太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置制造方法及图纸

技术编号:12091566 阅读:111 留言:0更新日期:2015-09-23 09:51
本实用新型专利技术提供一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置,该装置包括:壳体,壳体包括:聚焦光入射口和出射口;聚焦光入射口和出射口之间形成测试通道;多条竖直滑轨,竖直设置在壳体内的两个相对的侧壁上;水平滑轨,水平设置在壳体内的两个相对的侧壁上;多个样品池,设置在壳体内、测试通道的上方;每个样品池设置在相对的两条竖直滑轨之间;第一驱动装置,用于驱动样品池在竖直滑轨上,向下移动到测试通道处;第二驱动装置,用于驱动样品池,在水平滑轨上,左右移动到测试通道内聚焦光的焦点处。上述技术方案提高了样品测试的效率和精度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及太赫兹时域光谱测量系统
,特别涉及一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置
技术介绍
太赫兹时域光谱技术是采用飞秒激光器激发砷化镓晶体辐射出的太赫兹波对物质进行探测的一种新技术。在太赫兹时域光谱系统中,样品的太赫兹时域波形的获得是利用延时装置通过改变穿过样品的不同时刻的太赫兹脉冲电场强度的泵浦光和探测光的光程差来测量的。在实验过程中的主要误差来源有泵浦光、样品折射和反射以及人为因素。泵浦光受环境温度和湿度的波动影响会产生较大的幅值和相位改变,样品的折射和反射对样品面与太赫兹波的准直度十分敏感,换样品的时间长短及放置样品的质量等与测量精度直接相关,这些因素对不同时刻测量数据的重复性和透过样品的太赫兹波的强度等有较大影响,由此产生较大的测量误差。
技术实现思路
本技术提供了一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置,用以提高样品测试的效率和精度,该装置包括:壳体,壳体包括:聚焦光入射口和出射口 ;聚焦光入射口和出射口之间形成测试通道;多条竖直滑轨,竖直设置在壳体内的两个相对的侧壁上;两条水平滑轨,水平设置在壳体内的两个相对的侧壁上;多个样品池,设置在壳体内、测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置,其特征在于,包括:壳体,所述壳体包括:聚焦光入射口和出射口;所述聚焦光入射口和出射口之间形成测试通道;多条竖直滑轨,竖直设置在所述壳体内的两个相对的侧壁上;两条水平滑轨,水平设置在所述壳体内的两个相对的侧壁上;多个样品池,设置在所述壳体内、测试通道的上方;每个样品池设置在相对的两条竖直滑轨之间;第一驱动装置,用于驱动样品池在所述竖直滑轨上,向下移动到测试通道处;第二驱动装置,用于驱动样品池,在所述水平滑轨上,左右移动到测试通道内聚焦光的焦点处。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:宝日玛王金赵昆
申请(专利权)人:中国石油大学北京
类型:新型
国别省市:北京;11

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