本实用新型专利技术提供一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置，该装置包括：壳体，壳体包括：聚焦光入射口和出射口；聚焦光入射口和出射口之间形成测试通道；多条竖直滑轨，竖直设置在壳体内的两个相对的侧壁上；水平滑轨，水平设置在壳体内的两个相对的侧壁上；多个样品池，设置在壳体内、测试通道的上方；每个样品池设置在相对的两条竖直滑轨之间；第一驱动装置，用于驱动样品池在竖直滑轨上，向下移动到测试通道处；第二驱动装置，用于驱动样品池，在水平滑轨上，左右移动到测试通道内聚焦光的焦点处。上述技术方案提高了样品测试的效率和精度。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及太赫兹时域光谱测量系统
，特别涉及一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置。
技术介绍
太赫兹时域光谱技术是采用飞秒激光器激发砷化镓晶体辐射出的太赫兹波对物质进行探测的一种新技术。在太赫兹时域光谱系统中，样品的太赫兹时域波形的获得是利用延时装置通过改变穿过样品的不同时刻的太赫兹脉冲电场强度的泵浦光和探测光的光程差来测量的。在实验过程中的主要误差来源有泵浦光、样品折射和反射以及人为因素。泵浦光受环境温度和湿度的波动影响会产生较大的幅值和相位改变，样品的折射和反射对样品面与太赫兹波的准直度十分敏感，换样品的时间长短及放置样品的质量等与测量精度直接相关，这些因素对不同时刻测量数据的重复性和透过样品的太赫兹波的强度等有较大影响，由此产生较大的测量误差。
技术实现思路
本技术提供了一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置，用以提高样品测试的效率和精度，该装置包括:壳体，壳体包括:聚焦光入射口和出射口 ；聚焦光入射口和出射口之间形成测试通道；多条竖直滑轨，竖直设置在壳体内的两个相对的侧壁上；两条水平滑轨，水平设置在壳体内的两个相对的侧壁上；多个样品池，设置在壳体内、测试通道的上方；每个样品池设置在相对的两条竖直滑轨之间；第一驱动装置，用于驱动样品池在竖直滑轨上，向下移动到测试通道处；第二驱动装置，用于驱动样品池，在水平滑轨上，左右移动到测试通道内聚焦光的焦点处。在一个实施例中，上述测试装置还包括:样品选择装置，用于选择多个样品池中的任一样品池；第一驱动装置具体用于驱动样品选择装置选择的样品池，在竖直滑轨上，向下移动到测试通道处。在一个实施例中，第一驱动装置包括:第一步进电机；第一连杆，与第一步进电机轴向驱动连接，用于与第一步进电机轴同步转动；多个第一驱动轮，设置在第一连杆上、与多个样品池对应的位置上，用于随所述第一连杆同步转动；多条竖直传送带，设置在竖直滑轨内，每条竖直传送带的一端与每个样品池连接，多条竖直传送带与多个第一驱动轮具有一一对应的关系，用于当与对应的第一驱动轮贴合时，在第一驱动轮的驱动下，与第一驱动轮啮合转动；第一连杆位于多条竖直传送带的朝向样品池方向的内侧；样品选择装置包括:多个样品选择杆，设置在壳体的底部、与多个第一驱动轮相对应的位置上，多个样品选择杆与多个样品池具有一一对应的关系，用于伸出给所要选择样品池对应的竖直传送带施加一压力，使得竖直传送带贴合到对应的第一驱动轮上。在一个实施例中，第二驱动装置包括:第二步进电机；第二连杆，与第二步进电机轴向驱动连接，用于与第二进电机轴同步转动；第二驱动轮，设置在第二连杆上，用于随所述第二连杆同步转动；水平传送带，设置在水平滑轨内，用于在第二驱动轮的驱动下转动。在一个实施例中，上述测试装置还包括:显示装置，与样品选择装置连接，用于显示样品选择装置选择的样品池的编号。在一个实施例中，显示装置包括分辨率为128*64的液晶显示屏。在一个实施例中，上述测试装置还包括:报警装置，与样品选择装置、第一驱动装置和第二驱动装置连接，用于当样品选择装置、第一驱动装置和第二驱动装置工作故障时，及时发出警报。在一个实施例中，样品池为固体样品池、液体样品池或气体样品池。本技术提供的太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置，通过设置多个样品池，可以一次性放入一个以上的样品，减少了反复装填样品所占用的时间，保证了样品测试的连续性，从而提高了样品测试的效率，同时，也降低了因反复装入样品，带来的箱内环境的改变，保证了样品测试的精度。另外，待检测样品被垂直限定在每个样品池中，这样也提高了样品对太赫兹光线的垂直精度。综上所述，本技术技术方案，提高了样品测试的效率和精度。【附图说明】此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本技术的限定。在附图中:图1是本技术实施例中太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置的结构示意图；图2是本技术实施例中太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置的立体结构示意图；图3是本技术实施例中太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置中第一驱动装置与样品选择装置连接的放大结构示意图；图4是本技术实施例中太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置中液晶显不屏电路的结构不意图；图5是本技术实施例中太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置中控制开关电路的结构不意图。【具体实施方式】为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施方式和附图，对本技术做进一步详细说明。在此，本技术的示意性实施方式及其说明用于解释本技术，但并不作为对本技术的限定。现有的太赫兹时域光谱系统的测量装置中，最常用的是每次将一个样品放入样品池中进行测量。这种测量方法需要每次重新装入样品，效率较低，装入样品池的样品垂直精度也难以得到保证，而且装入样品时往往会导致箱内环境湿度和温度等因素发生变化，这种变化对样品测试的结果均有不同程度的影响，这种影响会导致测量结果存在着一定的失真，甚至严重的影响测试结果。对于有微小差别样品的测量，为了使其有效信息不被严重的影响，在测试过程中就必须保证样品相对于太赫兹光线的垂直精度和箱内环境的基本不变，因此传统的方法存在测量效率和精度低的技术问题。为了解决上述问题，提高太赫兹时域光谱测量效率，提高样品相对于太赫兹光线的垂直精度，保证箱内环境的基本一致，专利技术人提出一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置。下面进行具体说明。图1是本技术实施例中太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置的结构示意图，图2是本技术实施例中太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置的立体结构示意图，如图1和图2所示，该装置包括:壳体10，壳体10包括:聚焦光入射口 11和出射口 12;聚焦光入射口 11和出射口12之间形成测试通道；多条竖直滑轨20，竖直设置在壳体10内的两个相对的侧壁上；两条水平滑轨70，水平设置在所述壳体10内的两个相对的侧壁上；多个样品池30，设置在壳体10内、测试通道的上方；每个样品池30设置在相对的两条竖直滑轨20之间；第一驱动装置，用于驱动样品池30在竖直滑轨20上，向下移动到测试通道处；第二驱动装置，用于驱动样品池30在水平滑轨70上，左右移动到测试通道内聚焦光的焦点处。本技术实施例提供的太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置，工作时，首先，第一驱动装置工作，驱动样品池30在竖直滑轨20上，向下移动到测试通道处，然后，第二驱动装置工作，驱动样品池30在水平滑轨70上，左右移动，使样品池30移动到测试通道内聚焦光的焦点处进行测试。具体实施时，可以通过一控制电路对第一驱动装置进行控制，驱动样品池30到测试通道处，依次对每个样品池内的待检测样品进行测试，当然也可以通过另一控制电路对第二驱动装置进行控制，从而驱动被第一驱动装置驱动到测试通道处的样品池30在水平滑轨70上，左右移动，使样品池30移动到测试通道内聚焦光的焦点处进行测试。本技术提供的太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置，通过设置多个样品池，可以一次性放入一个以上的样品，减少了反复装填样品所占用的时间，保证了样品测试的连续性，从而提高了样品测试的效率，同时，也降低了因反复装入本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种太赫兹时域光谱系统的聚焦光样品测试装置，其特征在于，包括：壳体，所述壳体包括：聚焦光入射口和出射口；所述聚焦光入射口和出射口之间形成测试通道；多条竖直滑轨，竖直设置在所述壳体内的两个相对的侧壁上；两条水平滑轨，水平设置在所述壳体内的两个相对的侧壁上；多个样品池，设置在所述壳体内、测试通道的上方；每个样品池设置在相对的两条竖直滑轨之间；第一驱动装置，用于驱动样品池在所述竖直滑轨上，向下移动到测试通道处；第二驱动装置，用于驱动样品池，在所述水平滑轨上，左右移动到测试通道内聚焦光的焦点处。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宝日玛，王金，赵昆，
申请(专利权)人：中国石油大学北京，
类型：新型
国别省市：北京;11
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