X射线分析用试样保持器及试样设置用夹具制造技术

提供一种能够消除试样的偏移并使试样与X射线管的距离为一定、进而能够对应于各种各样的形状的试样的X射线分析用试样保持器及在将试样向该保持器安设时使用的试样设置用夹具。具备第1环状部件（3）、第2环状部件（4）和第3环状部件（5）；所述第2环状部件（4）在与第1环状部件之间夹着第1薄膜（F1）的状态下嵌入插入在第1环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第1薄膜；所述第3环状部件（5）在与第2环状部件之间夹着第2薄膜（F2）的状态下嵌入插入在第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第2薄膜；用在第2环状部件和第3环状部件各自的下部开口部处张设的第1薄膜和第2薄膜将X射线分析用的试样（S）夹持。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在用X射线分析装置将试样(试料)进行X射线分析时、用来保持试样而安设到X射线分析装置中的X射线分析用试样保持器及为了对该保持器安设试样而使用的试样设置用夹具。
技术介绍
一般而言，在用荧光X射线分析装置等X射线分析装置将试样进行X射线分析时，使用保持试样的保持器，将该保持器安设到X射线分析装置中而进行分析。例如，以往为了分析、测量微小的试样，作为保持器而使用带有薄膜的容器。即，将试样放置到张设于容器内的较薄的薄膜上，实施测量。在这样测量薄膜上的试样时，由于试样是微小而轻量的，所以有下述情况:因装置的门的开闭或试样的更换时的机械振动等，而发生该试样上的照射X射线的目标位置与实际的照射位置不一致的试样的偏移。为了改善该试样的偏移，还提出了使用缓冲件保持试样的方法。但是，有缓冲件的材质有时给X射线测量结果带来影响的不良状况。因此，提出了使用专用的测量容器的技术。例如，在专利文献I中，提出了一种X射线分析用试料保持器，其具备:有底筒形状的主体；1个以上的棒状的支承部件，立设在该主体的底壁上，用前端面支承试料；和薄膜，将主体的开口部覆盖，将试料在与支承部件之间支承。该X本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线分析用试样保持器，其特征在于，具备第1环状部件、第2环状部件和第3环状部件；所述第2环状部件在与上述第1环状部件之间夹着第1薄膜的状态下嵌入插入在上述第1环状部件内，将下部开口部覆盖而张设上述第1薄膜；所述第3环状部件在与上述第2环状部件之间夹着第2薄膜的状态下嵌入插入在上述第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设上述第2薄膜；用在上述第2环状部件和上述第3环状部件各自的下部开口部处张设的上述第1薄膜和上述第2薄膜将X射线分析用的试样夹持。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：竹内俊公，
申请(专利权)人：日本株式会社日立高新技术科学，
类型：发明
国别省市：日本;JP