的垂直度形位公差在0.05mm以内；所述第三基准面的表面粗糙度≤1.6μm；A4、根据确定的所述第一基准面、第二基准面和第三基准面，对所述一号密封室的各部位进行测量。本发明专利技术操作简单。

【技术实现步骤摘要】
核电站主泵密封室的检修方法
本专利技术涉及一种核电站主泵的检修方法，尤其涉及一种核电站主泵密封室的检修方法。
技术介绍
核电站主泵，即核电站反应堆冷却剂泵，其在机组运行期间主要驱动冷却剂在RCP系统(反应堆冷却剂系统)内循环流动，连续不断地把堆芯中产生的热量传递给蒸汽发生器二次侧给水。主泵正常运行在高温(292℃)、高压(15.5MPa)、高辐射的特殊运行环境下，在核电站安全运行中占有极其重要的地位，并对主泵有着非大修和紧急状态下不可停运的要求，进而对主泵的状态监测显得尤为重要。主泵是由三相感应式异步电机驱动的立式、单级、轴密封机组。从上到下分别布置有惰转飞轮、三相感应式电机和水泵，电机转子和泵轴在支撑筒的位置通过联轴节相连；整个泵组垂直支撑是布置在地面和泵壳支撑脚之间、采用球形铰接方式的三根立柱组成。一号密封室上部螺栓连接着二号/三号密封，下部连接着热屏，在主泵范围内其与热屏、扩散器、泵壳一起构成了一回路的压力边界，因此一号密封室属于核一级部件。该密封室是主泵一号密封的壳体，是主泵的核心部件，其材料为Z2CN19-10(控氮)不锈钢锻件，为保持部件的可靠性，在定期维修期间需对部件的尺寸特征参数和安装配合表面进行仔细的测量、检查、记录、分析，一号密封室的解体和回装过程中后经常发现存在局部尺寸变形、间隙超差、表面凹坑/划痕等缺陷形式，为了应对当前已经存在以及未来可能出现(细小裂纹)的缺陷形式，有必要设计一种对该密封室进行检查、评估及修复的方法。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，提供一种操作简单的核电站主泵密封室的检修方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种核电站主泵密封室的检修方法，用于核电站主泵的一号密封室，包括以下步骤：A.尺寸测量；和/或，B.缺陷检查；所述步骤A包括：A1、将所述一号密封室筒体中部的内周表面作为第一基准面；A2、在所述第一基准面的基础上约定生成第二基准面，所述第一基准面和所述第二基准面的同轴度形位公差在0.1mm以内；A3、在所述第二基准面的基础上约定生成第三基准面，所述第三基准面和所述第二基准面的垂直度形位公差在0.05mm以内；所述第三基准面的表面粗糙度≤1.6μm；A4、根据确定的所述第一基准面、第二基准面和第三基准面，对所述一号密封室的各部位进行测量；所述步骤B包括：B1、对所述一号密封室的各表面是否有缺陷进行检查；B2、对所述一号密封室的各表面进行液体渗透检查，以测出缺陷；所述缺陷均包括划痕、凹坑、裂纹。优选地，所述步骤A4的测量包括以下A4.1至A4.8中的一种或多种：A4.1、测量所述一号密封室上与密封组件密封配合处的内径，自身标准尺寸-0.01mm≤内径≤自身标准尺寸+0.04mm；该内径所对应的圆周面与所述第一基准面的同轴度形位公差要求≤0.1mm，该圆周面的表面粗糙度≤3.2μm；A4.2、测量所述一号密封室的上部内径，自身标准尺寸-0.03mm≤上部内径≤自身标准尺寸+0.08mm；该上部内径所对应的圆周面与所述第二基准面的同轴度形位公差要求≤0.05mm，该圆周面的表面粗糙度≤1.6μm；A4.3、测量所述一号密封室上与密封静环配合处的内径，自身标准尺寸-0.02mm≤内径≤自身标准尺寸+0.03mm；该内径所对应的圆周面与所述第二基准面的同轴度形位公差要求≤0.05mm，该圆周面的表面粗糙度≤1.6μm；A4.4、测量所述一号密封室上与导流套配合部位的外径，自身标准尺寸≤外径≤自身标准尺寸+0.10mm；该外径所对应的圆周面的表面粗糙度≤6.3μm；A4.5、测量所述一号密封室上与热屏配合止口处的外径，该外径对应的圆周面与所述第二基准面的同轴度形位公差要求≤0.05mm，该圆周面的表面粗糙度≤3.2μm；A4.6、测量所述一号密封室上法兰的厚度，相对于所述第三基准面，自身标准尺寸-0.50mm≤厚度≤自身标准尺寸+0.50mm；A4.7、测量所述一号密封室顶部表面到所述一号密封室上与热屏配合表面的距离，自身标准尺寸-0.20mm≤距离≤自身标准尺寸+0.20mm；所述顶部表面与所述第三基准面之间的平行度形位公差要求≤0.05mm，该顶部表面的表面粗糙度≤3.2μm；A4.8、测量所述一号密封室顶部到其与密封静环支撑接触面的距离，自身标准尺寸≤距离≤自身标准尺寸+0.20mm；所述顶部表面与所述第三基准面之间的平行度形位公差要求≤0.05mm，所述一号密封室的与密封静环支撑接触面的表面粗糙度≤3.2μm。优选地，所述步骤A4的测量中：对于内径、外径的测量，在所对应的圆周面上选用一个或多个测量点进行测量，多个所述测量点之间间隔45°；对于厚度的测量，在所对应的表面上选用一个或多个测量点进行测量，多个所述测量点之间间隔90°；对于距离的测量，在所对应的表面上选用一个或多个测量点进行测量，多个所述测量点之间间隔45°；对于平行度的测量，在所对应的表面上选用一个或多个测量点进行测量，多个所述测量点之间间隔45°。优选地，所述步骤A4的测量中：对于实际尺寸测量数值超出要求数值的情况，通过机加工或打磨处理。对于测量对象的形位公差超出要求数值的情况，在考虑对相关联测量对象尺寸的影响情况下通过机加工或打磨处理。优选地，所述步骤B1中，所述一号密封室的各表面包括一号密封室的上表面、下表面、密封面、与密封组件密封配合的表面、以及与导流套配合部位的表面。优选地，所述步骤B2中，所述液体渗透检查的位置包括所述一号密封室的上表面、下表面、密封面、与密封组件密封配合的表面、与导流套配合部位的表面、以及所述一号密封室底部的测温探头部位。优选地，所述步骤B中，所述缺陷的尺寸≥1mm，通过补焊、机加工和/或打磨进行加工处理。优选地，所述补焊包括：对缺陷进行打磨至所述缺陷呈圆滑，测量打磨后缺陷的深度，对深度≤10mm的打磨后缺陷进行补焊；采用水平堆焊的方式对打磨后的缺陷自下而上进行逐层补焊。优选地，补焊时：采用直流电源，电流为60-130A；保护气体为99.999％的氩气，流量5-15L/min；非熔化电极为钨极；非熔化电极的直径Φ为2mm或2.4mm，且该非熔化电极接负；焊道为线性焊道；在补焊过程中，在每一层堆焊完成后，测量补焊区域周围10-15mm的区域的温度；控制补焊区域周围10-15mm的区域温度低于140℃。优选地，在对所述缺陷加工处理后，执行步骤A。本专利技术的核电站主泵密封室的检修方法，用于核电站主泵的一号密封室，操作简单；其中通过确定基准面后对一号密封室各位置尺寸进行测量，以得出所测量位置尺寸数值是否在要求数值范围内，判断出是否变形以及根据变形情况作相应处理；通过对一号密封室各表面进行缺陷检查，筛选出可修复的缺陷，以根据缺陷情况作相应修复处理。附图说明下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：图1是本专利技术中核电站主泵一号密封室的剖面结构示意图。具体实施方式为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本专利技术的具体实施方式。本专利技术一实施例的核电站主泵密封室的检修方法，用于核电站主泵的一号密封室，包括以下步骤：A.尺寸测量；和/或，B.缺陷检查。该方法必须依据RCC-M(压水堆核岛机械设备设计和建造规则)、RSE-M(压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种核电站主泵密封室的检修方法，用于核电站主泵的一号密封室，其特征在于，包括以下步骤：A.尺寸测量；和/或，B.缺陷检查；所述步骤A包括：A1、将所述一号密封室筒体中部的内周表面作为第一基准面；A2、在所述第一基准面的基础上约定生成第二基准面，所述第一基准面和所述第二基准面的同轴度形位公差在0.1mm以内；A3、在所述第二基准面的基础上约定生成第三基准面，所述第三基准面和所述第二基准面的垂直度形位公差在0.05mm以内；所述第三基准面的表面粗糙度≤1.6μm；A4、根据确定的所述第一基准面、第二基准面和第三基准面，对所述一号密封室的各部位进行测量；所述步骤B包括：B1、对所述一号密封室的各表面是否有缺陷进行检查； B2、对所述一号密封室的各表面进行液体渗透检查，以测出缺陷；所述缺陷均包括划痕、凹坑、裂纹。

【技术特征摘要】
1.一种核电站主泵密封室的检修方法，用于核电站主泵的一号密封室，其特征在于，包括以下步骤：A.尺寸测量；或者，A.尺寸测量和B.缺陷检查；所述步骤A包括：A1、将所述一号密封室筒体中部的内周表面作为第一基准面；A2、在所述第一基准面的基础上约定生成第二基准面，所述第一基准面和所述第二基准面的同轴度形位公差在0.1mm以内；A3、在所述第二基准面的基础上约定生成第三基准面，所述第三基准面和所述第二基准面的垂直度形位公差在0.05mm以内；所述第三基准面的表面粗糙度≤1.6μm；A4、根据确定的所述第一基准面、第二基准面和第三基准面，对所述一号密封室的各部位进行测量；所述步骤B包括：B1、对所述一号密封室的各表面是否有缺陷进行检查；B2、对所述一号密封室的各表面进行液体渗透检查，以测出缺陷；所述缺陷均包括划痕、凹坑和裂纹。2.根据权利要求1所述的核电站主泵密封室的检修方法，其特征在于，所述步骤A4的测量包括以下A4.1至A4.8中的一种或多种：A4.1、测量所述一号密封室上与密封组件密封配合处的内径，自身标准尺寸-0.01mm≤内径≤自身标准尺寸+0.04mm；该内径所对应的圆周面与所述第一基准面的同轴度形位公差要求≤0.1mm，该圆周面的表面粗糙度≤3.2μm；A4.2、测量所述一号密封室的上部内径，自身标准尺寸-0.03mm≤上部内径≤自身标准尺寸+0.08mm；该上部内径所对应的圆周面与所述第二基准面的同轴度形位公差≤0.05mm，该圆周面的表面粗糙度≤1.6μm；A4.3、测量所述一号密封室上与密封静环配合处的内径，自身标准尺寸-0.02mm≤内径≤自身标准尺寸+0.03mm；该内径所对应的圆周面与所述第二基准面的同轴度形位公差要求≤0.05mm，该圆周面的表面粗糙度≤1.6μm；A4.4、测量所述一号密封室上与导流套配合部位的外径，自身标准尺寸≤外径≤自身标准尺寸+0.10mm；该外径所对应的圆周面的表面粗糙度≤6.3μm；A4.5、测量所述一号密封室上与热屏配合止口处的外径，该外径对应的圆周面与所述第二基准面的同轴度形位公差要求≤0.05mm，该圆周面的表面粗糙度≤3.2μm；A4.6、测量所述一号密封室上法兰的厚度，相对于所述第三基准面，自身标准尺寸-0.50mm≤厚度≤自身标准尺寸+0.50mm；A4.7、测量所述一号密封室顶部表面到所述一号密封室上与热屏配合表面的距离，自身标准尺寸-0.20mm≤距离≤自身标准尺寸+0.20mm；所述顶部表面与所述第三基准面之间的平行度形位公差要求≤0.05mm，该顶部表面的表面粗糙度≤3.2μm；A4.8、测量所述一号密封室顶...

【专利技术属性】
技术研发人员：高培，安建军，刘军生，陈英杰，吴小锋，刘超，毛文军，裴宏宇，
申请(专利权)人：中广核核电运营有限公司，中国广核集团有限公司，中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44