一种二极管极性检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种二极管极性检测方法，包括：获取待检测二极管的检测图像；分别计算所述检测图像与预设的第一模板图和第二模板图的差异值，并将差异值小的模板图的极性方向判定为所述待检测二极管的极性方向；所述第一模板图和所述第二模板图为极性方向不同的二极管图。相应的，本发明专利技术还公开了一种二极管极性检测装置。采用本发明专利技术实施例，能够提高二极管极性检测的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动光学检查领域，尤其涉及一种二极管极性检测方法及装置。
技术介绍
自动光学检查（AOI, Automated Optical Inspection)为工业自动化有效的检测 方法，使用机器视觉作为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、晶体管与PCB工业制作上，在 民生用途则可延伸至保全系统。自动光学检查是工业制作中常见的代表性手法，利用光学 方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检 查，所以可在中间工程检查半成品。 二极管是电子电路中的一个很重要的元件。在安装过程中如果二极管的极性装反 会导致部分电路不能正常工作，严重时甚至会使得整个板卡烧坏。因而必须要在制作成半 成品后，通过AOI检测二极管的极性，判断是否安装错误。 现有技术中，检测二极管极性的方法主要是将标准图中二极管的浅色环和待检测 图中相应位置的颜色进行对比，当颜色不同时则判定二极管极性错误。但是，当待检测图不 清晰或者有遮挡时，使用该方法容易造成对二极管极性做出误判。
技术实现思路
本专利技术实施例提出一种二极管极性检测方法及装置，能够提高二极管极性检测的 精确度。 本专利技术实施例提供一种二极管极性检测方法，包括： 获取待检测二极管的检测图像； 分别计算所述检测图像与预设的第一模板图和第二模板图的差异值，并将差异值 小的模板图的极性方向判定为所述待检测二极管的极性方向；所述第一模板图和所述第二 模板图为极性方向不同的二极管图。 进一步地，所述分别计算所述检测图像与预设的第一模板图和第二模板图的差异 值，并将差异值小的模板图的极性方向判定为所述待检测二极管的极性方向，具体包括： 根据所述第一模板图的灰度图和所述检测图像的灰度图，采用归一化平方差匹配 方法，计算获得所述第一模板图和所述检测图像的第一匹配矩阵； 根据所述第二模板图的灰度图和所述检测图像的灰度图，采用归一化平方差匹配 方法，计算获得所述第二模板图和所述检测图像的第二匹配矩阵； 计算所述第一匹配矩阵的最小值，并将所述第一匹配矩阵的最小值判定为所述第 一模板图和所述检测图像的第一差异值； 计算所述第二匹配矩阵的最小值，并将所述第二匹配矩阵的最小值判定为所述第 二模板图和所述检测图像的第二差异值； 比较所述第一差异值和第二差异值，获得差异值小的模板图的极性方向即为所述 待检测二极管的极性方向。 进一步地，在所述获取待检测二极管的检测图像之后，且在所述分别计算所述检 测图像与预设的第一模板图和第二模板图的差异值之前，还包括： 从所述检测图像中获取所述待检测二极管的二极管图像； 根据所述二极管图像的大小缩放预设的第一模板图和第二模板图，使所述第一模 板图和所述第二模板图的大小与所述二极管图像的大小相同。 进一步地，所述从所述检测图像中获取所述待检测二极管的二极管图像，具体包 括： 分别计算所述检测图像每行像素的灰度均值；以所述检测图像中二极管的径向为 所述检测图像的行； 根据所述每行像素的灰度均值相应计算每行像素的灰度标准差； 根据所述每行像素的灰度均值和所述每行像素的灰度标准差，计算所述检测图像 在行方向的灰度加权平均值； 将所述每行像素的灰度均值分别与所述灰度加权平均值进行比较，获得灰度均值 大于所述灰度加权平均值的行数所具有的像素即为二极管图像。 进一步地，所述根据所述二极管图像的大小缩放预设的第一模板图和第二模板 图，使所述第一模板图和所述第二模板图的大小与所述二极管图像的大小相同，具体包 括： 计算所述二极管图像在二极管轴向的长度； 分别计算所述长度与所述第一模板图和所述第二模板图在二极管轴向的长度的 比例； 根据所述比例相应缩放所述第一模板图和所述第二模板图，使所述第一模板图和 所述第二模板图的大小与所述二极管图像的大小相同。 相应的，本专利技术实施例还提供一种二极管极性检测装置，包括： 检测图像获取模块，用于获取待检测二极管的检测图像；以及， 极性方向获取模块，用于分别计算所述检测图像与预设的第一模板图和第二模板 图的差异值，并将差异值小的模板图的极性方向判定为所述待检测二极管的极性方向；所 述第一模板图和所述第二模板图为极性方向不同的二极管图。 进一步地，所述极性方向获取模块具体包括： 第一匹配矩阵获取单元，用于根据所述第一模板图的灰度图和所述检测图像的灰 度图，采用归一化平方差匹配方法，计算获得所述第一模板图和所述检测图像的第一匹配 矩阵； 第二匹配矩阵获取单元，用于根据所述第二模板图的灰度图和所述检测图像的灰 度图，采用归一化平方差匹配方法，计算获得所述第二模板图和所述检测图像的第二匹配 矩阵； 第一差异值获取单元，用于计算所述第一匹配矩阵的最小值，并将所述第一匹配 矩阵的最小值判定为所述第一模板图和所述检测图像的第一差异值； 第二差异值获取单元，用于计算所述第二匹配矩阵的最小值，并将所述第二匹配 矩阵的最小值判定为所述第二模板图和所述检测图像的第二差异值；以及， 极性方向获取单元，用于比较所述第一差异值和第二差异值，获得差异值小的模 板图的极性方向即为所述待检测二极管的极性方向。 进一步地，所述二极管极性检测装置还包括： 二极管图像获取模块，用于从所述检测图像中获取所述待检测二极管的二极管图 像；以及， 缩放模块，用于根据所述二极管图像的大小缩放预设的第一模板图和第二模板 图，使所述第一模板图和所述第二模板图的大小与所述二极管图像的大小相同。 进一步地，所述二极管图像获取模块具体包括： 灰度均值计算单元，用于分别计算所述检测图像每行像素的灰度均值；以所述检 测图像中二极管的径向为所述检测图像的行； 灰度标准差计算单元，用于根据所述每行像素的灰度均值相应计算每行像素的灰 度标准差； 加权平均值计算单元，用于根据所述每行像素的灰度均值和所述每行像素的灰度 标准差，计算所述检测图像在行方向的灰度加权平均值；以及， 二极管图像获取单元，用于将所述每行像素的灰度均值分别与所述灰度加权平均 值进行比较，获得灰度均值大于所述灰度加权平均值的行数所具当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种二极管极性检测方法，其特征在于，包括：获取待检测二极管的检测图像；分别计算所述检测图像与预设的第一模板图和第二模板图的差异值，并将差异值小的模板图的极性方向判定为所述待检测二极管的极性方向；所述第一模板图和所述第二模板图为极性方向不同的二极管图。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：罗汉杰，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44