晶振检测仪分选机构制造技术

本实用新型专利技术公开一种晶振检测仪分选机构，包括倾斜设置的晶体轨道，所述晶体轨道上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽，所述晶体轨道上设置有检测装置，所述晶体轨道下方设有分选轨道，所述分选轨道上设有与所述晶振通槽相对应吻合的主通槽，所述主通槽的末端分叉为正品通槽和次品通槽，所述主通槽、正品通槽和次品通槽三者交叉连通，所述正品通槽和次品通槽连接位置处设置有使所述主通槽与正品通槽贯通或所述主通槽与次品通槽贯通的拨片。由于本实用新型专利技术在检测仪上安装有分选轨道，分选轨道上设置有铁轨交汇似的主通槽、正品通槽以及次品通槽，其可实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电子器件检测装置领域，具体涉及一种晶振检测仪分选机构。
技术介绍
在电子
的产品生产过程中，经常要用到一种原材料一晶体振荡器，简称晶振，产品生产完成后，如果晶振不起振将会影响设计功能的实现，但是，在生产过程中逐个测量晶振频率所花费的人力物力较大，因此人们设计有晶振检测仪。现有晶振检测仪是由振动盘、晶体轨道以及晶体轨道上的检测机构组合而成，检测后的产品需由人工对合格品或不合格品进行分选，费时费力。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种晶振检测仪分选机构，它能够实现检测晶振后，自动对合格品或不合格品进行分选，省时省力，提高检测效率。本技术所采用的技术方案是:一种晶振检测仪分选机构，包括倾斜设置的晶体轨道，所述晶体轨道上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽，所述晶体轨道上设置有检测装置，所述晶体轨道下方设有分选轨道，所述分选轨道上设有与所述晶振通槽相对应吻合的主通槽，所述主通槽的末端分叉为正品通槽和次品通槽，所述主通槽、正品通槽和次品通槽三者交叉连通，所述正品通槽和次品通槽连接位置处设置有使所述主通槽与正品通槽贯通或所述主通槽与次品通槽贯通的拨片。作为优选，所述正品通槽与次品通槽相互对称。作为优选，所述主通槽、正品通槽和次品通槽形成“人”字形结构。作为优选，所述拨片的两侧均设置有弧形凹陷。本技术的有益效果在于:由于本技术在检测仪上安装有分选轨道，分选轨道上设置有铁轨交汇似的主通槽、正品通槽以及次品通槽，其可实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。【附图说明】图1为本技术的结构示意图。图中:1、晶体轨道；2、晶振通槽；3、检测装置；4、分选轨道；5、主通槽；6、正品通槽；7、次品通槽；8、拨片。【具体实施方式】下面将结合附图及具体实施例对本技术作进一步详细说明。如图1所示，一种晶振检测仪分选机构，包括倾斜设置的晶体轨道1，所述晶体轨道I上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽2，所述晶体轨道I上设置有检测装置3，所述晶体轨道I下方设有分选轨道4，所述分选轨道4上设有与所述晶振通槽2相对应吻合的主通槽5，所述主通槽5的末端分叉为正品通槽6和次品通槽7，所述主通槽5、正品通槽6和次品通槽7三者交叉连通，正品通槽6与次品通槽7相互对称，且主通槽5、正品通槽6和次品通槽7形成“人”字形结构，所述正品通槽6和次品通槽7连接位置处设置有使所述主通槽5与正品通槽6贯通或所述主通槽5与次品通槽7贯通的拨片8。由于本技术在检测仪上安装有分选轨道4，分选轨道4上设置有铁轨交汇似的主通槽5、正品通槽6以及次品通槽7，其可实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。当检测装置3检出合格品时，其通过控制系统控制拨片8向右侧摆动，使主通槽5与正品通槽6贯通，相应合格的晶振会由晶振通槽2进入主通槽5，然后再进入正品通槽6;而当检测装置3检出非合格品时，其通过控制系统控制拨片8向左侧摆动，使主通槽5与次品通槽7贯通，相应非合格的晶振则会由晶振通槽2进入主通槽5，然后再进入次品通槽7。主通槽5、正品通槽6和次品通槽7均为仅供单个晶振依次通行，使得晶振在分选后也依次进入储料装置，避免了晶振在落料过程中乱冲乱撞，起到保护晶振的作用。拨片8的两侧均设置有弧形凹陷，使晶振能够更为顺滑地进入正品通槽6或次品通槽7。以上所述，仅为本技术较佳实施例而已，故不能以此限定本技术实施的范围，即依本技术申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本技术专利涵盖的范围内。【主权项】1.一种晶振检测仪分选机构，包括倾斜设置的晶体轨道(1)，所述晶体轨道(I)上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽(2)，所述晶体轨道(I)上设置有检测装置(3)，其特征在于:所述晶体轨道(I)下方设有分选轨道(4)，所述分选轨道(4)上设有与所述晶振通槽(2)相对应吻合的主通槽(5)，所述主通槽(5)的末端分叉为正品通槽(6)和次品通槽(7 )，所述主通槽(5 )、正品通槽(6 )和次品通槽(7 )三者交叉连通，所述正品通槽(6 )和次品通槽(7)连接位置处设置有使所述主通槽(5)与正品通槽(6)贯通或所述主通槽(5)与次品通槽(7)贯通的拨片(8)。2.根据权利要求1所述的晶振检测仪分选机构，其特征在于:所述正品通槽(6)与次品通槽(7)相互对称。3.根据权利要求2所述的晶振检测仪分选机构，其特征在于:所述主通槽(5)、正品通槽(6)和次品通槽(7)形成“人”字形结构。4.根据权利要求1所述的晶振检测仪分选机构，其特征在于:所述拨片(8)的两侧均设置有弧形凹陷。【专利摘要】本技术公开一种晶振检测仪分选机构，包括倾斜设置的晶体轨道，所述晶体轨道上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽，所述晶体轨道上设置有检测装置，所述晶体轨道下方设有分选轨道，所述分选轨道上设有与所述晶振通槽相对应吻合的主通槽，所述主通槽的末端分叉为正品通槽和次品通槽，所述主通槽、正品通槽和次品通槽三者交叉连通，所述正品通槽和次品通槽连接位置处设置有使所述主通槽与正品通槽贯通或所述主通槽与次品通槽贯通的拨片。由于本技术在检测仪上安装有分选轨道，分选轨道上设置有铁轨交汇似的主通槽、正品通槽以及次品通槽，其可实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。【IPC分类】B07C5-36, B07C5-34【公开号】CN204523600【申请号】CN201520233082【专利技术人】李谦平, 李天春, 王立晖 【申请人】福建省将乐县长兴电子有限公司【公开日】2015年8月5日【申请日】2015年4月17日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶振检测仪分选机构，包括倾斜设置的晶体轨道（1），所述晶体轨道（1）上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽（2），所述晶体轨道（1）上设置有检测装置（3），其特征在于：所述晶体轨道（1）下方设有分选轨道（4），所述分选轨道（4）上设有与所述晶振通槽（2）相对应吻合的主通槽（5），所述主通槽（5）的末端分叉为正品通槽（6）和次品通槽（7），所述主通槽（5）、正品通槽（6）和次品通槽（7）三者交叉连通，所述正品通槽（6）和次品通槽（7）连接位置处设置有使所述主通槽（5）与正品通槽（6）贯通或所述主通槽（5）与次品通槽（7）贯通的拨片（8）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李谦平，李天春，王立晖，
申请(专利权)人：福建省将乐县长兴电子有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35