本发明专利技术公开了一种同轴探针，包括小探针和大探针，该小探针包括小探针接触器和设置于该小探针接触器一端并可相对该小探针接触器上下运动的小探针测试针头；该大探针包括大探针接触器和设置于该大探针接触器一端并可相对该大探针接触器上下运动的大探针测试针头；该小探针同轴套设于该大探针内，且该小探针接触器和大探针接触器之间绝缘固定连接，该小探针测试针头活动容置于该大探针测试针头内并在未受外力时伸出该大探针测试针头外。该同轴探针对于待测产品小的地方可以植下外探针就可以植双针采用四线法测试，而且植针位置是以扎点中心为针心，对于产品定位放的距离，不影响针的扎针位置，从而保证了测试结果的准确性，并大大提高测试效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及PCB测试用具，具体的说是一种同轴探针。
技术介绍
随着电子产品中信号传输的高速数字化和高频化的急速发展，高密度电子组装离散无源元件已受到严峻的挑战。因此，在FPC中埋入无源元件是目前和今后必然发展趋势与要求，并会迅速成为常规FPC产品而量化生产。由于FPC板的生产过程较为复杂，它涉及的工艺范围广，为保证FPC板的质量，需要对FPC板进行各种检测试验，通常需要对FPC板进行人工目测、在线测试、功能测试、自动光学检测、自动X光检查测试及激光检测系统。其中，对FPC板的功能测试通过对FPC板的电测试进行。目前我们熟悉的对FPC板测试的方法，都是在产品上植针，来对产品进行测试，小型距离过通过微针来植针，从而对FPC板上单片各电极电阻，电流、电压以及开路、短路、等原件功能的测试。有些需要采用4W测试时，植针位置不够，或者容易扎偏，导致扎不准。同时，由于现在的FPC板随着科技的发展，产品要求越来越小，越来精致，小巧实用，Connector连接器越来越高的测试需求，需要在FPC或者PCB等密集距离小的地方扎针，所以现在连接器越来越小，需要扎针的越来越小，植针的越来越多，因此现在的针越来越小，对针的要求越来越高，又因为现在的针不能满足要求，经常出现扎不准，扎不到的情况，导致通过率极低，稳定性极差，从而极大的影响测试治具的发展。
技术实现思路
为了克服上述缺陷，本专利技术提供了一种同轴探针，以使对FPC板上植针，能够在很小的距离情况下植双针，以达到测试的需求，满足各大产品的测试需求，更为小间距采用四线测试提供了充足的空间条件，以达到植针间距的需求。本专利技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种同轴探针，包括小探针和大探针，该小探针包括小探针接触器和设置于该小探针接触器一端并可相对该小探针接触器上下运动的小探针测试针头；该大探针包括大探针接触器和设置于该大探针接触器一端并可相对该大探针接触器上下运动的大探针测试针头；该小探针同轴套设于该大探针内，且该小探针接触器和该大探针接触器之间绝缘固定连接，该小探针测试针头活动容置于该大探针测试针头内并在未受外力时伸出该大探针测试针头外。作为本专利技术的进一步改进，所述小探针的整体长度大于所述大探针的整体长度。本专利技术的有益效果是:该同轴探针，可满足待测产品需要植针位置很小，扎点间距很小，又需要植双针采用四线法测试的要求，该同轴探针通过探针内部小探针先行接触产品，由弹性回调，再由外面的大探针接触产品，该大、小探针内绝缘，所以两探针不会接触，不会出现短路问题。由于探针露出高度高于内部小探针高度，所以双针可以很好的接触产品，所以两探针通过绝缘材料固定在一起，两针尖的间距很小，对于待测产品小的地方可以植下外探针就可以植双针采用四线法测试，而且植针位置是以扎点中心为针心，对于产品定位放的距离，不影响针的扎针位置，从而保证了测试结果的准确性，并大大提高测试效率。【附图说明】图1为本专利技术结构示意图；图2为图1中的A部放大结构示意图。结合附图，作以下说明:I——小探针2——大探针11——小探针接触器 12——大探针接触器21——大探针接触器 22——大探针测试针头【具体实施方式】以下结合附图，对本专利技术的一个较佳实施例作详细说明。但本专利技术的保护范围不限于下述实施例，即但凡以本专利技术申请专利范围及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本专利技术专利涵盖范围之内。如图1-2所示，一种同轴探针，包括小探针I和大探针2，该小探针包括小探针接触器11和设置于该小探针接触器一端并可相对该小探针接触器上下运动的小探针测试针头12 ;该大探针包括大探针接触器21和设置于该大探针接触器一端并可相对该大探针接触器上下运动的大探针测试针头22 ;该小探针同轴套设于该大探针内，且该小探针接触器和该大探针接触器之间绝缘固定连接，该小探针测试针头活动容置于该大探针测试针头内并在未受外力时伸出该大探针测试针头外。所述小探针的整体长度大于所述大探针的整体长度。该同轴探针采用两探针同轴设置，在两探针接触器之间采用绝缘材料使其绝缘接触，可以保护内部探针，并同时维护内部小探针测试针头的弹性。对于待测试产品需要植针位置很小，扎点间距很小，又需要植双针采用四线法测试时，采用本专利技术所述同轴探针可以很好的解决这个技术问题。该同轴探针采用里外两个探针来植针，可以缩短两探针之间的距离，尤其适用于于小距离的四线法测试。测试时，该同轴探针的内部小探针的小测试针头先和产品接触，由弹性回调，再由外部的探针接触产品，该两探针的探针接触器之间绝缘不接触，不会出现短路问题。内部小探针露出高度大于内部探针高度，所以双针可以很好的接触产品，两探针间距又恨小，植针位置以扎点中心为针心，对于产品定位放的距离，不影响针的扎针位置，不会发生偏置，这就保证了测试结果的准确性，又大大提高了测试效率。【主权项】1.一种同轴探针，其特征在于:包括小探针(I)和大探针(2)，该小探针包括小探针接触器(11)和设置于该小探针接触器一端并可相对该小探针接触器上下运动的小探针测试针头(12);该大探针包括大探针接触器(21)和设置于该大探针接触器一端并可相对该大探针接触器上下运动的大探针测试针头(22);该小探针同轴套设于该大探针内，且该小探针接触器和该大探针接触器之间绝缘固定连接，该小探针测试针头活动容置于该大探针测试针头内并在未受外力时伸出该大探针测试针头外。2.根据权利要求1所述的同轴探针，其特征在于:所述小探针的整体长度大于所述大探针的整体长度。【专利摘要】本专利技术公开了一种同轴探针，包括小探针和大探针，该小探针包括小探针接触器和设置于该小探针接触器一端并可相对该小探针接触器上下运动的小探针测试针头；该大探针包括大探针接触器和设置于该大探针接触器一端并可相对该大探针接触器上下运动的大探针测试针头；该小探针同轴套设于该大探针内，且该小探针接触器和大探针接触器之间绝缘固定连接，该小探针测试针头活动容置于该大探针测试针头内并在未受外力时伸出该大探针测试针头外。该同轴探针对于待测产品小的地方可以植下外探针就可以植双针采用四线法测试，而且植针位置是以扎点中心为针心，对于产品定位放的距离，不影响针的扎针位置，从而保证了测试结果的准确性，并大大提高测试效率。【IPC分类】G01R1/073【公开号】CN105067849【申请号】CN201510551750【专利技术人】薛来辉, 郭剑锋, 徐鹏 【申请人】昆山周晋电子科技有限公司【公开日】2015年11月18日【申请日】2015年9月2日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种同轴探针，其特征在于：包括小探针(1)和大探针(2)，该小探针包括小探针接触器(11)和设置于该小探针接触器一端并可相对该小探针接触器上下运动的小探针测试针头(12)；该大探针包括大探针接触器(21)和设置于该大探针接触器一端并可相对该大探针接触器上下运动的大探针测试针头(22)；该小探针同轴套设于该大探针内，且该小探针接触器和该大探针接触器之间绝缘固定连接，该小探针测试针头活动容置于该大探针测试针头内并在未受外力时伸出该大探针测试针头外。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：薛来辉，郭剑锋，徐鹏，
申请(专利权)人：昆山周晋电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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