【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请是要求2012年12月21日提交的且题为“ELECTROSTATIC DISCHARGE PROTECTION FOR ELECTRICAL COMPONENTS, DEVICES INCLUDING SUCH PROTECTION AND METHODS FOR MAKING THE SAME(用于电部件的静电放电保护、包括这样的保护的器件和用于制作其的方法)”的美国专利申请No. 13/724,713的权益的国际申请,该美国申请的整体内容藉此被通过引用而合并。
该申请一般涉及提供印刷电路板上的静电放电(ESD)保护,并且更特别地涉及在发光二极管(LED)系统中提供这样的保护。
技术介绍
来自静电放电的、对电子部件的损害是得到充分证实的问题。通过一些估计,这样的损害的财务成本可以超过电子产品的年销售总额的百分之十。它还可能跨宽范围的电子工业而影响生产力和产品可靠性。发光二极管(LED)是受到由ESD进行的损害的一个类型的电子部件。ESD损害可以发生在LED的制造、处置、封装或装配期间。大数量的LED经常被聚集到模块上以创建要求ESD保护的照明系统。表面安装和板上芯片技术已经被开发以为LED和其它电子电路提供ESD保护,但是遭受到一个或更多个缺陷。例如,这样的技术可能要求大数量的表面安装二极管的拾取和放置、和/或复杂的制造技术。包括完整的(例如,嵌入的)ESD保护的电路板也已经被开发以解决这些问题,但是不可以为诸如LED的部件提供充分的保护。特别是,具有完整的ESD保护的电路板不可以保 ...
【技术保护点】
一种对电部件提供静电放电(ESD)保护的方法,包括:将至少一个电部件电连接到ESD嵌入的电路板,所述至少一个电部件容易受到来自对于超过第一电压水平的反向偏置电流的暴露的损害;以及将至少一个薄膜二极管电连接到所述至少一个电部件;其中:所述ESD嵌入的电路板具有如下特性电压,在所述特性电压之上,所述电路板的至少一部分从在电上非导电的状态转变到在电上导电的状态,所述特性电压在所述第一电压水平之上;以及所述至少一个薄膜二极管具有足以耐受小于所述特性电压的反向偏置电压的峰值反转电压。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.12.21 US 13/7247131.一种对电部件提供静电放电(ESD)保护的方法,包括:
将至少一个电部件电连接到ESD嵌入的电路板,所述至少一个电部件容易受到来自对于超过第一电压水平的反向偏置电流的暴露的损害;以及
将至少一个薄膜二极管电连接到所述至少一个电部件;
其中:
所述ESD嵌入的电路板具有如下特性电压,在所述特性电压之上,所述电路板的至少一部分从在电上非导电的状态转变到在电上导电的状态,所述特性电压在所述第一电压水平之上;以及
所述至少一个薄膜二极管具有足以耐受小于所述特性电压的反向偏置电压的峰值反转电压。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述特性电压大于或等于约70V。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一电压水平在从大于0到约70V的范围。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述至少一个二极管包括与所述至少一个部件串联电连接的多个二极管。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述ESD嵌入的电路板包括地面和被电连接到所述地面的电压可切换的介电材料,其中,在所述特性电压之上,所述电压可切换的介电材料从在电上非导电的状态转变到在电上导电的状态。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述至少一个电部件包括发光二极管。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述薄膜二极管包括至少一层p型半导体材料和至少一层n型半导体材料。
8.一种包括静电放电(ESD)保护的器件,包括:
ESD嵌入的电路板;
被电耦合到所述ESD嵌入的电路板的至少一个电部件,所述至少一个电部件容易受到来自对于超过第一电压水平的反向偏置电流的暴露的损害;以及
至少一个薄膜二极管,被电耦合到所述至少一个电部件;
其中:
所述ESD嵌入的电路板具有特性电压,在所述特性电压之上,所述电路板的至少一部分从在电上非导电的状态转变到在电上导电的状态,所述特性电压在所述第一电压水平之上;以及
所述至少一个薄膜二极管具有足以耐受小于所述特性电压的反向偏置电压的峰值反转电压。
9.根据权利要求8所述的器件,其中,所述特性电压大于或等于约70V。
10.根据权利要求8所述的器件,其中,所述第一电压水平在从大于0到约70V的范围。
11.根据权利要求8所述的器件,...
【专利技术属性】
技术研发人员:D汉比,A斯科奇,
申请(专利权)人:奥斯兰姆施尔凡尼亚公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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