【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】,它包括以下步骤:(1)用氢氟酸溶液对电池片进行去PSG;(2)用氢氟酸和硝酸的混合液刻蚀掉硅片的边缘部分;(3)用纯水清理电池片表面的杂质与残留的酸;(4)用KOH溶液去除电池片表面的多孔硅,并中和刻蚀过程中残留在表面的酸;(5)用纯水清理表面的杂质与残留的碱;(6)用氢氟酸溶液中和电池片表面的碱;(7)用纯水清洗掉电池片表面上的酸并吹干。其有益效果:无需使用高浓度的酸就可以刻蚀掉电池片的边缘部分,而且不易出现刻蚀不足的问题,同时可以减少氢氟酸与硝酸的用量,降低成本,提高生产的安全性。【专利说明】
本专利技术涉及。
技术介绍
目前常规的P型晶硅太阳能电池片在扩散过程中产用的是背靠背扩散方式,在硅 片边缘部分将不可避免的发生磷扩散,这样会导致在PN结正面所收集的电流光生电子沿 着边缘传输到PN结的边缘部分,从而导致短路。由于扩散过程中有氧的通入,这样会在硅 片的表面形成一层二氧化硅,在600度的高温下生成P0C13,部分P原子取代了硅片表面原 晶格上的Si原子形成n型半导体,而其中有一部分则留在了 Si02*形成了 PSG。PSG的存 在会使硅片表面容易受潮,会导致电流的降低和功率的衰减。针对扩散带来的问题,需要刻 蚀掉硅片的边缘部分以及去除PSG。目前在采用的工艺步骤为:1、用氢氟酸和硝酸的混合 液刻蚀掉硅片的边缘部分;2、用纯水清洗硅片表面的杂质与残留的酸;3、用氢氧化钾溶液 去除硅片表面的多孔硅,中和刻蚀残留在表面的酸;4、用纯水清理硅片表面的杂质与残留 的碱;5、用氢氟酸溶液中和硅片表面的碱,去除硅片表面的P ...
【技术保护点】
一种减少太阳能电池片刻蚀酸用量的工艺方法,其特征在于:它包括以下步骤:(1).用氢氟酸溶液对电池片进行去PSG;(2).用氢氟酸和硝酸的混合液刻蚀掉硅片的边缘部分;(3).用纯水清理电池片表面的杂质与残留的酸;(4).用KOH溶液去除电池片表面的多孔硅,并中和刻蚀过程中残留在表面的酸;(5).用纯水清理表面的杂质与残留的碱;(6).用氢氟酸溶液中和电池片表面的碱;(7).用纯水清洗掉电池片表面上的酸并吹干。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:胡天赐,崔红星,张文锋,胡应全,林海峰,
申请(专利权)人:东方日升新能源股份有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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