本发明专利技术属于瓷砖表面平整度激光检测技术领域，具体地说是一种滑动式瓷砖表面平整度检测装置及其方法。包括激光发射模块、感应光电触发模块、瓷砖传动模块及数据处理模块，其中瓷砖传动模块用于传送被测陶瓷砖，所述激光发射模块设置于瓷砖传动模块的上方、并与数据处理模块连接，所述激光发射模块产生激光束，并获得被测陶瓷砖的表面与激光发射模块间的距离信息，所述数据处理模块用于处理显示采集到的被测陶瓷砖的表面特征点数据并进行声光提示，所述感应光电触发模块设置于瓷砖传动模块的侧面，所述感应光电触发模块用于同步激光发射模块发射激光的时间。本发明专利技术调节方便、安装维修便捷，工作稳定可靠，可以实现对不同尺寸规格的瓷砖平整度的简单、快速以及高精度的检测。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于瓷砖表面平整度激光检测
，具体地说是一种滑动式瓷砖表面 平整度检测装置及其方法。
技术介绍
我国每年瓷砖的产量占世界的50%以上，位列瓷砖生产大国。据不完全统计，我国 年产百万平米以上甚至达千万平方米的大中型瓷砖企业已有800多家，加上小型企业，瓷 砖企业的数量达数千家。目前，我国室内陶瓷墙地砖的产量占世界总产量的33. 7%，建筑陶 瓷砖与卫生陶瓷砖的产量已连续8年位居世界第一。然而，瓷砖的质量与日本、英国、意大 利等发达国家相比，多为低中档产品，难与国际接轨。最为制约我国瓷砖产品质量的因素是 缺少现代化的自动生产和检测设备。虽然近年来我国的瓷砖生产机械发展迅猛，所采用的 生产线和生产设备已经由原来的完全进口到现在的进口与国产并存，但瓷砖的检测方法和 设备多年未更新，尤其是自动检测装置至今仍是我国陶瓷机械行业的一个空白。个别进口 的瓷砖平整度自动分检系统不适用于质量参差不齐的瓷砖检测，因此没有真正付诸使用甚 至束之高阁。 表面平整度是衡量瓷砖质量的重要的几何精度之一。平整度测量的方法主要可以 分为接触式和非接触式两大类。目前广泛采用的平台塞尺法是一种依赖手工操作的接触 式瓷砖测量方法，首先将一把直尺靠在瓷砖表面的测量位置，然后用塞尺测量直尺下的间 隙，根据测量要求选取不同的测量位置，从而测得瓷砖表面的平整度值。平台塞尺法主要存 在以下弊端：一方面传统的接触式测量技术主要依靠人工经验和熟练程度，跟不上现代瓷 砖企业非接触的测量要求，已成为制约生产效率和加工精度的制主要因素；另一方面，离线 静态的测量技术满足不了现代加工中在线动态的测量要求，无法及时控制生产过程，经常 出现检测不及时导致废品的情况，严重影响了产品的质量，最终严重影响企业的经济效益。 总之，接触式平整度检测方法存在检测速度慢、劳动强度大以及依赖主观经验，检测错误较 高，瓷砖出厂质量受限，产品技术含量低等弊端。而限于瓷土配料、生产工艺、流程控制、价 格等方面存在国情上的差异，国外非接触式的瓷砖自动检测系统无法在国内得到实际应 用，严重制约了产品档次的提高及出口能力的增强，成为阻碍产品品质提升的最大瓶颈，是 瓷砖行业中亟需攻克的技术问题。 国内庞大的瓷砖企业对瓷砖表面平整度检测装置的需求潜力巨大，采用高新的瓷 砖表面平整度检测技术，结合国际先进检测及计算机设备，研制并开发智能化较高的瓷砖 表面平整度检测方法以及装置，对填补国内空白、满足我国瓷砖行业技术装备现代化需求 有着重要的社会经济意义，此外可以推动我国瓷砖行业的整体自动化水平。 综上所述，开发一种适合我国瓷土配料、生产工艺、流程控制、价格等方面的瓷砖 平整度检测方法及装置，不仅可以节省劳动力以及减轻工人劳动强度，将同时可以提高检 测精度，提升瓷砖产品质量。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术的目的在于提供一种滑动式瓷砖表面平整度检测装置及其 方法。 为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案： -种滑动式瓷砖表面平整度检测装置，包括激光发射模块、感应光电触发模块、瓷 砖传动模块及数据处理模块，其中瓷砖传动模块用于传送被测陶瓷砖，所述激光发射模块 设置于瓷砖传动模块的上方、并与数据处理模块连接，所述激光发射模块产生激光束，并获 得被测陶瓷砖的表面与激光发射模块间的距离信息，所述数据处理模块用于处理显示采集 到的被测陶瓷砖的表面特征点数据并进行声光提示，所述感应光电触发模块设置于瓷砖传 动模块的侧面，所述感应光电触发模块用于同步激光发射模块发射激光的时间。 所述瓷砖传动模块包括驱动电机、光电编码器、皮带及传动滚筒，其中驱动电机的 输出端通过皮带与传动滚筒传动连接，所述驱动电机与光电编码器连接，所述光电编码器 与数据处理模块连接，所述光电编码器用于输出驱动电机的速度脉冲信号。 所述激光发射模块包括基座、激光位移传感器、滑块及激光器导轨，其中激光器导 轨垂直于瓷砖传动方向设置于瓷砖传动模块的上方，所述激光器导轨上连接有多个滑块， 各滑块上通过基座安装激光位移传感器，所述激光位移传感器与数据处理模块连接。所述 激光位移传感器为三个。所述激光器导轨上设有标尺。 所述感应光电触发模块包括第一感应光电开关、第二感应光电开关及第三感应光 电开关，其中第一感应光电开关和第三感应光电开关分别设置于皮带的两端，用于防止待 测瓷砖掉落，所述第二感应光电开关设置于皮带的中间、并与激光发射模块相对应，用于同 步激光发射模块发射激光的时间。所述第一感应光电开关、第二感应光电开关及第三感应 光电开关均包括感应光电发射器和感应光电接收器，所述感应光电发射器和感应光电接收 器分别对称设置于皮带的两侧。 所述数据处理模块包括单片机、报警装置及上位机软件，所述单片机与上位机软 件连接，所述激光发射模块与单片机连接，所述报警装置与单片机连接。 一种滑动式瓷砖表面平整度的检测方法，被测陶瓷砖通过瓷砖传动模块输送至与 感应光电触发模块相对应的位置时，所述感应光电触发模块触发激光发射模块发射与被测 陶瓷砖表面垂直的共面激光束，所述激光发射模块获取被测陶瓷砖表面特征点到激光发射 模块的距离、并将距离值传给数据处理模块的单片机，所述单片机进行处理，得出被测陶瓷 砖表面平整度的评价值。 所述被测陶瓷砖的表面均布九个特征点，所述激光发射模块中的相邻两个激光位 移传感器之间的距离通过滑块在导轨上滑动来实现、并由导轨上的标尺的刻度确定各激光 位移传感器的精确位置。 本专利技术的优点及有益效果是： 本专利技术调节方便、安装维修便捷，工作稳定可靠，可以实现对不同尺寸规格的瓷砖 平整度的简单、快速以及高精度的检测。【附图说明】 图1是本专利技术中激光传感器特征点分布图； 图2是本专利技术的结构示意图； 图3a是本专利技术检测流程的俯视图之一； 图3b是本专利技术检测流程的俯视图之二； 图3c是本专利技术检测流程的俯视图之三； 图4是本专利技术中平台导轨的结构示意图； 图5是被测陶瓷砖的中心弯曲度示意图； 图6是被测陶瓷砖的翘曲度示意图； 图7是被测陶瓷砖的边弯曲度示意图。 其中：1为第一感应光电开关，2为第二感应光电开关，3为第三感应光电开关，4为 被测陶瓷砖，5为导轨，6为激光位移传感器，7为驱动电机，8为光电编码器，9为单片机，10 为皮带，11为传动滚筒，12为第一激光位移传感器，13为第二激光位移传感器，14为第三激 光位移传感器，15为第一感应光电发射器，16为第一感应光电接收器，17为第二感应光电 发射器，18为第二感应光电接收器器，19为第三感应光电发射器，20为第三感应光电接收 器,21为标尺,22为第一滑块,23为第二滑块,24为第三滑块,25为第一激光器基座,26为 第二激光器基座，27为第三激光器基座，28为报警装置，29为上位机软件。【具体实施方式】 下面结合附图对本专利技术作进一步描述。 如图2、图4所示，本专利技术一种滑动式瓷砖表面平整度检测装置，包括激光发射模 块、感应光电触发模块、瓷砖传动模块及数据处理模块，其中瓷砖传动模块用于传送被测陶 瓷砖4,所述激光发射模块设置于瓷砖传动模块的上方、并与数据处理模块连接，所述激光 发射模块产生激光束，并获得被测陶瓷砖4的表面与激光发射模块间的距离信息，所述数 据处理模块用于处理显本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种滑动式瓷砖表面平整度检测装置，其特征在于：包括激光发射模块、感应光电触发模块、瓷砖传动模块及数据处理模块，其中瓷砖传动模块用于传送被测陶瓷砖(4)，所述激光发射模块设置于瓷砖传动模块的上方、并与数据处理模块连接，所述激光发射模块产生激光束，并获得被测陶瓷砖(4)的表面与激光发射模块间的距离信息，所述数据处理模块用于处理显示采集到的被测陶瓷砖(4)的表面特征点数据并进行声光提示，所述感应光电触发模块设置于瓷砖传动模块的侧面，所述感应光电触发模块用于同步激光发射模块发射激光的时间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：姜迈，梁炜，张晓玲，于海斌，杨雨沱，
申请(专利权)人：中国科学院沈阳自动化研究所，
类型：发明
国别省市：辽宁;21
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