一种测温微波炉及其工作控制方法技术

技术编号:12407735 阅读:67 留言:0更新日期:2015-11-29 04:52
本发明专利技术涉及一种测温微波炉及其工作控制方法,其中测温微波炉包括用来放置被加热物的微波加热腔,和用于检测被加热物温度的非接触式温度检测装置,所述微波加热腔内具有放置被加热物的平板,所述微波加热腔环壁上设有开孔,所述非接触式温度检测装置包含有一检测探头,该检测探头正对所述开孔或位于所述开孔内,其特征在于:所述非接触式温度检测装置安装在一转动座上,该转动座与一驱动电机连接由该驱动电机驱动转动,从而使非接触式温度检测装置能随转动座的转动而转动。与现有技术相比,本发明专利技术的优点在于:可以加大检测探头对微波加热腔内被加热物的温度检测范围,从而更好的保证了所检测被加热物加热温度的准确性和加热效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
微波炉是在电源接通后磁控管产生微波,并把这些微波照射在食物等被加热物上而进行烹调食物的装置。微波炉是利用被烹调的食物分子在微波炉炉腔内受到交变电磁场的作用,产生高频运动,分子与分子间高速、剧烈摩擦生热的原理来加热食物。微波炉工作时应避免产生的微波泄漏出来,因为人体同样能够吸收微波,人体一旦受到微波辐射,将对健康产生不利影响。近年来,人们对健康饮食越来越重视。作为日常使用率较高的微波炉,虽然能够快速加热食物,但烹饪的结果易干易硬,口感不足,而且营养随水分蒸干而流失也不在少数。因此,为了保证加热食物的口感,现有很多智能微波炉增加了对微波炉内被加热物的温度进行实时检测,然后通过检测到的被加热物温度,智能控制微波炉中磁控管的工作状态,从而使被加热物达到最好的口感。而对于微波炉内被加热食物的温度进行实时检测的技术,为了保证安全性和稳定性,往往会采用非接触式温度检测装置,而非接触式温度检测装置的检测探头往往会安装在所述微波加热腔环壁外或内,对准微波加热腔内放置被加热物的平板;然而很多时候,平板上的被加热物体积往往很大,位置固定的检测探头的检测范围会受到限制,从而会进一步影响控制器对加热磁控管的控制,进而会影响被加热物温度准确性的口感。另外,安装检测探头时往往由于需要在微波腔室的后板开孔,这个开孔在实际使用过程中,会造成微波泄漏。
技术实现思路
本专利技术所要解决的第一个技术问题是针对上述现有技术提供一种能有效加大非接触式温度检测装置对微波加热腔内被加热物物温度的检测范围的测温微波炉。本专利技术所要解决的第二个技术问题提供一种上述测温微波炉的工作控制方法。本专利技术解决上述第一个技术问题所采用的技术方案为:一种测温微波炉,包括用来放置被加热物的微波加热腔,和用于检测被加热物温度的非接触式温度检测装置,所述微波加热腔内具有放置被加热物的平板,所述微波加热腔环壁上设有开孔,所述非接触式温度检测装置包含有一检测探头,该检测探头正对所述开孔或位于所述开孔内,其特征在于:所述非接触式温度检测装置安装在转动座上,该转动座由驱动电机驱动转动,并带动所述非接触式温度检测装置转动。非接触式温度检测装置的转动,可以加大检测探头对微波加热腔内被加热物的温度检测范围,从而更好的保证了所检测被加热物加热温度的准确性和加热效果。作为改进,当所述检测探头在平板上相互垂直的两个方向上所能检测的角度范围α和β大小不相同时,所述非接触式温度检测装置的转动方向为检测角度范围小的方向。这样可以确保非接触式温度检测装置能在较大的范围内扫描检微波加热腔内的被加热物。所述开孔的位置位于微波加热腔的后方上部或微波炉炉腔的微波加热腔的上方靠后部位;所述开孔的形状呈U型或椭圆形,且所述开孔的短轴方向为非接触式温度检测装置的转动方向。微波加热腔后部的微波泄漏较小,可以减轻微波对非接触式温度检测装置所造成的不良影响;而开孔的形状呈U型或椭圆形,开孔的短轴方向为非接触式温度检测装置的转动方向,能更好确保非接触式温度检测装置能在较大的范围内扫描检微波加热腔内的被加热物。为了便于用户使用,可以在所述平板上标注最佳烹饪区域,该最佳烹饪区域为所述非接触式温度检测装置的最佳检测范围。为了减少微波从开孔处泄漏,所述开孔的周缘具有朝向微波加热腔外的翻边,该翻边的高度为2mm?5mm。为了保证非接触式温度检测装置始终工作在最佳工作环境,本专利技术提供的测温波微波还包括能对非接触式温度检测装置进行散热降温的散热风机;该散热风机可防止非接触式温度检测装置的工作温度过高,还可在微波炉加热食物时吹走非接触式温度检测装置附近的油烟与水汽,能使非接触式温度检测装置的驱动电机的表面在长期使用中不易产生油烟和水汽的凝结,保证了非接触式温度检测装置长期使用的可靠性。所述散热风机外设有能将散热风机所产生的风导向非接触式温度检测装置的导风罩。为了实现对非接触式温度检测装置的智能控制,本专利技术提供的测温微波炉还包括控制装置,所述驱动电机与该控制装置连接,该控制装置能控制驱动电机的转动从而控制非接触式温度检测装置的位置。本专利技术解决上述第二个技术问题所采用的技术方案为:具有上述结构的测温微波炉的工作控制方法,其特征在于:所述控制装置采用测温微波炉的中央控制装置,中央控制装置连接测温微波炉的磁控加热管;所述非接触式温度检测装置也与中央控制装置连接;中央控制装置将测温微波炉的工作模式分为两种:一种为定时加热模式,一种为智能温控加热模式;所述定时加热模式为用户通过设置加热定时时间的一种加热模式,该定时加热模式下,中央控制装置控制非接触式温度检测装置不工作;在智能温控加热模式下用户不用设置加热定时时间,中央控制装置控制非接触式温度检测装置工作,且中央控制装置根据非接触式温度检测装置测量被加热物的实时温度,智能控制磁控管加热管的工作状态,当非接触式温度检测装置检测到被加热食物的温度达到预先设定的温度值时,即控制可磁控管加热管停止对被加热物的加热。所述非接触式温度检测装置及其检测探头具有一个初始位置,该初始位置为油烟和水汽不易聚集的位置;在非接触式温度检测装置不工作时,所述中央控制装置通过控制驱动电机将非接触式温度检测装置及其检测探头转至初始位置;当测温微波炉开始工作时,所述中央控制装置通过控制驱动电机将非接触式温度检测装置及其检测探头复位至初始位置。与现有技术相比,本专利技术的优点在于:将非接触式温度检测装置安装在一转动座上,而转动座由驱动电机驱动转动,从而使非接触式温度检测装置也能转动,从而可以加大检测探头对微波加热腔内被加热物的温度检测范围,从而更好的保证了所检测被加热物加热温度的准确性和加热效果。【附图说明】图1为本专利技术实施例中测温微波炉的立体结构示意图(从后侧看);图2为本专利技术实施例中测温微波炉的另一视角的立体结构示意图(从后侧看);图3为本专利技术实施例中测温微波炉中去掉外罩后的立体结构示意图(从后侧看);图4为本专利技术实施例中测温微波炉中去掉外罩后的另一视角的立体结构示意图(从后侧看);图5为本专利技术实施例中测温微波炉的立体结构示意图(从前侧看);图6为本专利技术实施例中测温微波炉的另一视角的立体结构示意图(从前侧看);图7为图4中I部放大图。【具体实施方式】以下结合附图实施例对本专利技术作进一步详细描述。如图1?6所示的测温微波炉,其包括用来放置被加热物的微波加热腔1,设置在微波加热腔内用于放置被加热物的平板2,用来产生微波从而对微波加热腔内的被加热物进行加热的磁控加热管(图中未示出),和用于检测被加热物温度的非接触式温度检测装置3,所述微波加热腔I的后方上部靠近上方的部位设有开孔11,该开孔的形状呈U型,且开孔的周缘具有朝向微波加热腔外的翻边12,该翻边12的高度为2_?5_,开孔的形状也可以替换成椭圆形,所述非接触式温度检测装置3包含有检测探头4,该检测探头4正对所述开孔11,前述开孔周缘的翻边,可以保证微波外泄漏在安全范围内,减小了外泄微波对非接触式温度检测装置的影响,同时可将食物的热量通过U形开孔辐射至非接触式温度检测装置的检测探头处进行检测。另外,所述开孔的位置位于微波加热腔I的后方上部靠近上方的部位,由于微波加热腔后部的微波泄漏较小,可以减轻微波对非接触式温度检测装置所造成的不良影响。所述本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/38/CN105091046.html" title="一种测温微波炉及其工作控制方法原文来自X技术">测温微波炉及其工作控制方法</a>

【技术保护点】
一种测温微波炉,包括用来放置被加热物的微波加热腔,和用于检测被加热物温度的非接触式温度检测装置,所述微波加热腔内具有放置被加热物的平板,所述微波加热腔环壁上设有开孔,所述非接触式温度检测装置包含有检测探头,该检测探头正对所述开孔或位于所述开孔内,其特征在于:所述非接触式温度检测装置安装在转动座上,该转动座由驱动电机驱动转动,并带动所述非接触式温度检测装置转动。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:付远华夏保清余科帆郑伟曹骥茅忠群诸永定
申请(专利权)人:宁波方太厨具有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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