液晶材料金属元素检测方法技术

本发明专利技术公开一种液晶材料金属元素检测方法，包括如下步骤：样品取样：将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别用刮刀刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，收集所述液晶用天平精确称重得到检测样品；样品前处理：采用溶剂稀释法，稀释所述检测样品8～12倍得到分析溶液；将所述分析溶液送入电感耦合等离子质谱仪中进行液晶材料金属元素检测，采用外标法定量。本发明专利技术的液晶材料金属元素检测方法可以快速、准确地分析液晶中金属元素浓度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示液晶材料检测领域，尤其涉及一种。
技术介绍
液晶屏是以液晶材料为基本组件，液晶介于固态和液态之间，具有固态晶体光学特性，又具有液态流动特性。光线射入液晶物质中，按照液晶分子的排列方式行进，产生自然的偏转现像。同时液晶分子中的电子结构，具备很强的电子共轭运动能力，当液晶分子受到外加电场的作用，很容易被极化产生感应偶极性，这也是液晶分子之间互相作用力量的来源。一般电子产品用液晶显示器，就是是利用液晶的光电效应，藉由外部的电压控制，再透过液晶分子的折射特性，以及对光线的旋转能力来获得亮暗情况(或著称为可视光学的对比)，进而达到显像的目的。液晶显示器作为重要的信息电子产品，变得举足轻重。随着液晶产品的广泛应用，人们对液晶产品的显示品质也提出了更高的要求，一些不良现象也为人们所认识并引起关注，“残像”便是其中之一，所谓“残像”即影像残留，是在屏幕上长时间保持一幅静止的画面，液晶由于受到长时间的驱动被极化，造成液晶分子不能在信号电压控制下正常偏转。过一段时间，即使改变显示画面的内容，屏幕上仍然可以看到以前静止图像的痕迹，该现象也会随着时间的推移及画面的改变而有所减弱，直至消失。残像大致分为面残像和线残像，面残像是由于驱动电压和LCD panel基板内部含有直流成分，可由信号电压及变更设计来达到改善的目的。线残像在大部分文献中一般都以离子模型进行讨论。若液晶中的离子浓度增加，离子在电极表面积聚，即反响电场存在，从而引起显示器件的残像水平的增大。因此快速准确分析液晶中的离子浓度显得尤为重要。现行检测液晶重金元素主要采用电感耦合等离子质谱仪(ICPMS)，然而现有的取样方法，如溶液冲洗，取样虽快捷，但取样重复性差，无法保证每次溶剂冲洗到的液晶量相同，且耗时长(2小时)；现有前处理方法如微波消除法，在消解过程中需要添加硝酸1g左右，消解完成后定容到10ml容量瓶中，样品稀释倍数约250倍，液晶中金属元素浓度在ppb等级，高倍稀释后，稀释液中金属元素很大可能低于设备检出限，检出能力大大降低且引入了检测杂质；定量方法如标准加入法优点在于可以排除基体的影响，缺点在于每个样品均需配制一系列标准品，每天可测试样品量2-5个左右，无法满足工程大量测试需求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对上述问题，提供一种用以快速、准确地分析液晶中金属元素浓度。为了实现上述目的，本专利技术实施方式采用如下技术方案:提供一种，包括如下步骤:样品取样:将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，收集所述液晶精确称重得到检测样品；样品前处理:采用溶剂稀释法，稀释所述检测样品8?12倍得到分析溶液；将所述分析溶液送入电感耦合等离子质谱仪中进行液晶材料金属元素检测，采用外标法定量。优选的，所述溶剂稀释法采用异丙醇作为稀释溶剂。优选的，所述外标法定量是以所述液晶材料金属元素的每秒计数值为纵坐标(y)，以对应的标准溶液浓度为横坐标(X)建立的标准曲线定量。优选的，所述标准溶液采用异丙醇作为基体进行配置。优选的，采用塑料刮刀刮取所述TFT基板侧和CF基板侧的液晶。优选的，在所述样品取样步骤中采用热风枪对所述薄膜晶体管液晶显示屏面板进行裂片。优选的，在所述样品前处理步骤中稀释所述检测样品10倍得到分析溶液。优选的，所述外标法定量包括如下步骤:步骤BI，配置标准溶液:采用异丙醇作为基体，配置浓度依次为xl、x2......xn的η组标准溶液；步骤Β2，检测标准溶液:设定仪器检测条件，将上述六组标准溶液放进电感耦合等离子质谱仪进行检测得到相应的每秒计数值yl、y2……yn ;步骤B3，绘制标准曲线:以标准溶液的浓度为横坐标(X)、各自对应的每秒计数值为纵坐标(y)绘制标注曲线，当曲线线性R大于0.995时，则作为标准曲线使用；步骤B4，检测分析溶液:在与步骤B2相同的仪器测试条件下测试步骤S2中得到的分析溶液，得到每秒计数值Y ;步骤B5，定量:通过步骤B3中的标准曲线，计算每秒计数值Y对应的浓度X值，即为元素的浓度值。优选的，所述标准曲线中标准溶液浓度单位为ppb。优选的，所述η为4或5或6。相较于现有技术，本专利技术具有以下有益效果:取样方法即刀刮取样品且用天平精确称重重复性好、尚效快速，仅需耗时30分钟左右，相较于现有的溶剂冲洗法，大大提升了取样效率，同时又能避免溶剂挥干过程，降低污染的引入；样品前处理方法相对于现有微波消解法，稀释倍数低，检出限可优化25倍左右，同时也避免了引入杂质至分析溶液；采用外标法定量，曲线线性良好，可以实现样品的连续测试，满足工程大量测试的要求；采用异丙醇作为基体配置标准溶液，由于与样品前处理稀释溶剂相同，可以降低基体杂质对测试结果的影响。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以如这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术提供操作步骤流程图。【具体实施方式】下面结合具体实施例进一步详细说明本专利技术，除非特别说明，本专利技术采用的试剂和设备为本领域常规市购的试剂和常规的设备。本专利技术的实施例提供一种，包括如下步骤:步骤SI，样品取样:将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别用塑料刮刀刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，并收集到样品瓶中，用天平精确称重得到检测样品；...

【技术保护点】
一种液晶材料金属元素检测方法，其特征在于，包括如下步骤：样品取样：将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，收集所述液晶精确称重得到检测样品；样品前处理：采用溶剂稀释法，稀释所述检测样品8～12倍得到分析溶液；将所述分析溶液送入电感耦合等离子质谱仪中进行液晶材料金属元素检测，采用外标法定量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张维维，徐蕊，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44