压接测试电路和测试方法及其应用技术

本发明专利技术涉及一种压接测试电路和测试方法及其应用，通过在被压接元件上设置第一跳线区及其连接线路，对被压接元件上的输入端子辅助电路连接；在压接元件上设置第二跳线区及其连接线路，对压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；第一跳线区及其连接线路和第二跳线区及其连接线路使得所有输入端子和所有输出端子之间按照预定连接关系连接；两个总测试端子，形成在第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有输入端子和输出端子的两个测试端；测试按照预定连接关系连接的所有输入端子和对应的所有输出端子之间的总的阻抗值，如果总阻抗和预设的相同，则判断压接成功。通过一次测试就可将压接成功的产品筛选出来，操作简单方便，省时省力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及到平板显示
，具体是一种。
技术介绍
压接工艺是平板显示器制造过程中相当重要的工艺，包括芯片与玻璃基板、柔性线路板与玻璃基板、芯片与柔性线路板、柔性线路板和非柔性线路板之间都会利用压接工艺的技术，实现电气连接和信号的传输。以平板显示器的柔性线路板与玻璃基板压接为例，现有检测压接状况通常是利用显微镜观察压接后导电粒子的破裂状况，以确定柔性线路板与玻璃基板压接后的电气连接效果。然而这种检测方式受人为主观因素影响较大，压接不良可能要到后续电测工序的定量检测后才能检查出来，因此不能及时发现压接工艺的缺陷并进行调整，这样就会降低产品的良率，并造成制造成本的浪费；而且，目前也出现了新的应用，导致无法用显微镜进行观察，例如单片式触摸屏解决方案，黑色油墨完全覆盖压接区域，就无法采用显微镜进行观察的方法。中国专利文献CN102005165A公开了一种压合测试装置和方法，所述压合测试装置包括:被压合元件，具有第一压合部及与所述第一压合部耦接的第一测试端；压合元件，具有第二压合部以及与所述第二压合部耦接的第二测试端，所述压合元件压合于所述第一压合部并具有导通路径；电性测试元件，用于测试所述第一测试端和所述第二测试端之间的电阻值。所述压合测试装置和方法可以节省被压合元件的空间，并减少压合元件的宽度。上述专利文献公开的压合测试装置和方法仅能测试单个端子的压接阻抗，一个器件是否压合成功需要分别对所有的端子逐一进行压合测试，才能确定所有的端子是否压合合格，测试程序复杂、工作量大，费时费力。而且，事实上压合后的大部分产品都是成功的，压合不成功的几率很小，如果像上述专利文献公开的那样对每个产品中的每个端子逐个进行测试，费时费力，无形中增大了平板显示器的制作成本。
技术实现思路
为此，本专利技术所要解决的是现有压合测试方法需要对每个端子进行逐个测试带来的费事费力增加制造成本的技术问题，提供一种测试简便的。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案如下:一种压接测试电路，包括，第一跳线区及其连接线路，设置于被压接元件上，对所述被压接元件上的输入端子辅助电路连接；第二跳线区及其连接线路，设置于压接元件上，对所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按照预定连接关系进行连接；两个总测试端子，形成在所述第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和所述输出端子的两个测试端；其中，所述输入端子与所述输出端子在所述被压接元件和所述压接元件压接成功后具有导通路径。所述的压接测试电路，还包括:三个第一测试端子，每个所述第一测试端子均与所述输入端子大小相同，在所述被压接元件上与所有所述输入端子成排设置，三个所述第一测试端子的一端直接相连；三个第二测试端子，每个所述第二测试端子均与所述输出端子大小相同，在所述压接元件上与所有所述输出端子成排设置于对应所述第一测试端子对应位置处；第一测试端子引出端和第四测试端子引出端，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子相连并分别将该所述第二测试端子引出；第二测试端子引出端和第三测试端子引出端，与位于中间的一个所述第二测试端子相连并将该所述第二测试端子引出。所述的压接测试电路，所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路对所述被压接元件上的输入端子和所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按串联关系进行连接。所述的压接测试电路，所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路对所述被压接元件上的输入端子和所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接，使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按并联关系进行连接。所述的压接测试电路的测试方法，包括如下步骤:用所述电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和对应的所有所述输出端子之间的总的阻抗值；判断测量得到的总的阻抗值与预设的总阻抗值的差别是否在阈值范围内，如果在阈值范围内，则判断相应产品压接成功；否则，判断相应产品压接不成功。所述的压接测试电路的测试方法，还包括以下步骤:设置三个第一测试端子，每个所述第一测试端子均与所述输入端子大小相同，在所述被压接元件上与所有所述输入端子成排设置，三个所述第一测试端子的一端直接相连；设置三个第二测试端子，每个所述第二测试端子均与所述输出端子大小相同，在所述压接元件上与所有所述输出端子成排设置于对应所述第一测试端子对应位置处；设置第一测试端子引出端和第四测试端子引出端，分别与位于两侧的两个所述第二测试端子相连并分别将该所述第二测试端子引出；设置第二测试端子引出端和第三测试端子引出端，与位于中间的一个所述第二测试端子相连并将该所述测试第二端子引出；在所述第一测试端子引出端和所述第二测试端子引出端之间接入电压表，同时在所述第二测试端子引出端和所述第四测试端子引出端之间接入电源和电流表；读取所述电压表和电流表的读数，得到电压值和电流值，用所述电压值比上所述电流值即得到单个端子的阻抗值Rs。所述的压接测试电路的测试方法，所述总的测试端子之间的所述输入端子和输出端子之间串联连接；所述判断压接是否成功的具体步骤如下:判断测量得到的总阻抗值Rt是否小于或者等于K*n*Rs，如果Rt ( K*n*Rs，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中，K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。所述的压接测试电路的测试方法，所述总的测试端子之间的所述输入端子和输出端子之间并联连接；所述判断压接是否成功的具体步骤如下:判断测量得到的总阻抗值Rt是否大于或者等于K*(Rs/n)，如果Rt彡K*(Rs/n)，则判断产品压接成功；否则，判断产品压接不成功；其中，K为调整系数，依据端子设计以及压接工艺来确定；n为端子总数目。一种平板显示器，设置有压接元件和被压接元件，在所述压接元件和所述被压接元件上设置有上述任一所述的压接测试电路。—种平板显示器，所述压接元件和所述被压接元件为芯片与玻璃基板，或者柔性线路板与玻璃基板，或者芯片与柔性线路板，再或者柔性线路板和非柔性线路板。本专利技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:( I)本专利技术的压接测试电路和测试方法中，通过在被压接元件上设置第一跳线区及其连接线路，对所述被压接元件上的输入端子辅助电路连接；在压接元件上设置第二跳线区及其连接线路，对所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按照预定连接关系进行连接；两个总测试端子，形成在所述第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和所述输出端子的两个测试端；测试时通过电性测试元件与两个所述总测试端子相连，测试按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和对应的所有所述输出端子之间的总的阻抗值，如果总阻抗和预设的总阻抗值相同，则可判断压接成功。通过一次测试，就可将压接成功的产品筛选出来，操作简单方便，省时省力。(2)本专利技术的压接测试电路和测试方法中，通过设置单独的第一测试端子和第二测试端子以及对应的第二测试端子引出端，在产品本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种压接测试电路，用于测试被压接元件与压接元件之间的压接，其特征在于，包括，第一跳线区及其连接线路，设置于被压接元件上，对所述被压接元件上的输入端子辅助电路连接；第二跳线区及其连接线路，设置于压接元件上，对所述压接元件上的输出端子进行辅助电路连接；所述第一跳线区及其连接线路和所述第二跳线区及其连接线路使得所有所述输入端子和所有所述输出端子之间按照预定连接关系进行连接；两个总测试端子，形成在所述第二跳线区，用于引出按照预定连接关系连接的所有所述输入端子和所述输出端子的两个测试端；其中，所述输入端子与所述输出端子在所述被压接元件和所述压接元件压接成功后具有导通路径。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王向前，刘巍，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32