一种计算光谱发射率和真实温度的方法技术

本发明专利技术提供了一种计算光谱发射率和真实温度的方法，采用多光谱测温仪对待测发光体的光谱发射率和真实温度进行测量，包括步骤：(1)采用分光器将待测发光体发出的光分成具有不同波长的多路光；(2)让多光谱测温仪的多个通道分别接收相应的一路光，从而得到每路光的亮度温度；(3)基于预定规则得到每个通道测得的亮度温度与真实温度的温度关系式，即这里，Ti为第i个通道的亮度温度，T为真实温度，λi为第i个通道接收的分光束的波长，C2为第二辐射常数，ε(λi，T)为第i个通道的光谱发射率；(4)基于温度关系式以及预定转换规则，得到迭代截止条件，即、这里，(5)基于梯度投影法和光谱发射率的值介于0和1之间，计算出光谱发射率和真实温度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种无需假设光谱发射率与波长之间函数关系即能够计算出待测发光体的真实温度和光谱发射率的一种计算光谱发射率和真实温度的方法。
技术介绍
多光谱辐射温度测量技术是一种基于探测和分析待测目标热辐射的非接触测温技术。该项技术以普朗克定律为理论依据，根据待测目标多光谱辐射信息，利用相关算法实现真实温度和光谱发射率的同时测量。根据多光谱辐射测温理论，利用普朗克公式建立温度求解的方程组属于欠定方程组(未知数个数大于方程数)。目前，多光谱辐射测温算法需要事先假设待测对象的光谱发射率与波长之间的函数关系，如果假设的函数关系与实际情况相吻合，则反演结果较好，反之则偏差很大。但在实际测量过程中，往往难以确定光谱发射率与波长之间的函数关系，导致反演结果不准确。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述问题而进行的，目的在于提供一种无需假设光谱发射率与波长之间函数关系即能够计算出待测发光体的真实温度和光谱发射率的一种计算光谱发射率和真实温度的方法。本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种计算光谱发射率和真实温度的方法，采用多光谱测温仪对待测发光体的光谱发射率和真实温度进行测量，具体包括以下步骤：(1)采用分光器将所述待测发光体发出的光分成具有不同波长的多路光；(2)让所述多光谱测温仪的多个通道分别接收相应的一路光，从而得到每路光的亮度温度；(3)基于预定规则得到每个所述通道测得的所述亮度温度与所述真实温度的温度关系式，即Inε(λi，T),这里，Ti为第i个所述通道的亮度温度，T为所述真实温度，λi为第i个所述通道接收的所述分光束的波长，C2为第二辐射常数，ε(λi，T)为第i个所述通道的所述光谱发射率；(4)基于所述温度关系式以及预定转换规则，得到迭代截止条件，即、mi...

【技术特征摘要】
1.一种计算光谱发射率和真实温度的方法，采用多光谱测温仪对待
测发光体的光谱发射率和真实温度进行测量，具体包括以下步骤：
(1)采用分光器将所述待测发光体发出的光分成具有不同波长
的多路光；
(2)让所述多光谱测温仪的多个通道分别接收相应的一路光，
从而得到每路光的亮度温度；
(3)基于预定规则得到每个所述通道测得的所述亮度温度与所
述真实温度的温度关系式，即Inε(λi，T),这里，Ti为第i
个所述通道的亮度温度，T为所述真实温度，λi为...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢键，吴飞，邓琛，孔勇，
申请(专利权)人：上海工程技术大学，
类型：发明
国别省市：上海;31