本实用新型专利技术提供一种薄膜干涉测量装置，包括光源、支撑座、载物台、望远镜筒，CCD成像仪，该光源与载物台上的被测样本相对应，该载物台固定于该支撑座上，该载物台可沿该支撑座上、下移动，该支撑座上连接有可绕支撑座旋转的悬臂，该悬臂的端部固定有可上、下移动的调整柱体，该调整柱体上固定有该望远镜筒，调整柱体上与望远镜筒相对应的位置标刻有刻度盘，该望远镜筒的物镜与该载物台上的被测样本相对应，该望远镜筒的目镜与该CCD成像仪的镜头相对应。本实用新型专利技术结构简单，实验效果良好。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种薄膜干涉测量装置，属于物理实验演示仪器
技术介绍
薄膜干涉是一种常见的光干涉现象，其是由薄膜上、下表面反射或折射光束相遇而产生的干涉，薄膜通常由厚度很小的透明介质形成，如肥皂泡膜、油膜、介质膜等。薄膜干涉实验是物理课程中的必修实验，使用传统的实验方法，干涉效果不明显，测量数据不够准确，而专用的薄膜干涉测量仪价格昂贵，普及度不高。
技术实现思路
鉴于上述原因，本技术的目的在于提供一种薄膜干涉测量装置，该装置结构简单、实验效果良好，测量数据较为准确。为实现上述目的，本技术采用以下技术方案:—种薄膜干涉测量装置，包括光源、支撑座、载物台、望远镜筒，CXD成像仪，该光源与载物台上的被测样本相对应，该载物台固定于该支撑座上，该载物台可沿该支撑座上、下移动，该支撑座上连接有可绕支撑座旋转的悬臂，该悬臂的端部固定有可上、下移动的调整柱体，该调整柱体上固定有该望远镜筒，该望远镜筒的物镜与该载物台上的被测样本相对应，该望远镜筒的目镜与该CCD成像仪的镜头相对应。所述调整柱体上与所述望远镜筒相对应的位置标刻有刻度盘。装置还包括微距测量单元，其设置于所述调整柱体的上端，包括:位移传感器、微控芯片及显示屏，该位移传感器的数据输出端与该微控芯片的数据输入端相连接，该微控芯片的数据输出端与该显示屏的数据输入端相连接。本技术的优点在于:本技术结构简单、实验效果良好，可对竖直放置形成的薄膜干涉图样进行厚度测量，为薄膜干涉条纹厚度随高度的变化研究提供数据支持。【附图说明】图1是本技术的组成结构示意图。【具体实施方式】以下结合附图和实施例对本技术作进一步详细的说明。图1是本技术的组成结构示意图。如图所示，本技术公开的薄膜干涉测量装置，包括光源1、支撑座2、载物台3、望远镜筒6，CXD成像仪8，光源I与载物台3上的被测样本相对应，载物台3固定于支撑座2的中心轴上，该载物台3可沿支撑座2上、下移动，支撑座2的外柱上连接有可绕支撑座旋转的悬臂4，悬臂4的端部固定有可上、下移动的调整柱体5，调整柱体5上固定有望远镜筒6，调整柱体5上与望远镜筒6相对应的位置标刻有刻度盘7，望远镜筒6的物镜与载物台3上的被测样本相对应，望远镜筒6的目镜与CCD成像仪8的镜头相对应。使用本技术的薄膜干涉测量装置，进行薄膜干涉实验的方法是:I)、配制溶液于一具体实施例中，可分别量取蜂蜜20ml、水5ml、洗涤灵10ml，然后依次倒入调试盘中，用玻璃棒将混合溶液搅拌均匀。2)、制备薄膜用圆形器件(半径越小，效果越好)蘸取上述混合溶液，竖直放置，片刻后圆形器件表面形成薄膜，将其放置在周围空气流动小，条件适宜的实验桌上，观察干涉条纹的形成过程，并等待干涉条纹稳定。3)、调整薄膜干涉测量装置打开光源(如，钠、汞光灯)，将表面形成薄膜干涉条纹的圆形器件竖直放置于载物台3上；调节载物台3、望远镜筒6的相对位置和高度位置，使得望远镜筒6的物镜与载物台3上的圆形器件表面相对应，调节望远镜筒6的焦距，使得望远镜中能够清晰的显示干涉条纹，调节CCD成像仪8的位置，使得CCD成像仪8的镜头与望远镜筒6的目镜相对应，从CCD成像仪8的屏幕上可清晰的显示出明暗相间的干涉条纹。本技术的薄膜干涉测量装置还包括微距测量单元9，可对干涉条纹的厚度进行测量，该微距测量单元9设置于调整柱体5的上端，其包括:位移传感器、微控芯片及显示屏，位移传感器的数据输出端与微控芯片的数据输入端相连接，微控芯片的数据输出端与显示屏的数据输入端相连接，调节调整柱体5的高度，使得望远镜筒的叉丝对准干涉条纹的不同位置，通过微距测量单元计算、读取明暗条纹的厚度值。以上所述是本技术的较佳实施例及其所运用的技术原理，对于本领域的技术人员来说，在不背离本技术的精神和范围的情况下，任何基于本技术技术方案基础上的等效变换、简单替换等显而易见的改变，均属于本技术保护范围之内。【主权项】1.薄膜干涉测量装置，其特征在于，包括光源、支撑座、载物台、望远镜筒，CCD成像仪， 该光源与载物台上的被测样本相对应， 该载物台固定于该支撑座上，该载物台可沿该支撑座上、下移动，该支撑座上连接有可绕支撑座旋转的悬臂，该悬臂的端部固定有可上、下移动的调整柱体，该调整柱体上固定有该望远镜筒， 该望远镜筒的物镜与该载物台上的被测样本相对应，该望远镜筒的目镜与该CCD成像仪的镜头相对应。2.如权利要求1所述的薄膜干涉测量装置，其特征在于，所述调整柱体上与所述望远镜筒相对应的位置标刻有刻度盘。3.如权利要求2所述的薄膜干涉测量装置，其特征在于，还包括微距测量单元，其设置于所述调整柱体的上端，包括:位移传感器、微控芯片及显示屏，该位移传感器的数据输出端与该微控芯片的数据输入端相连接，该微控芯片的数据输出端与该显示屏的数据输入端相连接。【专利摘要】本技术提供一种薄膜干涉测量装置，包括光源、支撑座、载物台、望远镜筒，CCD成像仪，该光源与载物台上的被测样本相对应，该载物台固定于该支撑座上，该载物台可沿该支撑座上、下移动，该支撑座上连接有可绕支撑座旋转的悬臂，该悬臂的端部固定有可上、下移动的调整柱体，该调整柱体上固定有该望远镜筒，调整柱体上与望远镜筒相对应的位置标刻有刻度盘，该望远镜筒的物镜与该载物台上的被测样本相对应，该望远镜筒的目镜与该CCD成像仪的镜头相对应。本技术结构简单，实验效果良好。【IPC分类】G01J9/02, G09B23/22【公开号】CN204791727【申请号】CN201520527929【专利技术人】高兴茹, 宗广志, 姜玉杰, 张继琛, 马忱 【申请人】北京联合大学【公开日】2015年11月18日【申请日】2015年7月20日本文档来自技高网...
【技术保护点】
薄膜干涉测量装置，其特征在于，包括光源、支撑座、载物台、望远镜筒，CCD成像仪，该光源与载物台上的被测样本相对应，该载物台固定于该支撑座上，该载物台可沿该支撑座上、下移动，该支撑座上连接有可绕支撑座旋转的悬臂，该悬臂的端部固定有可上、下移动的调整柱体，该调整柱体上固定有该望远镜筒，该望远镜筒的物镜与该载物台上的被测样本相对应，该望远镜筒的目镜与该CCD成像仪的镜头相对应。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高兴茹，宗广志，姜玉杰，张继琛，马忱，
申请(专利权)人：北京联合大学，
类型：新型
国别省市：北京;11
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