本实用新型专利技术公开一种双向晶闸管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1，所述电阻R1的一端连接芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8和芯片IC2的引脚3，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的引脚7，电阻R2的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6。本实用新型专利技术双向晶闸管检测仪电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将双向晶闸管放在检测位置即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检测仪，具体是一种双向晶闸管检测仪电路。
技术介绍
双向晶闸管是一种常见的电子元件，由于它的正、反特性具有对称性，所以它可在任何一个方向导通，是一种理想的交流开关器件，因此常被用于电路中的控制器件，是整个控制电路的核心部件，误使用了损坏的双向晶闸管可能会导致整个电路无法启动，甚至引发电路毁损的严重后果，因此在使用前检查质量是很重要的，目前大部分双向晶闸管的检测还使用万能表进行测量，操作复杂，使用不便，少数几种专用检测仪也存在结构复杂、价格昂贵，因此普及率不高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单、使用方便的双向晶闸管检测仪电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案:一种双向晶闸管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻Rl和芯片IC1，所述电阻Rl的一端连接芯片ICl的引脚4、芯片ICl的引脚8和芯片IC2的引脚3，电阻Rl的另一端连接电阻R2和芯片ICl的引脚7，电阻R2的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接芯片ICl的引脚I和电源E的负极，芯片ICl的引脚3连接电阻R4、电阻R5、二极管Dl的阴极和二极管D2的阳极，二极管Dl的阳极连接电阻R3和二极管D2的阴极，电阻R3的另一端连接待测双向晶闸管Ql的第二基极C，电阻R4的另一端连接按键开关K1，按键开关Kl的另一端连接双向晶闸管Ql的控制极b，双向晶闸管Ql的第一基极e连接三极管VTl的集电极和三极管VT2的集电极，所述芯片ICl的型号为NE555，芯片IC2的型号为LM7805。作为本技术的优选方案:所述二极管Dl和二极管D2均为发光二极管。作为本技术的优选方案:所述电源E为2节5V干电池。与现有技术相比，本技术的有益效果是:本技术双向晶闸管检测仪电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将双向晶闸管放在检测位置即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。【附图说明】图1为双向晶闸管检测仪电路的电路图。【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1，一种双向晶闸管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻Rl和芯片IC1，所述电阻Rl的一端连接芯片ICl的引脚4、芯片ICl的引脚8和芯片IC2的引脚3，电阻Rl的另一端连接电阻R2和芯片ICl的引脚7，电阻R2的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接芯片ICl的引脚I和电源E的负极，芯片ICl的引脚3连接电阻R4、电阻R5、二极管Dl的阴极和二极管D2的阳极，二极管Dl的阳极连接电阻R3和二极管D2的阴极，电阻R3的另一端连接待测双向晶闸管Ql的第二基极C，电阻R4的另一端连接按键开关K1，按键开关Kl的另一端连接双向晶闸管Ql的控制极b，双向晶闸管Ql的第一基极e连接三极管VTl的集电极和三极管VT2的集电极。芯片ICl的型号为NE555，芯片IC2的型号为LM7805。二极管Dl和二极管D2均为发光二极管。电源E为2节5V干电池。本技术的工作原理是:电路中的芯片IC1、电阻R1、电阻R2和电容Cl组成一个无稳态多谐振荡器，振荡周期T = 0.693(R1+2R2)C，占空比接近1: 1，测量时，闭合开关SI，如果二极管Dl和二极管D2均不发光，说明双向晶闸管Ql的两个主电极之间正常，如果如果二极管Dl和二极管D2均发光，说明双向晶闸管Ql内部短路，按下按键开关K1，芯片ICl振荡周期的正半周其3脚输出呈高电平时，二极管D2、电阻R3、双向晶闸管Ql和三极管VTl呈闭合回路，二极管D2发光，芯片ICl振荡周期的负半周其3脚输出呈低电平时，三极管VT2导通，二极管Dl发光，说明双向晶闸管Ql是好的，否则说明损坏。电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将双向晶闸管放在检测位置即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。【主权项】1.一种双向晶闸管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻Rl和芯片ICl ;其特征在于，所述电阻Rl的一端连接芯片ICl的引脚4、芯片ICl的引脚8和芯片IC2的引脚3，电阻Rl的另一端连接电阻R2和芯片ICl的引脚7，电阻R2的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接芯片ICl的引脚I和电源E的负极，芯片ICl的引脚3连接电阻R4、电阻R5、二极管Dl的阴极和二极管D2的阳极，二极管Dl的阳极连接电阻R3和二极管D2的阴极，电阻R3的另一端连接待测双向晶闸管Ql的第二基极C，电阻R4的另一端连接按键开关K1，按键开关Kl的另一端连接双向晶闸管Ql的控制极b，双向晶闸管Ql的第一基极e连接三极管VTl的集电极和三极管VT2的集电极，芯片ICl的型号为NE555，芯片IC2的型号为LM7805。2.根据权利要求1所述的一种双向晶闸管检测仪电路，其特征在于，所述二极管Dl和二极管D2均为发光二极管。3.根据权利要求1所述的一种双向晶闸管检测仪电路，其特征在于，所述电源E为2节5V干电池。【专利摘要】本技术公开一种双向晶闸管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1，所述电阻R1的一端连接芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8和芯片IC2的引脚3，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的引脚7，电阻R2的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6。本技术双向晶闸管检测仪电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将双向晶闸管放在检测位置即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。【IPC分类】G01R31-327【公开号】CN204595169【申请号】CN201520255416【专利技术人】李俊 【申请人】李俊【公开日】2015年8月26日【申请日】2015年4月24日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种双向晶闸管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1；其特征在于，所述电阻R1的一端连接芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8和芯片IC2的引脚3，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的引脚7，电阻R2的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电容C1的另一端连接芯片IC1的引脚1和电源E的负极，芯片IC1的引脚3连接电阻R4、电阻R5、二极管D1的阴极和二极管D2的阳极，二极管D1的阳极连接电阻R3和二极管D2的阴极，电阻R3的另一端连接待测双向晶闸管Q1的第二基极c，电阻R4的另一端连接按键开关K1，按键开关K1的另一端连接双向晶闸管Q1的控制极b，双向晶闸管Q1的第一基极e连接三极管VT1的集电极和三极管VT2的集电极，芯片IC1的型号为NE555，芯片IC2的型号为LM7805。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李俊，
申请(专利权)人：李俊，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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