光电传感器制造技术

为了检测相同的检测对象物，提供一种能够简单地调整的光电传感器。透过型光电传感器或回归反射型光电传感器具有投光单元、受光单元、判定单元、目标比率设定单元及灵敏度参数调整单元。投光单元发出用于检测存在于检测区域内的检测对象物的检测光。受光单元接收检测光的返回光。判定单元通过对作为受光单元的输出信号值的受光信号值和阈值进行比较，来判定检测对象物的有无。目标比率设定单元设定目标比率。灵敏度参数调整单元在检测对象物不存在于检测区域内的状态下，以使阈值相对于受光信号值的比率成为目标比率的方式，调整灵敏度参数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电传感器。
技术介绍
作为以往的光电传感器之一,存在专利文献I所述的光电传感器。在该光电传感器中，利用灵敏度旋钮(能够旋转的球形把手(knob))来调整用于调整受光信号的增益的可变电阻。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2002-171162号公报在生产线上使用光电传感器很普遍，但在生产线上检测相同的检测对象物的情况下也配置多个光电传感器。在该检测对象物是透明体的情况下，检测对象物不存在时的受光量和检测对象物存在时的受光量之间的差分较少，但必须对这些受光量之间设定阈值。在以往的光电传感器中，如专利文献I的专利技术那样，存在利用灵敏度旋钮来变更增益和阈值中的某一项的技术，但各光电传感器的投光元件、受光元件、电阻等存在个体差异。因此，即使将多个光电传感器的灵敏度旋钮设定为相同的值，检测检测对象物时的受光信号值和阈值之间的比率也并不一定相同，工作人员必须对所有的光电传感器分别个别地进行调難iF.0
技术实现思路
因此，本专利技术的目的在于，为了检测相同的检测对象物，提供一种能够简单地调整阈值相对于受光信号值的比率的光电传感器。本专利技术的第一技术方案的光电传感器是透过型光电传感器或者与回归反射构件组合使用的回归反射型光电传感器，具有投光单元、受光单元、判定单元、目标比率设定单元及灵敏度参数调整单元。投光单元发出用于检测存在于检测区域内的检测对象物的检测光。受光单元接收检测光的返回光。判定单元通过对作为受光单元的输出信号值的受光信号值和阈值进行比较，来判定检测对象物的有无。目标比率设定单元设定目标比率。灵敏度参数调整单元在检测对象物不存在于检测区域内的状态下，以使阈值相对于受光信号值的比率成为目标比率的方式，调整灵敏度参数。由此，阈值相对于受光信号值的比率变得相等，从而能够以相同的稳定度检测共通的检测对象物。优选地，上述目标比率在50%至130%之间。由此，针对需要非常精细调整的透明体的检测，能够进行微调整。更加优选地，上述目标比率在70%至110%之间。由此，使得工作人员的微调整变得容易。在本技术方案的光电传感器中，以使阈值相对于受光信号值的比率成为由目标比率设定单元设定的目标比率的方式，调整灵敏度参数。由此，即使多个光电传感器的投光元件、受光元件、电阻等存在个体差异，若搭配相同的灵敏度旋钮的刻度表，则阈值相对于受光信号值的比率也会相等。因此，阈值相对于受光信号值的比率变得相等，从而能够以相同的稳定度检测共通的检测对象物。因此，本技术方案的光电传感器能够减轻检测相同的检测对象物的传感器的调整工作的负担。进而，若该目标比率相同，则在回归反射型光电传感器中，即使回归反射构件和传感器之间的距离不同，检测相同的检测对象物时的受光信号值的变化也以相同的比率产生。或者，在透过型光电传感器中，即使投光器和受光器之间的距离不同，检测相同的检测对象物时的受光信号值的变化也以相同的比率产生。因此，只要调整了一个传感器的目标比率，就能够对检测相同的检测对象物的光电传感器应用相同的目标比率。因此，本技术方案的光电传感器能够减轻检测相同的检测对象物的传感器的调整工作的负担。【附图说明】图1是本实施方式的光电传感器的整体结构图。图2是投光单元、受光单元、第一调整部、第二调整部、判定单元及存储部的详细结构图。图3是光电传感器的外观立体图。图4是光电传感器的操作面板的放大图。图5是调整按钮、指示器(indicator)、判定单元及灵敏度参数调整单元的详细结构图。图6是本实施方式的光电传感器的灵敏度调整动作的流程图。图7是变形例的光电传感器的整体结构图。图8是变形例的光电传感器的灵敏度调整动作的流程图。【具体实施方式】下面，参照附图，说明本专利技术的实施方式的光电传感器I。光电传感器I是与回归反射构件2组合使用的回归反射型光电传感器。图1是光电传感器I的整体结构图。如图1所示，光电传感器I具有投光单元21、受光单元22、判定单元23、灵敏度参数调整单元25、存储部28、输出电路29、目标比率设定单元31、调整按钮32及指示器33。图2是投光单元21、受光单元22、第一调整部41、第二调整部42、判定单元23及存储部28的详细结构图。投光单元I发出用于检测存在于检测区域5内的检测对象物6的检测光A。如图1及图2所示，投光单元I包括用于发出检测光A的发光二极管等的投光元件11和用于驱动投光元件11的投光电路12。如图2所示，投光电路12包括电压输出数字模拟转换器(Voltage DAC) 12a、晶体管(transistor) 12b、固定电源 12c (电压值:Vcc)、电阻 12d 及接地电压(GND) 12e。图2图示了投光元件11是发光二极管的情况。投光元件11的阳极与固定电源12c相连接。投光元件11的阴极与晶体管12b的集电极相连接。晶体管12b的基极与电压输出数字模拟转换器12a相连接。晶体管12b的发射极用于防止过电流的电阻12d的一端相连接。电阻12d的另一端与接地电压12e相连接。即，电阻12d的另一端接地。电压输出数字模拟转换器12a与灵敏度参数调整单元25相连接。电压输出数字模拟转换器12a接收来自灵敏度参数调整单元25的输出电压信号，将由与该输出电压信号相对应的Hi电压和OV的Lo电压构成的脉冲电压输出至晶体管12b的基极。该脉冲电压的周期可以是产品设计上规定的固定值。或者，也可以利用未图示的另外的调整单元来变更脉冲电压的周期。若从电压输出数字模拟转换器12a施加Hi电压，则从固定电源12c向晶体管12b的集电极施加电流，并由发光元件11发光。由于该Hi电压越大则该电流的大小越大，因而从投光元件11发出的光的功率变大。存储部28存储记录有该Hi电压的大小和从投光元件11发出的光的功率(投光功率)之间的关系的投光功率与电压值对应表T2。例如，通过以下的三个步骤生成投光功率与电压值对应表T2。步骤1，在将投光单元21组装到基板上的状态下，将多个不同的离散的电压施加至电压输出数字模拟转换器12a。步骤2，针对多个不同的离散的电压的各电压，利用光度计或光检测器测定投光元件11所发出的光。步骤3，将从该测定结果得出的投光功率与施加至电压输出数字模拟转换器12a的电压相对应地保存至投光功率与电压值对应表T2。后述的灵敏度参数调整单元25在调整投光功率的情况下，在计算出调整后的投光功率之后，参照投光功率与电压值对应表T2。然后，灵敏度参数调整单元25将用于使电压输出数字模拟转换器12a输出与调整后的投光功率相对应的电压值的输出电压信号输出至电压输出数字模拟转换器12a。此外，在调整后的该投光功率与保存在投光功率与电压值对应表T2中的投光功率的任一值都不一致时，灵敏度参数调整单元25可以提取保存在投光功率与电压值对应表T2中的与调整后的该投光功率接近的值，并通过线性插补来计算出与该调整后的投光功率相对应的电压值。此外，在后面说明灵敏度参数调整单元25计算投光功率的计算方法。通过上面的处理，调整检测光A的投光强度(投光功率)。...

【技术保护点】
一种光电传感器，是透过型光电传感器或者与回归反射构件组合使用的回归反射型光电传感器，该光电传感器的特征在于，具有：投光单元，其发出用于检测存在于检测区域内的检测对象物的检测光；受光单元，其接收所述检测光的返回光；判定单元，其通过对作为所述受光单元的输出信号值的受光信号值和阈值进行比较，来判定所述检测对象物的有无；目标比率设定单元，其设定目标比率；灵敏度参数调整单元，其在所述检测对象物不存在于所述检测区域内的状态下，以使所述阈值相对于所述受光信号值的比率成为所述目标比率的方式调整灵敏度参数。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：奥浓基晴，今井清司，植村公辅，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP