基于交流电磁场的水下金属结构物缺陷检测探头制造技术

技术编号:12253993 阅读:75 留言:0更新日期:2015-10-28 17:04
本发明专利技术公开了一种基于交流电磁场的水下金属结构物缺陷检测探头,主要由压盖、底盖、筒体、密封接头、O型圈、检测线圈、激励电路、调理电路、U型磁芯、激励线圈、密封垫和顶盖组成,所述检测线圈安装在底盖的中心凹槽内,检测线圈与调理电路连接,所述调理电路安装在筒体内部卡槽甲内,所述激励电路安装在筒体内部卡槽乙内,所述激励电路与激励线圈连接,所述压盖将底盖压紧至筒体底部,底盖、O型圈和筒体之间形成隔水空间,达到自密封效果。本发明专利技术的有益效果如下:利用交流电磁场检测技术,设计了一种用于水下金属结构物缺陷检测的探头,能够有效解决水下密封、信号衰减等问题,可实现水下金属结构物缺陷的检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种缺陷检测系统,特别涉及一种基于交流电磁场的水下金属结构物缺陷检测系统。
技术介绍
随着海洋石油工业的迅猛发展,许多海洋平台、海底管道进入老龄化阶段。由于水下金属结构物受到海浪等环境载荷的作用,容易产生腐蚀、断裂、疲劳等缺陷。及时检测水下金属结构物缺陷,对于保障海洋石油装备的安全运营具有重要意义。传统检测技术很难用于复杂海况下金属结构物缺陷的检测。本专利技术利用交流电磁场检测技术,设计了一种用于水下金属结构物缺陷检测的探头,能够有效解决水下密封、信号衰减等问题,具有重要工程应用价值。
技术实现思路
本专利技术的目的就是针对现有技术不足,利用交流电磁场检测技术,设计了一种用于水下金属结构物缺陷检测的探头,能够有效解决水下密封、信号衰减等问题,可实现水下金属结构物缺陷的检测,对于保证海洋石油装备安全服役具有重要意义。其特征是:基于交流电磁场的水下结构物缺陷检测探头,主要由压盖、底盖、筒体、密封接头、O型圈、检测线圈、激励电路、调理电路、U型磁芯、激励线圈、密封垫和顶盖组成,所述压盖为中空环形结构,压盖外部有设有四个松紧口、内部设有内螺纹,所述底盖为有机玻璃材料,底盖边缘设有两个限位块,所述筒体为耐海水腐蚀的不锈钢,筒体内部设有限位槽、矩形槽、卡槽甲、卡槽乙和密封槽,筒体底部设有外螺纹,所述O型圈为耐海水腐蚀的氟胶密封圈,O型圈安装在筒体的密封槽内,所述检测线圈安装在底盖的中心凹槽内,检测线圈与调理电路连接,所述调理电路安装在筒体内部卡槽甲内,所述激励电路安装在筒体内部卡槽乙内,所述激励电路与激励线圈连接,所述激励线圈缠绕在U型磁芯横梁上,所述U型磁芯安装在筒体内部的矩形卡槽内,所述底盖安装在筒体底部,底盖的限位块安装在筒体的限位槽内,所述压盖的内螺纹与筒体的外螺纹配合,所述压盖将底盖压紧至筒体底部,所述密封垫套在密封接头上,所述密封接头安装在顶盖上,所述顶盖安装在筒体顶部。所述压盖的松紧口可用于压盖的拧紧和松开,所述压盖将底盖压紧至筒体底部,底盖、O型圈和筒体之间形成隔水空间,探头在水下越深,海水对底盖压力越大,筒体内空间密封越好,达到自密封效果,所述激励电路可产生激励信号,激励信号通过激励线圈在工件表面产生交变电磁场,所述检测线圈用于检测缺陷附近畸变的电磁场,所述调理电路对检测线圈检测到的信号进行放大和滤波,所述密封接头用于信号电缆和筒体之间的密封,将激励电路和调理电路共同封装在筒体内部,可有效减少海洋环境信号干扰,减小信号由海底到海面上的衰减,同时减小探头体积。【附图说明】附图1是本专利技术的整体示意图。附图2是本专利技术的安装示意图。附图3是本专利技术的筒体示意图。附图4是本专利技术的筒体内部示意图。附图5是本专利技术的外部示意图。上图中:压盖1、松紧口 1.1、内螺纹1.2、底盖2、限位块2.1、筒体3、限位槽3.1、矩形槽3.2、卡槽甲3.3、卡槽乙3.4、密封槽3.5、外螺纹3.6、密封接头4、O型圈5、检测线圈6、调理电路7、激励电路8、U型磁芯9、激励线圈10、密封垫11、顶盖12。【具体实施方式】 结合附图1-5,对本专利技术作进一步的描述:本专利技术主要由压盖1、底盖2、筒体3、密封接头4、O型圈5、检测线圈6、激励电路7、调理电路8、U型磁芯9、激励线圈10、密封垫11和顶盖12组成,所述压盖I为中空环形结构,压盖外部有设有四个松紧口 1.1、内部设有内螺纹1.2,所述底盖2为有机玻璃材料,底盖2边缘设有两个限位块2.1,所述筒体3为耐海水腐蚀的316L不锈钢,筒体3内部设有限位槽3.1、矩形槽3.2、卡槽甲3.3、卡槽乙3.4和密封槽3.5,筒体3底部设有外螺纹3.6,所述O型圈5为耐海水腐蚀的氟胶密封圈,O型圈5安装在筒体3的密封槽3.5内,所述检测线圈6安装在底盖2的中心凹槽内,检测线圈6与调理电路7连接,所述调理电路7安装在筒体3内部卡槽甲3.3内,所述激励电路8安装在筒体内部卡槽乙3.4内,所述激励电路8与激励线圈10连接,所述激励线圈10缠绕在U型磁芯9横梁上,所述U型磁芯9安装在筒体3内部的矩形卡槽3.2内,所述底盖2安装在筒体3底部,底盖2的限位块2.1安装在筒体3的限位槽3.1内,所述压盖I的内螺纹1.2与筒体3的外螺纹3.6配合,所述压盖I将底盖2压紧至筒体3底部,所述密封垫11套在密封接头4上,所述密封接头4安装在顶盖12上,所述顶盖12安装在筒体3顶部。所述压盖I的松紧口 1.1可用于压盖I的拧紧和松开,所述压盖I将底盖2压紧至筒体3底部,底盖2、O型圈5和筒体3之间形成隔水空间,探头在水下越深,海水对底盖2压力越大,筒体内空间密封越好,达到自密封效果,所述激励电路8可产生激励信号,激励信号通过激励线圈10在工件表面产生交变电磁场,所述检测线圈6用于检测缺陷附近畸变的电磁场,所述调理电路7对检测线圈6检测到的信号进行放大和滤波,所述密封接头4用于信号电缆和筒体3之间的密封,将激励电路8和调理电路7共同封装在筒体3内部,可有效减少海洋环境信号干扰,减小信号由海底到海面上的衰减,同时减小探头体积。本专利技术的有益效果是:利用交流电磁场检测技术,设计了一种用于水下金属结构物缺陷检测的探头,能够有效解决水下密封、信号衰减等问题,可实现水下金属结构物缺陷的检测,对于保证海洋石油装备安全服役具有重要意义。【主权项】1.一种基于交流电磁场的水下金属结构物缺陷检测探头,其特征是:主要由压盖、底盖、筒体、密封接头、O型圈、检测线圈、激励电路、调理电路、U型磁芯、激励线圈、密封垫和顶盖组成,所述压盖为中空环形结构,压盖外部有设有四个松紧口、内部设有内螺纹,所述底盖为有机玻璃材料,底盖边缘设有两个限位块,所述筒体为耐海水腐蚀的不锈钢,筒体内部设有限位槽、矩形槽、卡槽甲、卡槽乙和密封槽,筒体底部设有外螺纹,所述O型圈为耐海水腐蚀的氟胶密封圈,O型圈安装在筒体的密封槽内,所述检测线圈安装在底盖的中心凹槽内,检测线圈与调理电路连接,所述调理电路安装在筒体内部卡槽甲内,所述激励电路安装在筒体内部卡槽乙内,所述激励电路与激励线圈连接,所述激励线圈缠绕在U型磁芯横梁上,所述U型磁芯安装在筒体内部的矩形卡槽内,所述底盖安装在筒体底部,底盖的限位块安装在筒体的限位槽内,所述压盖的内螺纹与筒体的外螺纹配合,所述压盖将底盖压紧至筒体底部,所述密封垫套在密封接头上,所述密封接头安装在顶盖上,所述顶盖安装在筒体顶部。【专利摘要】本专利技术公开了一种基于交流电磁场的水下金属结构物缺陷检测探头,主要由压盖、底盖、筒体、密封接头、O型圈、检测线圈、激励电路、调理电路、U型磁芯、激励线圈、密封垫和顶盖组成,所述检测线圈安装在底盖的中心凹槽内,检测线圈与调理电路连接,所述调理电路安装在筒体内部卡槽甲内,所述激励电路安装在筒体内部卡槽乙内,所述激励电路与激励线圈连接,所述压盖将底盖压紧至筒体底部,底盖、O型圈和筒体之间形成隔水空间,达到自密封效果。本专利技术的有益效果如下:利用交流电磁场检测技术,设计了一种用于水下金属结构物缺陷检测的探头,能够有效解决水下密封、信号衰减等问题,可实现水下金属结构物缺陷的检测。【IPC分类】G01N27/82【公开号】CN105004784【申请号】CN201510522183【专利技术人】李伟, 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于交流电磁场的水下金属结构物缺陷检测探头,其特征是:主要由压盖、底盖、筒体、密封接头、O型圈、检测线圈、激励电路、调理电路、U型磁芯、激励线圈、密封垫和顶盖组成,所述压盖为中空环形结构,压盖外部有设有四个松紧口、内部设有内螺纹,所述底盖为有机玻璃材料,底盖边缘设有两个限位块,所述筒体为耐海水腐蚀的不锈钢,筒体内部设有限位槽、矩形槽、卡槽甲、卡槽乙和密封槽,筒体底部设有外螺纹,所述O型圈为耐海水腐蚀的氟胶密封圈,O型圈安装在筒体的密封槽内,所述检测线圈安装在底盖的中心凹槽内,检测线圈与调理电路连接,所述调理电路安装在筒体内部卡槽甲内,所述激励电路安装在筒体内部卡槽乙内,所述激励电路与激励线圈连接,所述激励线圈缠绕在U型磁芯横梁上,所述U型磁芯安装在筒体内部的矩形卡槽内,所述底盖安装在筒体底部,底盖的限位块安装在筒体的限位槽内,所述压盖的内螺纹与筒体的外螺纹配合,所述压盖将底盖压紧至筒体底部,所述密封垫套在密封接头上,所述密封接头安装在顶盖上,所述顶盖安装在筒体顶部。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李伟袁新安陈国明孔庆晓葛玖浩张雨田赵梦一吴衍运
申请(专利权)人:中国石油大学华东
类型:发明
国别省市:山东;37

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