【技术实现步骤摘要】
于2014年3月6日在韩国知识产权局提交的名称为“Thin Film Transistor,Thin Film Transistor Substrate,Display Apparatus And Method Of Manufacturing Thin Film Transistor(薄膜晶体管、薄膜晶体管基板、显示设备及制造薄膜晶体管的方法)”的第10-2014-0026808号韩国专利申请通过引用全部包含于此。
一个或更多个实施例涉及一种薄膜晶体管、一种薄膜晶体管基板、一种显示设备以及一种制造薄膜晶体管的方法。
技术介绍
薄膜晶体管可以执行诸如以开关功能、控制电流或驱动电气装置为例的各种功能,薄膜晶体管可以用在各种领域中。
技术实现思路
实施例可以通过提供一种薄膜晶体管来实现,所述薄膜晶体管包括:栅电极;有源层,与栅电极绝缘;源电极和漏电极,与栅电极绝缘并且电连接到有源层;第一蚀刻停止层,由绝缘材料形成,并且与有源层的位于有源层的电连接到源电极和漏电极的区域之间的部分接触;第二蚀刻停止层,位于第一蚀刻停止层上,第二蚀刻停止层由与用于形成第一蚀刻停止层的绝缘材料相同类型的绝缘材料形成,第二蚀刻停止层具有比第一蚀刻停止层的密度高的密度;以及第三蚀刻停止层,位于第二蚀刻停止层上。第一蚀刻停止层和第二蚀刻停止层可以包括氧化铝、氧化钛、氧化钽或氧化镓。第三蚀刻停止层可以由与用于形成第一蚀刻停止层和第二蚀刻停 ...
【技术保护点】
一种薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管包括:栅电极;有源层,与所述栅电极绝缘;源电极和漏电极,与所述栅电极绝缘并且电连接到所述有源层;第一蚀刻停止层,由绝缘材料形成,并且与所述有源层的位于所述有源层的电连接到所述源电极和所述漏电极的区域之间的部分接触;第二蚀刻停止层,位于所述第一蚀刻停止层上,所述第二蚀刻停止层由与用于形成所述第一蚀刻停止层的绝缘材料相同类型的绝缘材料形成,所述第二蚀刻停止层具有比所述第一蚀刻停止层的密度高的密度;以及第三蚀刻停止层,位于所述第二蚀刻停止层上。
【技术特征摘要】
2014.03.06 KR 10-2014-00268081.一种薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管包括:
栅电极;
有源层,与所述栅电极绝缘;
源电极和漏电极,与所述栅电极绝缘并且电连接到所述有源层;
第一蚀刻停止层,由绝缘材料形成,并且与所述有源层的位于所述有源
层的电连接到所述源电极和所述漏电极的区域之间的部分接触;
第二蚀刻停止层,位于所述第一蚀刻停止层上,所述第二蚀刻停止层由
与用于形成所述第一蚀刻停止层的绝缘材料相同类型的绝缘材料形成,所述
第二蚀刻停止层具有比所述第一蚀刻停止层的密度高的密度;以及
第三蚀刻停止层,位于所述第二蚀刻停止层上。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述第一蚀刻停止
层和所述第二蚀刻停止层包括氧化铝、氧化钛、氧化钽或氧化镓。
3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述第三蚀刻停止
层由与用于形成所述第一蚀刻停止层和所述第二蚀刻停止层的绝缘材料不同
类型的绝缘材料形成。
4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述第三蚀刻停止
层包括氧化硅。
5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述有源层包括氧
化物半导体材料。
6.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述第三蚀刻停止
层比所述第一蚀刻停止层和所述第二蚀刻停止层厚。
7.一种薄膜晶体管基板,其特征在于,所述薄膜晶体管基板包括:
基底;
栅电极,位于所述基底上;
有源层,与所述栅电极绝缘;
源电极和漏电极,与所述栅电极绝缘并且电连接到所述有源层;
第一蚀刻停止层,由绝缘材料形成,并且与所述有源层的位于所述有源
层的电连接到所述源电极和所述漏电极的区域之间的部分接触;
第二蚀刻停止层,位于所述第一蚀刻停止层上,所述第二蚀刻停止层由
\t与用于形成所述第一蚀刻停止层的绝缘材料相同类型的绝缘材料形成,所述
第二蚀刻停止层具有比所述第一蚀刻停止层的密度高的密度;
第三蚀刻停止层,位于所述第二蚀刻停止层上;以及
像素电极,电连接到所述源电极和所述漏电极中的一个。
8.一种显示设备,其特征在于,所述显示设备包括:
基底;
栅电极,位于所述基底上;
有源层,与所述栅电极绝缘;
源电极和漏电极,与所述栅电极绝缘并且电连接到所述有源层;
第一蚀刻停止层,由绝缘材料形成,并且与所述有源层的位于所述有源
层的电连接到所述源电极和所述漏电极的区域之间的部分接触;
第二蚀刻停止层,位于所述第一蚀刻停止层上,所述第二蚀刻停止层由
与用于形成所述第一蚀刻停止层的绝缘材料相同类型的绝缘材料形成,所述
第二蚀刻停止层具有比所述第一蚀刻停止层的...
【专利技术属性】
技术研发人员:安秉斗,金兑映,牟然坤,
申请(专利权)人:三星显示有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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