一种测试真空环境下电器性能的连接器制造技术

本发明专利技术公开了一种测试真空环境下电器性能的连接器，包括密封插座、通用插座、线缆及法兰盘，所述密封插座由上套、壳体、针体、第一密封圈、绝缘体、密封胶及锁紧螺钉组成；法兰盘为设有贯通插座口的板状件，其上设有凹陷的平台；所述壳体设于法兰盘的凹陷的平台内，锁紧螺钉穿过壳体与法兰盘啮合，线缆的一端与密封插座的针体连接，另一端与通用插座连接。本发明专利技术采用密封插座及法兰盘与宇航电器的接线端子实现有效的密闭连接，又通过通用插座与外部设备实施电连接，从而实现真空环境下对宇航电器电性能的测试，具有结构简单、连接方便、泄漏率低且测试安全可靠的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电连接器
，用于将真空状态下的电器与外部设备实施电连接，尤其一种测试真空环境下电器性能的连接器。
技术介绍
随着航天航空技术的快速发展，宇航飞行器朝着国产化的方向迈出了可喜的一步，宇航飞行器内所使用的宇航电器已步入自主研发、自主制造的新阶段，宇航电器与常规电器最大的区别在于宇航电器必须要保证在真空环境下的电性能，为此，宇航电器在真空环境下的电性能测试就成为必然。现有技术的宇航电器上均设有接线端子，且接线端子通常经端盖封闭在宇航电器的腔体内，存在的问题是，当对宇航电器实施测试时，如何将宇航电器的接线端子与外部设备之间实施电连接，满足信号的无障碍传输，又保证宇航电器腔体内的真空度符合要求，设计一种连接方便、泄漏率低且能测试真空环境下电性能的连接器尤为必要。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足而提供的一种测试真空环境下电器性能的连接器，本专利技术采用密封插座及法兰盘与宇航电器的接线端子实现有效的密闭连接，又通过通用插座与外部设备实施电连接，从而实现真空环境下对宇航电器电性能的测试，具有结构简单、连接方便、泄漏率低且测试安全可靠的优点。实现本专利技术目的的具体技术方案是: 一种测试真空环境下电器性能的连接器，其特点包括密封插座、通用插座、线缆及法兰盘，所述密封插座由上套、壳体、针体、第一密封圈、绝缘体、密封胶及锁紧螺钉组成，壳体为周边设有凸台的腔体，腔体的轴向设有贯通的针体孔，针体孔的周边设有螺母，凸台上设有螺钉孔，凸台的底部设有密封槽； 针体分布于壳体的针体孔内，绝缘体填充于针体孔与针体之间，密封胶灌注于绝缘体的两端面及针体孔与针体之间，第一密封圈设于壳体的密封槽内，上套套装于壳体的针体孔外侧； 法兰盘为设有贯通插座口的板状件，其正面插座口的周边设有凹陷的平台，平台上设有锁紧螺孔，背面设有法兰密封槽，法兰密封槽内设有第二密封圈； 所述壳体经凸台设于法兰盘的凹陷的平台内，锁紧螺钉穿过密封插座的螺钉孔与法兰盘平台的锁紧螺孔啮合，线缆的一端与密封插座的针体连接，另一端与通用插座连接； 所述的绝缘体由玻璃烧结而成；所述的密封胶16选用EC104环氧树脂胶。本专利技术采用密封插座及法兰盘与宇航电器的接线端子实现有效的密闭连接，又通过通用插座与外部设备实施电连接，从而实现真空环境下对宇航电器电性能的测试，具有结构简单、连接方便、泄漏率低且测试安全可靠的优点。【附图说明】图1为本专利技术的结构示意图； 图2为本专利技术密封插座的结构示意图； 图3为本专利技术多插座连接的使用状态示意图； 图4为密封插座与接线端子连接的使用状态示意图； 图5为本专利技术与宇航电器连接的使用状态示意图。【具体实施方式】参阅图1、图2，本专利技术包括密封插座1、通用插座2、线缆3及法兰盘4，所述密封插座I由上套11、壳体12、针体13、第一密封圈14、绝缘体15、密封胶16及锁紧螺钉17组成，壳体12为周边设有凸台的腔体，腔体的轴向设有贯通的针体孔121，针体孔121的周边设有螺母124，凸台上设有螺钉孔122，凸台的底部设有密封槽123 ; 针体13分布于壳体12的针体孔121内，绝缘体15填充于针体孔121与针体13之间，密封胶16灌注于绝缘体15的两端面及针体孔121与针体13之间，第一密封圈14设于壳体12的密封槽123内，上套11套装于壳体12的针体孔121外侧； 法兰盘4为设有贯通插座口的板状件，其正面插座口的周边设有凹陷的平台41，平台41上设有锁紧螺孔42，背面设有法兰密封槽43，法兰密封槽43内设有第二密封圈18 ; 所述壳体12经凸台设于法兰盘4的凹陷的平台41内，锁紧螺钉17穿过密封插座I的螺钉孔122与法兰盘4平台41的锁紧螺孔42啮合，线缆3的一端与密封插座I的针体13连接，另一端与通用插座2连接； 所述的绝缘体15由玻璃烧结而成；所述的密封胶16选用EC104环氧树脂胶。实施例: 本专利技术用于对密闭腔体内处于真空环境下的宇航电器6实施电性能的测试。测试前的准备工作 参阅图1、图3、图4、图5，制作一个与宇航电器6端盖的形状及连接方式均相同的法兰盘4，打开宇航电器6的端盖，使密闭腔体恢复常压，将设于密闭腔体内的接线端子61从端盖内取出。本专利技术与接线端子的连接 参阅图1、图2、图4、图5，将宇航电器6内的接线端子61与本专利技术密封插座I的针体13实施插接，并将接线端子61上的螺钉62与针体孔121周边的螺母124固定；将接线端子61重新放回到密闭腔体端盖内，并将法兰盘4装入宇航电器6的端盖位置并紧固，完成本专利技术与接线端子的连接。本专利技术与密闭腔体间的密封设置 参阅图1、图2、图5，本专利技术与密闭腔体间设有三道密封屏障，其一，由于法兰盘4背面的法兰密封槽43内设有第二密封圈18，当法兰盘4装入宇航电器6的端盖位置并紧固后，第二密封圈18在密闭腔体的端盖处与法兰盘4之间构筑了第一密封屏障；其二，由于壳体12的密封槽123内设有第一密封圈14，当密封插座I的壳体12经凸台设于法兰盘4的凹陷的平台41内并经锁紧螺钉17将密封插座I与法兰盘4锁紧时，第一密封圈14在壳体12与法兰盘4之间构筑了第二密封屏障；其三，由于绝缘体15填充于壳体12的针体孔121与针体13之间，加之密封胶16灌注于绝缘体15的两端面及壳体12的针体孔121与针体13之间，绝缘体15及密封胶16在壳体12与针体13之间构筑了第三密封屏障；以上三道密封屏障的设置有效保障了本专利技术与密闭腔体间的密封。对密闭腔体内的宇航电器实施电性能测试 参阅图1、图3、图5，按设计要求对宇航电器的密闭腔体实施抽真空；将本专利技术的通用插座2与外部设备实施电连接，即可对密闭腔体内的宇航电器实施真空环境下的电性能测试。参阅图1、图2，由于密封胶16灌注于绝缘体15的两端面及针体孔121与针体13之间，为防止密封胶16外溢，本专利技术在壳体12的针体孔121外侧套装了上套11。参阅图1、图3，当宇航电器6内设有多组接线端子61时，只需对应在法兰盘4上设置多个插座口，并采用多个密封插座I与多组接线端子61对应插接，实现多个通用插座2与外部设备实施电连接。【主权项】1.一种测试真空环境下电器性能的连接器，其特征在于它包括密封插座(I)、通用插座(2)、线缆(3)及法兰盘(4)，所述密封插座(I)由上套(11)、壳体(12)、针体(13)、第一密封圈(14)、绝缘体(15)、密封胶(16)及锁紧螺钉(17)组成，壳体(12)为周边设有凸台的腔体，腔体的轴向设有贯通的针体孔(121)，针体孔(121)的周边设有螺母(124)，凸台上设有螺钉孔(122 )，凸台的底部设有密封槽(123);针体(13)分布于壳体(12)的针体孔(121)内，绝缘体(15)填充于针体孔(121)与针体(13)之间，密封胶(16)灌注于绝缘体(15)的两端面及针体孔(121)与针体(13)之间，第一密封圈(14)设于壳体(12)的密封槽(123)内，上套(11)套装于壳体(12)的针体孔(121)外侧；法兰盘(4)为设有贯通插座口的板状件，其正面插座口的周边设有凹陷的平台(41)，平台(41)上设有锁紧螺孔(42)，背面设有法兰密封槽(43)，法兰密封槽(43)内设有第二密封圈本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试真空环境下电器性能的连接器，其特征在于它包括密封插座（1）、通用插座（2）、线缆（3）及法兰盘（4），所述密封插座（1）由上套（11）、壳体（12）、针体（13）、第一密封圈（14）、绝缘体（15）、密封胶（16）及锁紧螺钉（17）组成，壳体（12）为周边设有凸台的腔体，腔体的轴向设有贯通的针体孔（121），针体孔（121）的周边设有螺母（124），凸台上设有螺钉孔（122），凸台的底部设有密封槽（123）；针体（13）分布于壳体（12）的针体孔（121）内，绝缘体（15）填充于针体孔（121）与针体（13）之间，密封胶（16）灌注于绝缘体（15）的两端面及针体孔（121）与针体（13）之间，第一密封圈（14）设于壳体（12）的密封槽（123）内，上套（11）套装于壳体（12）的针体孔（121）外侧；法兰盘（4）为设有贯通插座口的板状件，其正面插座口的周边设有凹陷的平台（41），平台（41）上设有锁紧螺孔（42），背面设有法兰密封槽（43），法兰密封槽（43）内设有第二密封圈（18）；所述壳体（12）经凸台设于法兰盘（4）的凹陷的平台（41）内，锁紧螺钉（17）穿过密封插座（1）的螺钉孔（122）与法兰盘（4）平台（41）的锁紧螺孔（42）啮合，线缆（3）的一端与密封插座（1）的针体（13）连接，另一端与通用插座（2）连接。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊磊，
申请(专利权)人：上海航天科工电器研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31