低透过率机械斩波模拟器制造技术

低透过率机械斩波模拟器，涉及旋光糖量计低透过率计量校准技术，它为了解决现有技术中没有旋光糖量计低透过率模拟器的问题。包括测试座上座、测试座下座、高速直流电机和扇形斩光片；测试座下座的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机放置并固定于测试座上座和测试座下座构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机的转轴轴心重合，高速直流电机的转轴轴心与扇形斩光片的轴心重合，扇形斩光片的中心与高速直流电机的转轴固定连接，扇形斩光片上开有缺口。本实用新型专利技术可以实现旋光糖量计的低透过率测试条件。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及旋光糖量计低透过率计量校准技术。
技术介绍
旋光糖量计在低透过率测定的计量性能评定时，无法进行深颜色样品、低透过率样品测定时的低透过率测试条件的可复现模拟，而现有技术中没有对旋光糖量计低透过率模拟器的研究，对旋光糖量计低透过率计量校准技术的研究还是空白，导致旋光糖量计在低透过率时的测量不准确。
技术实现思路
本技术是为了解决现有技术无法进行低透过率样品测定时的低透过率测试条件的可复现模拟，无法对旋光糖量计在低透过率情况下的计量性能进行评定的问题，从而提供低透过率机械斩波模拟器。本技术所述的低透过率机械斩波模拟器，它包括测试座上座、测试座下座、高速直流电机和扇形斩光片；测试座下座的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机放置并固定于测试座上座和测试座下座构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机的转轴轴心重合，高速直流电机的转轴轴心与扇形斩光片的轴心重合，扇形斩光片的中心与高速直流电机的转轴固定连接，扇形斩光片上开有缺口。上述扇形斩光片缺口的角度为3.6°或36°。上述扇形斩光片有两个缺口，两个缺口在扇形斩光片上对称分布。它还包括斩光片下盖和前挡板；斩光片下盖和前挡板均为圆弧形。斩光片下盖固定在测试座上座的一个侧面上，前挡板与斩光片下盖固定连接，且前挡板的弧形边缘向内延伸至斩光片下盖的边缘，扇形斩光片放置于前挡板和斩光片下盖之间。它还包括两套平衡调节螺丝与锁紧螺丝，两套平衡调节螺丝与锁紧螺丝对称分布在测试座下座的底面上。本技术所述的低透过率机械斩波模拟器在使用时，将标准旋光管放置于测试座下座底面的半圆柱形凹槽中，调节两套平衡调节螺丝和锁紧螺丝可以使低透过率机械斩波模拟器水平平衡，斩光片下盖与前挡板对工作中高速旋转的扇形斩光片起到保护作用。使用中，高速直流电机带动扇形斩光片对通过标准旋光管的光强度进行分割，达到模拟低透过率的效果。根据需要的透过率选择扇形斩光片缺口的角度，例如当缺口的角度为36°时，光源的透过率为10%，当缺口的角度为3.6°时，光源的透过率为1%。本技术可以方便、快捷地提供低透过率的模拟测试条件，同时可以结合标准旋光管的使用，对旋光糖量计低透过率示值误差进行计量性能评价，填补了旋光糖量计低透过率计量校准技术研究的空白。本技术所述的低透过率机械斩波模拟器用以模拟低透过率情况下的测试样品状态，保证在该状态下，旋光糖量计测定条件的模拟复现，使旋光糖量计能够实现准确溯源。本技术所述的低透过率机械斩波模拟器的技术指标满足旋光糖量计检定校准的要求。【附图说明】图1是【具体实施方式】一所述的低透过率机械斩波模拟器的结构示意图。图2是【具体实施方式】一中测试座下座的结构不意图。图3是图2的俯视图。图4是图2的右视图。图5是【具体实施方式】一中测试座上座的结构示意图。图6是图5的A-A向剖视图。图7是图5的俯视图。图8是【具体实施方式】一中扇形斩光片的结构示意图。图9是图8的B-B向剖视图。图10是【具体实施方式】四中斩光片下盖的结构示意图。图11是图10的C-C向剖视图。图12是【具体实施方式】四中前挡板的结构示意图。图13是图12的D-D向剖视图。【具体实施方式】【具体实施方式】一:参照图1至图9具体说明本实施方式，本实施方式所述的低透过率机械斩波模拟器，它包括测试座上座1、测试座下座2、高速直流电机8和扇形斩光片5 ;测试座下座2的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座I的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机8放置并固定于测试座上座I和测试座下座2构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机8的转轴轴心重合，高速直流电机8的转轴轴心与扇形斩光片5的轴心重合，扇形斩光片5的中心与高速直流电机8的转轴固定连接，扇形斩光片5上开有缺口。【具体实施方式】二:本实施方式是对【具体实施方式】一所述的低透过率机械斩波模拟器作进一步说明，本实施方式中，扇形斩光片5缺口的角度为3.6°或36°。【具体实施方式】三:本实施方式是对【具体实施方式】一所述的低透过率机械斩波模拟器作进一步说明，本实施方式中，扇形斩光片5有两个缺口，两个缺口在扇形斩光片5上对称分布。【具体实施方式】四:参照图10至图13具体说明本实施方式，本实施方式是对【具体实施方式】一所述的低透过率机械斩波模拟器作进一步说明，本实施方式中，它还包括斩光片下盖3和前挡板4 ； 斩光片下盖3和前挡板4均为圆弧形。斩光片下盖3固定在测试座上座I的一个侧面上，前挡板4与斩光片下盖3固定连接，且前挡板4的弧形边缘向内延伸至斩光片下盖3的边缘，扇形斩光片5放置于前挡板4和斩光片下盖3之间。【具体实施方式】五:本实施方式是对【具体实施方式】一所述的低透过率机械斩波模拟器作进一步说明，本实施方式中，它还包括两套平衡调节螺丝6与锁紧螺丝7，两套平衡调节螺丝6与锁紧螺丝7对称分布在测试座下座2的底面上。【主权项】1.低透过率机械斩波模拟器，其特征在于，它包括测试座上座(I)、测试座下座(2)、高速直流电机⑶和扇形斩光片(5); 测试座下座(2)的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座(I)的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机(8)放置并固定于测试座上座(I)和测试座下座(2)构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机(8)的转轴轴心重合，高速直流电机(8)的转轴轴心与扇形斩光片(5)的轴心重合，扇形斩光片(5)的中心与高速直流电机(8)的转轴固定连接，扇形斩光片(5)上开有缺口。2.根据权利要求1所述的低透过率机械斩波模拟器，其特征在于，扇形斩光片(5)缺口的角度为3.6°或36°。3.根据权利要求1所述的低透过率机械斩波模拟器，其特征在于，扇形斩光片(5)有两个缺口，两个缺口在扇形斩光片(5)上对称分布。4.根据权利要求1所述的低透过率机械斩波模拟器，其特征在于，它还包括斩光片下盖⑶和前挡板⑷； 斩光片下盖(3)和前挡板(4)均为圆弧形； 斩光片下盖(3)固定在测试座上座(I)的一个侧面上，前挡板(4)与斩光片下盖(3)固定连接，且前挡板(4)的弧形边缘向内延伸至斩光片下盖(3)的边缘，扇形斩光片(5)放置于前挡板(4)和斩光片下盖(3)之间。5.根据权利要求1所述的低透过率机械斩波模拟器，其特征在于，它还包括两套平衡调节螺丝(6)与锁紧螺丝(7)， 两套平衡调节螺丝(6)与锁紧螺丝(7)对称分布在测试座下座(2)的底面上。【专利摘要】低透过率机械斩波模拟器，涉及旋光糖量计低透过率计量校准技术，它为了解决现有技术中没有旋光糖量计低透过率模拟器的问题。包括测试座上座、测试座下座、高速直流电机和扇形斩光片；测试座下座的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机放置并固定于测试座上座和测试座下座构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机的转轴轴心重合，高速直流电机的转轴轴心与扇形斩光片的轴心重合，扇形斩光片的中心与高速直流电机的转轴固定连接，扇形斩光片上开有缺口。本技术可以实现旋光糖量计的低透过率测试条件。【IPC分类】G01N21/21【公开号】CN204832本文档来自技高网...

【技术保护点】
低透过率机械斩波模拟器，其特征在于，它包括测试座上座(1)、测试座下座(2)、高速直流电机(8)和扇形斩光片(5)；测试座下座(2)的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座(1)的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机(8)放置并固定于测试座上座(1)和测试座下座(2)构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机(8)的转轴轴心重合，高速直流电机(8)的转轴轴心与扇形斩光片(5)的轴心重合，扇形斩光片(5)的中心与高速直流电机(8)的转轴固定连接，扇形斩光片(5)上开有缺口。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：丁海铭，丁海月，高歌，丁士烜，
申请(专利权)人：丁海铭，
类型：新型
国别省市：黑龙江;23