水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，包括X荧光探头、倾角传感器和摄像头，其中，上述倾角传感器和摄像头安装于X荧光探头的同一平面上，既保证倾角传感器所测得的倾角能正确反映测量面的倾斜状况，又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。本发明专利技术所述的水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置采用可拆卸的组合式安装，在陆上原位X荧光光谱分析时可以只用X荧光探头，适应性较好，同时在该装置的子系统出现故障时，替换和维护也非常方便；而且整体结构简单，功耗较低，所需的电池体积小、重量轻；此外，还具有反应快、抗干扰强、漏检少、功能强、寿命长等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，属于光谱分析

技术介绍
原位X射线荧光光谱分析就是以较高能量的射线束或粒子流直接照射未经任何制备处理的被测物，使之激发并产生特征X射线，将各元素特征谱线分辨并对其强度进行测量，实现定性、定量分析的一种分析技术。X射线荧光光谱分析是一种物理相对测量方法，要想获得准确的测量结果，就必须保持待测样和标准样之间的测量条件完全一致。但对原位X射线荧光光谱分析来说，其被测表面往往呈现凹凸不平状态，且这种凹凸不平的程度是随机的。当把便携式X射线荧光光谱仪探头置于凹凸面测量时，往往不能保持测量的几何条件完全一致，这种由测量表面凹凸不平对测量结果的影响称为不平度效应。该分析技术的显著特点是对被测物不做任何制备处理，保持测试点的原始状态。原位X荧光光谱分析时需考虑不平度效应的影响，在水底，探测对象的表面很可能是凹凸不平甚至更甚的探测面。因此，进行水底原位X射线荧光光谱分析时，其不平度效应可能比在陆地更明显。对于原位X荧光光谱分析时，减小不平度效应对原位X荧光光谱分析影响的最有效的办法就是在测量前对测量面作适当的平整化修整或选择平整面。有鉴于此，本专利技术人对此进行研宄，专门开发出一种水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，本案由此产生。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，解决了在水下原位X荧光光谱分析时的不平度效应问题。为了实现上述目的，本专利技术的解决方案是: 水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，包括X荧光探头、倾角传感器和摄像头，其中，上述倾角传感器和摄像头安装于X荧光探头的同一平面上，既保证倾角传感器所测得的倾角能正确反映测量面的倾斜状况，又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。作为优选，上述X荧光探头、倾角传感器和摄像头三者为可拆卸结构安装，摄像头与倾角传感器各自独立，可以满足不同的测量需求。上述水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置使用时，测量者可在船上或岸上利用该弱化装置的倾角传感器初步测量测量面的倾斜程度，再利用水下工业视频观察测量面平整度来选择合适的测量面，并将位于水底的X荧光探头移动到此测量面测量，从而降低不平度效应对测量结果的影响。本专利技术所述的水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置采用可拆卸的组合式安装，在陆上原位X荧光光谱分析时可以只用X荧光探头，适应性较好，同时在该装置的子系统出现故障时，替换和维护也非常方便；而且整体结构简单，功耗较低，所需的电池体积小、重量轻；此外，还具有反应快、抗干扰强、漏检少、功能强、寿命长等特点。以下结合附图及具体实施例对本专利技术做进一步详细描述。【附图说明】图1为本实施例的水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置结构示意图。【具体实施方式】如图1所示，水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，包括X荧光探头1、倾角传感器2和摄像头3，其中，上述倾角传感器2和摄像头3安装于X荧光探头I的同一平面上，既保证倾角传感器2所测得的倾角能正确反映测量面4的倾斜状况，又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。在本实施例中，所述X荧光探头1、倾角传感器2和摄像头3三者为可拆卸结构安装，摄像头3与倾角传感器I各自独立，可以满足不同的测量需求。其中，X荧光探头I与X荧光光谱分析仪相连，用于探测待测物元素所激发出来的特征X射线，摄像头3采用成熟的工业水下摄像头。上述水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置采用可拆卸的组合式安装，在陆上原位X荧光光谱分析时可以只用X荧光探头1，适应性较好，同时在该装置的子系统出现故障时，替换和维护也非常方便；而且整体结构简单，功耗较低，所需的电池体积小、重量轻；此外，还具有反应快、抗干扰强、漏检少、功能强、寿命长等特点。上述水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置使用时，测量者可在船上或岸上利用该弱化装置的倾角传感器2初步测量测量面4的倾斜程度，再摄像头3观察测量面4平整度来选择合适的测量面，并将位于水底的X荧光探头I移动到此测量面4测量，从而降低不平度效应对测量结果的影响。上述实施例和图式并非限定本专利技术的产品形态和式样，任何所属
的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本专利技术的专利范畴。【主权项】1.水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，其特征在于:包括X荧光探头、倾角传感器和摄像头，其中，上述倾角传感器和摄像头安装于X荧光探头的同一平面上，既保证倾角传感器所测得的倾角能正确反映测量面的倾斜状况，又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。2.如权利要求1所述的水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，其特征在于:上述X荧光探头、倾角传感器和摄像头三者为可拆卸结构安装。【专利摘要】本专利技术公开一种水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，包括X荧光探头、倾角传感器和摄像头，其中，上述倾角传感器和摄像头安装于X荧光探头的同一平面上，既保证倾角传感器所测得的倾角能正确反映测量面的倾斜状况，又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。本专利技术所述的水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置采用可拆卸的组合式安装，在陆上原位X荧光光谱分析时可以只用X荧光探头，适应性较好，同时在该装置的子系统出现故障时，替换和维护也非常方便；而且整体结构简单，功耗较低，所需的电池体积小、重量轻；此外，还具有反应快、抗干扰强、漏检少、功能强、寿命长等特点。【IPC分类】G01N23-223【公开号】CN104833688【申请号】CN201510186280【专利技术人】叶森钢, 卢新祥, 于梅, 金宝根 【申请人】绍兴文理学院【公开日】2015年8月12日【申请日】2015年4月20日本文档来自技高网...

【技术保护点】
水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置，其特征在于：包括X荧光探头、倾角传感器和摄像头，其中，上述倾角传感器和摄像头安装于X荧光探头的同一平面上，既保证倾角传感器所测得的倾角能正确反映测量面的倾斜状况，又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶森钢，卢新祥，于梅，金宝根，
申请(专利权)人：绍兴文理学院，
类型：发明
国别省市：浙江;33