本发明专利技术公开了一种检测坩埚内宽的方法和装置，其中，方法包括：将左爪和右爪的刻度调整到同一水平高度；调整第一卡尺在水平尺的位置，使得所述第一卡尺的左爪的尖端对应所述水平尺的0刻度线；调整第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺与所述第一卡尺紧靠；将被测的坩埚放置于所述装置下，移动所述水平尺，使得所述左爪的尖端与所述坩埚的左侧面接触；移动所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端与所述坩埚的右端接触，所述第二卡尺的读书即是所述坩埚的宽度值；调整所述左爪和右爪的高度，按照上述步骤测量所述坩埚的不同高度处的宽度值。所述方法和装置精确测量坩埚内部的任意尺寸，操作和读数十分简单、便捷，利于检测人员快速理解和掌握。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及坩祸检测领域，特别是涉及一种检测坩祸内宽的方法及装置。
技术介绍
坩祸制备过程中有一个烧结工艺，在烧结前后坩祸底部厚度会有尺寸变化，坩祸厂家的出厂尺寸都有一定的规格要求，需要对烧结成型后的坩祸底部厚度检测，厚度尺寸偏差大的还需要再进一步的修模，再检测厚度达到合格再出厂，但由于坩祸形状的特殊性，截面呈凹形，普通的标度尺和游标卡尺等都不能很好的检测到坩祸的内部宽度尺寸。目前大多数铸锭厂家对坩祸内宽尺寸的来料检验都使用卷尺或者直尺简单的测量一下，但是卷尺或者直尺在测量过程都不能很好在坩祸内部伸展，所以测量的坩祸内宽尺寸与实际厚度尺寸偏差值较大，人为因素影响较大，不能统一坩祸内宽尺寸的检测标准。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种检测坩祸内宽的方法及装置，可以精确的得到坩祸内部任意位置的内宽尺寸。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种检测坩祸内宽的方法，包括:将第一卡尺的左爪和第二卡尺的右爪的刻度调整到同一水平高度；调整所述第一卡尺在水平尺的位置，使得所述左爪的尖端对应所述水平尺的O刻度线；调整所述第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺与所述第一卡尺紧A+-.罪；将被测的坩祸放置于所述第一卡尺和所述第二卡尺下，移动所述水平尺，使得所述左爪的尖端与所述坩祸内的左侧面接触；移动所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端与所述坩祸内的右侧面接触，所述第二卡尺的读数即是所述坩祸的内宽度值；调整所述左爪和所述右爪的高度，按照上述步骤测量所述坩祸内的不同高度处的宽度值。除此之外，本专利技术还提供了一种检测坩祸内宽的装置，使用上述所述的检测坩祸内宽的方法，包括:至少一个垂直支架；固定在所述垂直支架，并且表面具有刻度的水平尺；竖直设置于所述水平尺上的第一卡尺和第二卡尺；所述第一卡尺或所述第二卡尺为滑动卡尺；设置于所述第一卡尺的左爪，所述左爪的尖端朝外；设置于所述第二卡尺的右爪，所述右爪的尖端朝外。其中，所述第一卡尺和/所述第二卡尺为数显游标卡尺。其中，所述第一卡尺上还设置有可沿所述第一卡尺滑动的第一滑块，所述左爪设置于所述第一滑块上。其中，所述第二卡尺上还设置有可沿所述第二卡尺滑动的第二滑块，所述右爪设置于所述第二滑块上。其中，还包括设置于所述水平尺上的第三滑块，所述第一卡尺设置于所述第三滑块上。其中，还包括设置于所述水平尺上的第四滑块，所述第二卡尺设置于所述第四滑块上。其中，所述左爪的尖端与所述第一卡尺的O刻度线平齐，或所述右爪的尖端与所述第二卡尺的O刻度线平齐。其中，还包括水平滑块，用于将所述水平尺固定于所述垂直支架上，用于所述水平尺在水平方向上移动，或者所述水平尺沿着所述垂直支架在竖直方向上移动。其中，还包括设置于所述第一卡尺或所述第二卡尺的紧锁螺母，用于在所述第一卡尺或者所述第二卡尺对准后，阻止所述第一卡尺或所述第二卡尺移动。本专利技术实施例所提供的检测坩祸内宽的方法及装置，与现有技术相比，具有以下优点:所述检测坩祸内宽的方法，包括:将第一卡尺的左爪和第二卡尺的右爪的刻度调整到同一水平高度；调整所述第一卡尺在水平尺的位置，使得所述左爪的尖端对应所述水平尺的O刻度线；调整所述第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺与所述第一卡尺紧A+-.罪；将被测的坩祸放置于所述第一卡尺和所述第二卡尺下，移动所述水平尺，使得所述左爪的尖端与所述坩祸内的左侧面接触；移动所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端与所述坩祸内的右侧面接触，所述第二卡尺的读数即是所述坩祸的内宽度值；调整所述左爪和所述右爪的高度，按照上述步骤测量所述坩祸内的不同高度处的宽度值。所述检测坩祸内宽的方法，通过将所述水平尺上的第一卡尺和第二卡尺的放入被检测的坩祸内，由设置于所述第一卡尺上的左爪接触坩祸内的左侧，由置于所述第二卡尺上的右爪接触所述坩祸内的右侧，调节所述左爪和右爪的尖端在需要测量的所述坩祸的高度上，由于所述左爪和所述右爪在同一水平线上，所述左爪的尖端与所述右爪的尖端之间的间距就是需要测量的坩祸的宽度值，与所述左爪对应的第一卡尺和与所述右爪对应的第二卡尺之间的外端的距离就是需要测量的坩祸的这一高度的内宽。在整个操作过程中，操作简单，测量精确，读数方便、快捷，有利于检测人员的快速理解和掌握，可以对坩祸内任意位置进行检测，检测位置无死角，容易形成统一的检验标准和方法。与所述检测坩祸内宽的方法对应的检测坩祸内宽的装置，结构简单，制造成本低，测量过程简单、快速、方便，便于检测人员的快速掌握。综上所述，本专利技术实施例所提供的检测坩祸内宽的方法及装置，测量精确，读数方便、快捷，有利于检测人员的快速理解和掌握，可以对坩祸内任意位置进行检测，检测位置无死角，容易形成统一的检验标准和方法。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例所提供的检测坩祸内宽的方法示意图；图2为本专利技术实施例所提供的检测坩祸内宽的装置检测坩祸内宽的结构示意图。【具体实施方式】正如
技术介绍
部分所述，现有技术中的坩祸内宽尺寸的来料检验都使用卷尺或者直尺简单的测量一下，但是卷尺或者直尺在测量过程都不能很好在坩祸内部伸展，所以测量的坩祸内宽尺寸与实际厚度尺寸偏差值较大，人为因素影响较大，不能统一坩祸内宽尺寸的检测标准。基于此，本专利技术实施例提供了所述检测坩祸内宽的方法，包括:将第一卡尺的左爪和第二卡尺的右爪的刻度调整到同一水平高度；调整所述第一卡尺在水平尺的位置，使得所述左爪的尖端对应所述水平尺的O刻度线；调整所述第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺与所述第一卡尺紧A+-.罪；将被测的坩祸放置于所述第一卡尺和所述第二卡尺下，移动所述水平尺，使得所述左爪的尖端与所述坩祸内的左侧面接触；移动所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端与所述坩祸内的右侧面接触，所述第二卡尺的读数即是所述坩祸的内宽度值；调整所述左爪和所述右爪的高度，按照上述步骤测量所述坩祸内的不同高度处的宽度值。除此之外，本专利技术实施例还提供了一种检测坩祸内宽的装置，使用上述所述的检测坩祸内宽的方法，包括:至少一个垂直支架；固定在所述垂直支架，并且表面具有刻度的水平尺；竖直设置于所述水平尺上的第一卡尺和第二卡当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测坩埚内宽的方法，其特征在于，包括：将第一卡尺的左爪和第二卡尺的右爪的刻度调整到同一水平高度；调整所述第一卡尺在水平尺的位置，使得所述左爪的尖端对应所述水平尺的0刻度线；调整所述第二卡尺在所述水平尺的位置，使得所述第二卡尺与所述第一卡尺紧靠；将被测的坩埚放置于所述第一卡尺和所述第二卡尺下，移动所述水平尺，使得所述左爪的尖端与所述坩埚内的左侧面接触；移动所述第二卡尺，使得所述右爪的尖端与所述坩埚内的右侧面接触，所述第二卡尺的读数即是所述坩埚的内宽度值；调整所述左爪和所述右爪的高度，按照上述步骤测量所述坩埚内的不同高度处的宽度值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈志军，陈伟，肖贵云，金浩，
申请(专利权)人：晶科能源有限公司，浙江晶科能源有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36
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